[发明专利]半导体薄膜的沉积设备和沉积方法有效
申请号: | 202010584724.0 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN113832449B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 杨德赞;谭华强;王燚;刘闻敏;魏有雯 | 申请(专利权)人: | 拓荆科技股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/458 | 分类号: | C23C16/458;C23C16/455;C23C16/46 |
代理公司: | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 | 代理人: | 程晓 |
地址: | 110179 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 薄膜 沉积 设备 方法 | ||
本发明是关于一种半导体薄膜的沉积设备和沉积方法,包括腔体和盖板,加热盘,加热盘通过支撑杆支撑,还包括:晶圆升降机构设置于腔体内;水平调节机构设置于腔体外;晶圆升降机构包括:同心定位盘设置于腔体内,位于加热盘的下方;同心调整手,通过板簧设置于同心定位盘的边缘上,与同心定位盘活动连接,同心调整手包括平行设置的第一横板第二横板和竖板;顶针支板,设置于加热盘和第二横板之间,均匀设有多个顶针;蓝宝石玻璃,设置于顶针支板的下方;动力单元,通过支杆与顶针支板连接,支杆贯穿腔体。保证晶圆与加热盘和喷淋板的同心设置,以及三者平行度,从而提高晶圆的薄膜沉积质量,提高产品的成品率,进而提高企业的经济性。
技术领域
本发明涉及半导体薄膜沉积技术领域,尤其涉及一种半导体薄膜的沉积设备和沉积方法。
背景技术
对于半导体薄膜沉积设备,目前产能较高且应用广泛的产品为直径300毫米的硅晶圆衬底,对于直径300毫米的晶圆的沉积,薄膜沉积设备中与晶圆直接或间接接触的零部件通常设置为圆形,例如真空腔体、真空腔体内部的零件加热盘(下基板)、喷淋板(上极板)等。通过这样设置,能够使晶圆表面沉积的薄膜比较均匀,且真空腔体内部体积相对最小。晶圆与这些圆形部件的同心情况或平行位置,则会极大影响到薄膜沉积的质量。
因此,有必要开发一种半导体薄膜的沉积设备和沉积方法,在真空环境下,通过调整晶圆与加热盘(下基板)、喷淋板(上极板)同轴度及平行度,进而能够有效地提高薄膜沉积质量。
发明内容
本发明旨在解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
为此本发明的第一方面提出了一种半导体薄膜的沉积设备。
本发明的第二方面提出了一种半导体薄膜的沉积方法。
有鉴于此,本发明的第一方面提出了一种半导体薄膜的沉积设备,所述沉积设备包括腔体和设置于腔体上方的盖板,所述腔体的中心处设有加热盘,所述加热盘通过支撑杆支撑,所述沉积设备还包括:
晶圆升降机构,设置于所述腔体的内部;
水平调节机构,设置于所述腔体的外部;
其中,所述晶圆升降机构包括:
同心定位盘,设置于所述腔体内,所述同心定位盘位于所述加热盘的下方,所述同心定位盘的尺寸与所述腔体的尺寸相匹配;
同心调整手,通过板簧设置于所述同心定位盘的边缘上,所述同心调整手与所述同心定位盘活动连接,所述同心调整手包括平行设置的第一横板和第二横板,以及连接所述第一横板和所述第二横板的竖板,所述加热盘设置于所述第一横板和所述第二横板之间;
顶针支板,设置于所述加热盘和所述第二横板之间,所述顶针支板上均匀设有多个顶针;
蓝宝石玻璃,设置于所述顶针支板的下方;
动力单元,通过支杆与所述顶针支板连接,所述支杆贯穿所述腔体。
进一步地,所述水平调节机构包括:
X轴旋转弧形座,设置于所述支撑杆的下端;
第一伺服电机,与所述第一减速器连接,所述第一减速器的输出轴上设有第一偏心凸轮,所述第一偏心轮与所述X轴旋转弧形座匹配设置;
Y轴旋转弧形座,设置于所述支撑杆的下端,所述Y轴旋转弧形座位于所述X轴旋转弧形座的下方;
第二伺服电机,与所述第二减速器连接,所述第二减速器的输出轴上设有第二偏心轮,所述第二偏心轮与所述Y轴旋转弧形座匹配设置。
进一步地,所述沉积设备还包括:
吸附机构,设置于所述加热盘上。
进一步地,所述沉积设备还包括:
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的