[发明专利]腔室及半导体制造设备有效
申请号: | 202110191946.0 | 申请日: | 2021-02-20 |
公开(公告)号: | CN112941624B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 李晓军 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | C30B25/08 | 分类号: | C30B25/08;C30B25/10;C30B25/16;C30B28/14;C30B29/36;H01L21/02 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 施敬勃 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 制造 设备 | ||
本发明公开一种腔室及半导体制造设备,所公开的腔室包括腔室本体(100);所述腔室本体(100)包括顶板(110)、底板(120)和两个侧板(130),所述顶板(110)、所述底板(120)和两个所述侧板(130)围成反应空间(140),所述顶板(110)和所述底板(120)相对设置,两个所述侧板(130)相对设置,两个所述侧板(130)分别可拆卸地设置于所述顶板(110)和所述底板(120)之间。上述方案能够解决腔室表面的附着物清除难度较大的问题。
技术领域
本发明涉及半导体芯片制造技术领域,尤其涉及一种腔室及半导体制造设备。
背景技术
外延晶片是半导体晶片的表面上气相生长外延层而成的晶片。相关技术中,半导体制造设备的腔室通常为圆柱形结构,腔室内可以通过入CH4和SiH4等工艺气体,CH4和SiH4等工艺气体在腔室内发生反应,进而在晶片上生长碳化硅外延膜。
工艺气体在腔室内反应时,碳化硅以及工艺气体的其他副产物,会附着在腔室的内壁上,因此操作人员需要定期对这些附着物进行清理。
然而,由于腔室内部的空间较小,进而使得操作人员在清除腔室的附着物时操作不便,同时腔室通常为圆柱形结构,因此腔室的内壁为曲面,曲面上的附物清除难度较大,因此造成操作人员在清除腔室表面的附着物时难度较大。
发明内容
本发明公开一种腔室及半导体制造设备,以解决腔室表面的附着物清除难度较大的问题。
为了解决上述问题,本发明采用下述技术方案:
一种腔室,用于半导体制造设备,包括腔室本体;
所述腔室本体包括顶板、底板和两个侧板,所述顶板、所述底板和两个所述侧板围成反应空间,所述顶板和所述底板相对设置,两个所述侧板相对设置,两个所述侧板分别可拆卸地设置于所述顶板和所述底板之间。
一种半导体制造设备,包括上述的腔室。
本发明采用的技术方案能够达到以下有益效果:
本发明公开的腔室中,腔室本体包括顶板、底板和两个侧板,顶板、底板和两个侧板围成反应空间,顶板和底板相对设置,两个侧板相对设置,两个侧板分别可拆卸地设置于顶板和底板之间。此方案中,两个侧板分别可拆卸地设置于顶板和底板之间,此时顶板、底板和两个侧板均可以实现单独拆卸,因此操作人员在清除附着物时,可以将顶板、底板或者两个侧边拆卸下来,进行清理,进而使得操作人员不受空间的限制,因此使得操作人员操作更加方便,同时顶板、底板和侧板均为板状结构件,因此其表面为平面,进而使得附着物清除更加容易,以降低腔室表面附着物的清除难度。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为本发明实施例公开的腔室的爆炸图;
图2为本发明实施例公开的腔室的剖视图;
图3至图7为本发明实施例公开的腔室的结构示意图;
图8和图9为本发明实施例公开的腔室的第一板体的结构示意图;
图10和图11为本发明实施例公开的腔室的第二板体的结构示意图;
图12至图15为本发明实施例公开的腔室的底板的结构示意图;
图16至图20为本发明实施例公开的腔室的保温部的部分部件的结构示意图;
图21至图23为本发明实施例公开的腔室的挡板的结构示意图。
附图标记说明:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京北方华创微电子装备有限公司,未经北京北方华创微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110191946.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种数据分析方法、装置、电子设备以及存储介质
- 下一篇:糖尿病足足部减压装置