[发明专利]芯片结构、及其封装方法以及电子设备在审

专利信息
申请号: 201810792234.2 申请日: 2018-07-18
公开(公告)号: CN108735708A 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 易泓历 申请(专利权)人: 北京比特大陆科技有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L21/48
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100192 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 焊盘 晶元 边框 电路基板 电子设备 芯片结构 映射 封装 芯片 封装过程 受力不均 芯片生产 良率 裂片 横跨 保证
【权利要求书】:

1.一种芯片结构,该芯片包括晶元(DIE)和电路基板,电路基板包括第一焊盘(VSS)、第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM),其特征在于,所述晶元(DIE)布置在第一焊盘(VSS)上,晶元(DIE)在第一焊盘(VSS)的映射面在第一焊盘(VSS)边框内。

2.如权利要求求1所述的芯片结构,其特征在于,所述电路基板进一步包括绝缘层、金属层,其中:所述绝缘层的第一面上设置有所述金属层,所述绝缘层背离所述金属层的第二面上分别设置有所述第一焊盘(VSS)、第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)。

3.如权利要求求2所述的芯片结构,其特征在于,所述第一焊盘为所述电路基板的电源输出焊盘,为晶元(DIE)的接地端,所述第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)为所述电路基板的电源输入焊盘,为晶元(DIE)的电源端。

4.如权利要求1~3所述的芯片结构,其特征在于,所述第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)位于所述第一焊盘(VSS)的对称两侧。

5.如权利要求1~3所述的芯片结构,其特征在于,所述电路基板进一步包括第四焊盘,其中:

所述第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)位于所述第一焊盘(VSS)的对称两侧;

所述第四焊盘设置在所述第一焊盘(VSS)的剩余两侧中的一侧。

6.如权利要求1~3所述的芯片结构,其特征在于,所述金属层上的各个焊点与所述晶元上的各个焊点一一对应连接。

7.一种电子设备,其特征在于,包括电子设备本体以及权利要求1-6任一项所述的芯片。

8.一种芯片封装方法,电路基板包括第一焊盘(VSS)、第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM),其特征在于,将晶元(DIE)安装在第一焊盘(VSS)上,晶元(DIE)在第一焊盘(VSS)的映射面在第一焊盘(VSS)边框内;将晶元(DIE)进行膜封。

9.如权利要求求8所述的方法,其特征在于,所述电路基板进一步包括绝缘层、金属层,其中:所述绝缘层的第一面上设置有所述金属层,所述绝缘层背离所述金属层的第二面上分别设置有所述第一焊盘(VSS)、第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)。

10.如权利要求求9所述的方法,其特征在于,所述第一焊盘为所述电路基板的电源输出焊盘,为晶元(DIE)的接地端,所述第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)为所述电路基板的电源输入焊盘,为晶元(DIE)的电源端。

11.如权利要求8~10所述的方法,其特征在于,所述第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)位于所述第一焊盘(VSS)的对称两侧。

12.如权利要求8~10所述的方法,其特征在于,所述电路基板进一步包括第四焊盘,其中:

所述第二焊盘(VDDS)和第三焊盘(VDDM)位于所述第一焊盘(VSS)的对称两侧;

所述第四焊盘设置在所述第一焊盘(VSS)的剩余两侧中的一侧。

13.如权利要求8~10所述的方法,其特征在于,所述金属层上的各个焊点与所述晶元上的各个焊点一一对应连接。

14.一种芯片结构,该芯片包括晶元(DIE)和电路基板,电路基板包括第一焊盘(VDD)、第二焊盘(VSS),其特征在于,所述晶元(DIE)布置在第二焊盘(VSS),晶元(DIE)在第二焊盘(VSS)的映射面在第二焊盘(VSS)边框内。

15.如权利要求14所述的芯片结构,其特征在于,所述第一焊盘(VDD)、的面积小于所述第二焊盘(VSS)。

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