[发明专利]腔室及半导体制造设备有效

专利信息
申请号: 202110191946.0 申请日: 2021-02-20
公开(公告)号: CN112941624B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 李晓军 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: C30B25/08 分类号: C30B25/08;C30B25/10;C30B25/16;C30B28/14;C30B29/36;H01L21/02
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 施敬勃
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 半导体 制造 设备
【说明书】:

发明公开一种腔室及半导体制造设备,所公开的腔室包括腔室本体(100);所述腔室本体(100)包括顶板(110)、底板(120)和两个侧板(130),所述顶板(110)、所述底板(120)和两个所述侧板(130)围成反应空间(140),所述顶板(110)和所述底板(120)相对设置,两个所述侧板(130)相对设置,两个所述侧板(130)分别可拆卸地设置于所述顶板(110)和所述底板(120)之间。上述方案能够解决腔室表面的附着物清除难度较大的问题。

技术领域

本发明涉及半导体芯片制造技术领域,尤其涉及一种腔室及半导体制造设备。

背景技术

外延晶片是半导体晶片的表面上气相生长外延层而成的晶片。相关技术中,半导体制造设备的腔室通常为圆柱形结构,腔室内可以通过入CH4和SiH4等工艺气体,CH4和SiH4等工艺气体在腔室内发生反应,进而在晶片上生长碳化硅外延膜。

工艺气体在腔室内反应时,碳化硅以及工艺气体的其他副产物,会附着在腔室的内壁上,因此操作人员需要定期对这些附着物进行清理。

然而,由于腔室内部的空间较小,进而使得操作人员在清除腔室的附着物时操作不便,同时腔室通常为圆柱形结构,因此腔室的内壁为曲面,曲面上的附物清除难度较大,因此造成操作人员在清除腔室表面的附着物时难度较大。

发明内容

本发明公开一种腔室及半导体制造设备,以解决腔室表面的附着物清除难度较大的问题。

为了解决上述问题,本发明采用下述技术方案:

一种腔室,用于半导体制造设备,包括腔室本体;

所述腔室本体包括顶板、底板和两个侧板,所述顶板、所述底板和两个所述侧板围成反应空间,所述顶板和所述底板相对设置,两个所述侧板相对设置,两个所述侧板分别可拆卸地设置于所述顶板和所述底板之间。

一种半导体制造设备,包括上述的腔室。

本发明采用的技术方案能够达到以下有益效果:

本发明公开的腔室中,腔室本体包括顶板、底板和两个侧板,顶板、底板和两个侧板围成反应空间,顶板和底板相对设置,两个侧板相对设置,两个侧板分别可拆卸地设置于顶板和底板之间。此方案中,两个侧板分别可拆卸地设置于顶板和底板之间,此时顶板、底板和两个侧板均可以实现单独拆卸,因此操作人员在清除附着物时,可以将顶板、底板或者两个侧边拆卸下来,进行清理,进而使得操作人员不受空间的限制,因此使得操作人员操作更加方便,同时顶板、底板和侧板均为板状结构件,因此其表面为平面,进而使得附着物清除更加容易,以降低腔室表面附着物的清除难度。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:

图1为本发明实施例公开的腔室的爆炸图;

图2为本发明实施例公开的腔室的剖视图;

图3至图7为本发明实施例公开的腔室的结构示意图;

图8和图9为本发明实施例公开的腔室的第一板体的结构示意图;

图10和图11为本发明实施例公开的腔室的第二板体的结构示意图;

图12至图15为本发明实施例公开的腔室的底板的结构示意图;

图16至图20为本发明实施例公开的腔室的保温部的部分部件的结构示意图;

图21至图23为本发明实施例公开的腔室的挡板的结构示意图。

附图标记说明:

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