[发明专利]显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置

权利要求书

1.一种显示基板，包括显示区域、位于显示区域周边的走线区以及用于进行点灯检测的电学检测区域，所述走线区包括设置有多个绑定引脚的绑定引脚区域，其特征在于，所述显示基板还包括：

与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；

测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；

第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号；

第二控制开关，所述第二控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号，所述第二控制开关与所述第一控制开关之间的距离大于0.1mm；

所述电学检测区域的左右两侧各设置一个第一控制开关和一个测试数据线；

所述绑定引脚区域的左右两侧各设置一个所述第二控制开关。

2.一种显示基板的检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1所述的显示基板，所述检测方法包括：

通过所述第一控制开关控制所有的开关薄膜晶体管打开；

向所述测试数据线输入电信号，若显示基板显示出现异常，则判断所述测试引脚出现损伤。

3.根据权利要求2所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：

向所述测试数据线输入电信号后，通过所述第二控制开关控制所有的开关薄膜晶体管关闭。

4.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1所述的显示基板。

5.一种显示基板的制作方法，所述显示基板包括显示区域、位于显示区域周边的走线区以及用于进行点灯检测的电学检测区域，所述走线区包括设置有多个绑定引脚的绑定引脚区域，其特征在于，所述制作方法包括：

形成与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；

形成测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；

形成第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号；

形成第二控制开关，所述第二控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号，所述第二控制开关与所述第一控制开关之间的距离大于0.1mm；

在所述电学检测区域的左右两侧各形成一个第一控制开关和一个测试数据线；

在所述绑定引脚区域的左右两侧各形成一个所述第二控制开关。