[发明专利]半导体结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201880097214.1 申请日: 2018-09-07
公开(公告)号: CN113169227A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 程凯;刘凯 申请(专利权)人: 苏州晶湛半导体有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/338;H01L21/205
代理公司: 北京布瑞知识产权代理有限公司 11505 代理人: 孟潭
地址: 215123 江苏省苏州市苏州工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种形成半导体结构的方法,其特征在于,包括:

提供衬底;

在所述衬底上形成不连续金属原子层;

在所述不连续金属原子层上形成外延层,其中,在所述外延层的生长过程中,将所述不连续金属原子层中的金属原子驱入到所述外延层中,使得所述外延层的至少一部分掺杂有金属原子。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

在所述衬底和所述不连续金属原子层之间形成成核层。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述成核层包括GaN、AlN、AlGaN、AlInGaN或其组合。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述外延层包括GaN、AlN、AlGaN、AlInGaN或其组合。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述不连续金属原子层中的金属包括Fe、Mn、Sb、Bi、Cd、Zn、Mg、Na或其组合。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

在所述外延层上形成异质结,以及

在所述异质结上形成栅极结构,源极接触和漏极接触。

7.一种半导体结构,其特征在于,包括:

衬底;

设置在所述衬底上的外延层,其中,所述外延层包括设置在所述衬底上的掺杂有金属原子的金属掺杂层,所述金属原子的掺杂浓度从所述金属掺杂层的下表面到上表面逐渐降低,所述金属掺杂层的下表面的金属原子的掺杂浓度高于1×1017atoms/cm3

8.根据权利要求7所述的半导体结构,其特征在于,还包括:

设置在所述衬底和所述金属掺杂层之间的成核层。

9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述成核层包括GaN、AlN、AlGaN、AlInGaN或其组合。

10.根据权利要求7所述的半导体结构,其特征在于,所述外延层包括AlN、AlGaN、AlInN、AlInGaN或其组合。

11.根据权利要求7所述的半导体结构,其特征在于,所述金属原子包括Fe、Mn、Sb、Bi、Cd、Zn、Mg、Na或其组合。

12.根据权利要求7所述的半导体结构,其特征在于,还包括:

设置在所述金属掺杂层上的异质结,以及

设置在所述异质结上的栅极结构,源极接触和漏极接触。

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