[发明专利]半导体元件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110358809.1 申请日: 2021-04-02
公开(公告)号: CN113497086A 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 林昌杰 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22;H01L43/08;H01L43/12
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制备 方法
【说明书】:

本公开提供一种半导体元件及该半导体元件的制备方法。该半导体元件包括一基底;一鳍件,位在该基底上;一栅极结构,位在该鳍件上;一对源极/漏极区,位在该鳍件的两侧上;以及一磁性存储结构,位在该漏极区上并邻近该栅极结构;其中,该存储结构包含一下铁磁层、一通道阻障层以及一下铁磁层,该下铁磁层位在该漏极区上且具有可变磁极、该通道阻障层位在该下铁磁层上,该上铁磁层位在该通道阻障层上且具有固定磁极。

技术领域

本申请案主张2020年4月3日申请的美国正式申请案第16/839,838号的优先权及益处,该美国正式申请案的内容以全文引用的方式并入本文中。

本公开涉及一种半导体元件以及该半导体元件的制备方法。特别是涉及一种具有嵌入式磁性存储结构的半导体元件,以及具有该嵌入式磁性存储结构的该半导体元件的制备方法。

背景技术

半导体元件是使用在不同的电子应用,例如个人电脑、手机、数码相机,或其他电子设备。半导体元件的尺寸是逐渐地变小,以符合计算能力所逐渐增加的需求。然而,在尺寸变小的制程期间,是增加不同的问题,且如此的问题在数量与复杂度上持续增加。因此,仍然持续着在达到改善品质、良率、效能与可靠度以及降低复杂度方面的挑战。

上文的“先前技术”说明仅是提供背景技术,并未承认上文的“先前技术”说明揭示本公开的标的,不构成本公开的先前技术,且上文的“先前技术”的任何说明均不应作为本案的任一部分。

发明内容

本公开的一实施例提供一种半导体元件,包括:一基底;一鳍件,位在该基底上;一栅极结构,位在该鳍件上;一对源极/漏极区,位在该鳍件的两侧上;以及一磁性存储结构,位在该漏极区上并邻近该栅极结构;其中,该存储结构包含一下铁磁层、一通道阻障层以及一上铁磁层,该下铁磁层位在该漏极区上且具有可变磁极、该通道阻障层位在该下铁磁层上,该上铁磁层位在该通道阻障层上且具有固定磁极。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括一下电极,位在该下铁磁层下方并邻近该栅极结构,其中该下电极的一宽度大于该下铁磁层的一宽度。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括一上电极,位在该上铁磁层上方并邻近该栅极结构,其中该上电极包含氮化钛、氮化钽、钛、钽或其组合。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括一存储节点接触点,电性耦接该下电极及该漏极区;二存储间隙子,位在该栅极结构的两侧。

在本公开的一些实施例中,该栅极结构包括一栅极隔离层、一栅极导电层以及一栅极填充层,该栅极隔离层位在该鳍件上,该栅极导电层位在该栅极隔离层上,该栅极填充层位在该栅极导电层上。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括一位元线接触点,位在该对源极/漏极的一源极区上;一抗铁磁层,设置在该上铁磁层与该通道阻障层之间。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括多个鳍件,沿着一第一方向延伸;多个栅极结构,位在该多个鳍件上,并沿着一第二方向延伸,该第二方向不同于该第一方向;以及多个存储结构,沿着该第二方向而被一隔离材料所分开,并位在二相邻栅极结构之间。

在本公开的一些实施例中,该多个栅极结构具有多个平坦上表面以及多个突部,所述突部朝向位在二相邻鳍件之间的该基底。

本公开的一实施例提供一种半导体元件,包括:一基底;多个纳米线,位在该基底的一表面上,并平行于该基底的该表面,其中该多个纳米线包括多个通道区以及多个源极/漏极区,而所述源极/漏极区位在每一通道区的两侧上;一栅极堆叠,围绕所述通道区设置;以及一磁性存储结构,位在该多个纳米线的其中一漏极区上,并位在邻近该栅极堆叠处;其中,该存储结构包括一下铁磁层、一通道阻障层以及一上铁磁层,该下铁磁层位在该漏极区上,该通道阻障层位在该下铁磁层上,该上铁磁层位在该通道阻障层上。

在本公开的一些实施例中,该多个纳米线垂直设置。

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