[发明专利]半导体元件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110358791.5 申请日: 2021-04-02
公开(公告)号: CN113497041A 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 杨圣辉 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制备 方法
【说明书】:

本公开提供一种半导体元件及该半导体元件的制备方法。该半导体元件具有一基底、一鳍件、一栅极结构、一对源极/漏极区、一介电层以及一存储导电层,该鳍件位在该基底上,该栅极结构位在该鳍件上,该对源极/漏极区位在该鳍件的两侧上,该介电层位在该漏极区上并邻近该栅极结构,该存储导电层位在该介电层上。该漏极区、该介电层以及该存储导电层形成一存储结构。

技术领域

本申请案主张2020年4月3日申请的美国正式申请案第16/839,214号的优先权及益处,该美国正式申请案的内容以全文引用的方式并入本文中。

本公开涉及一种半导体元件以及该半导体元件的制备方法。特别是涉及一种具有嵌入式动态存取存储器的半导体元件,以及具有该嵌入式动态存取存储器的该半导体元件的制备方法。

背景技术

半导体元件是使用在不同的电子应用,例如个人电脑、手机、数码相机,或其他电子设备。半导体元件的尺寸是逐渐地变小,以符合计算能力所逐渐增加的需求。然而,在尺寸变小的制程期间,是增加不同的问题,且如此的问题在数量与复杂度上持续增加。因此,仍然持续着在达到改善品质、良率、效能与可靠度以及降低复杂度方面的挑战。

上文的“先前技术”说明仅是提供背景技术,并未承认上文的“先前技术”说明揭示本公开的标的,不构成本公开的先前技术,且上文的“先前技术”的任何说明均不应作为本案的任一部分。

发明内容

本公开的一实施例提供一种半导体元件,具有一基底;一鳍件,位在该基底上;一栅极结构,位在该鳍件上;一对源极/漏极区,位在该鳍件的两侧上;一介电层,位在该漏极区上并邻近该栅极结构;以及一存储导电层,位在该介电层上;其中,该漏极区、该介电层以及该存储导电层形成一存储结构。

在本公开的一些实施例中,该栅极结构包括一栅极隔离层、一栅极导电层以及一栅极填充层,该栅极隔离层位在该鳍件上,该栅极导电层位在该栅极隔离层上,该栅极填充层位在该栅极导电层上。

在本公开的一些实施例中,该栅极隔离层与该介电层为一体成形,且该栅极导电层与该存储导电层为一体成形。

在本公开的一些实施例中,该栅极隔离层与该介电层由相同材料所制,且该栅极导电层与该存储导电层由相同材料所制。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括一栅极间隙子以及一存储间隙子,该栅极间隙子位在该栅极结构的其中一侧,该存储间隙子位在该存储结构的其中一侧。

在本公开的一些实施例中,该栅极间隙子与该存储间隙子将该栅极结构与该存储结构分开。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括一栅极间隙子以及一位元线接触点,该栅极间隙子位在该栅极结构的其中一侧,该位元线接触点位在该对源极/漏极的一源极区上,该栅极间隙子将该栅极结构与该位元线接触点分开。

在本公开的一些实施例中,该栅极导电层与该存储导电层具有相同高度。

在本公开的一些实施例中,该半导体元件还包括:多个鳍件,沿着一第一方向延伸;多个栅极结构,位在该多个鳍件上,并沿着一第二方向延伸,该第二方向不同于该第一方向;以及多个存储结构,沿着该第二方向而被一隔离材料所分开,并位在二相邻栅极结构之间。

在本公开的一些实施例中,该多个栅极结构具有多个平坦上表面以及多个突部,所述突部朝向位在二相邻鳍件之间的该基底。

本公开的另一实施例提供一种半导体元件,具有一基底;多个纳米线,位在该基底的一表面上,并平行于该基底的该表面,其中该多个纳米线包括多个通道区以及多个源极/漏极区,而所述源极/漏极区位在每一通道区的两侧上;一栅极堆叠,围绕所述通道区设置;以及一存储结构,位在该多个纳米线的其中一漏极区上,并位在邻近该栅极堆叠处;其中,该存储结构包括一下导电层、一介电层以及一上导电层,该下导电层位在该漏极区上,该介电层位在该下导电层上,该上导电层位在该介电层上。

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