[实用新型]一种半导体封装设备有效
申请号: | 202022679974.0 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN213093179U | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 李月君;周艳红 | 申请(专利权)人: | 华东交通大学 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/56;H01L21/60 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 何世磊 |
地址: | 330013 江西省南*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 封装 设备 | ||
1.一种半导体封装设备,包括机台,其特征在于:所述半导体封装设备还包括设于所述机台之上的焊线机构、塑封机构与第一传送手臂,所述第一传送手臂设于所述焊线机构与塑封机构之间,用于将所述焊线机构加工后的晶圆传送至所述塑封机构内;
所述焊线机构包括空心结构的第一壳体,所述第一壳体内设有用于承载所述晶圆的第一承台、对所述晶圆进行预热的第一控温单元、对预热后的所述晶圆进行焊线的焊线器具;
所述塑封机构包括空心结构的第二壳体,所述第二壳体内设有用于承载所述晶圆的第二承台,对所述晶圆进行预热的第二控温单元、对预热后的所述晶圆进行塑封的塑封器具。
2.根据权利要求1所述的半导体封装设备,其特征在于:所述第一传送手臂的端部设有伯努利吸盘,所述第一传送手臂将所述第一承台之上的所述晶圆吸取,并将已被吸取的所述晶圆放置于所述第二承台之上。
3.根据权利要求2所述的半导体封装设备,其特征在于:所述焊线机构与所述塑封机构之间设有中转平台,所述第一传送手臂将所述第一承台之上的所述晶圆吸取后放置于所述中转平台之上,所述第一传送手臂将所述中转平台之上的所述晶圆吸取放置于所述第二承台之上。
4.根据权利要求3所述的半导体封装设备,其特征在于:所述中转平台的底部设有用于对所述晶圆进行预热的第三控温单元。
5.根据权利要求3所述的半导体封装设备,其特征在于:所述焊线机构的数量多于所述塑封机构的数量,每个所述第一承台之上的所述晶圆均通过所述第一传送手臂吸取并放置于所述中转平台之上,所述第一传送手臂将所述中转平台上的所述晶圆吸取放置于所述第二承台之上。
6.根据权利要求1所述的半导体封装设备,其特征在于:所述第一控温单元设于所述第一承台的内部。
7.根据权利要求1所述的半导体封装设备,其特征在于:所述第二控温单元设于所述第二承台的内部。
8.根据权利要求1所述的半导体封装设备,其特征在于:所述半导体封装设备还包括盖设于所述机台之上的保护罩。
9.根据权利要求8所述的半导体封装设备,其特征在于:所述保护罩在临近所述焊线机构的侧面设有进料通道,所述保护罩在临近所述塑封机构的侧面设有出料通道。
10.根据权利要求9所述的半导体封装设备,其特征在于:所述半导体封装设备还包括设于所述机台之上的第二传送手臂与第三传送手臂,所述第二传送手臂设于所述进料通道与所述焊线机构之间,所述第三传送手臂设于所述出料通道与所述塑封机构之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造