[发明专利]封装结构及其密封性检测方法和制造方法在审

专利信息
申请号: 201710707895.6 申请日: 2017-08-17
公开(公告)号: CN107331648A 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 范晓旺;张亮 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L21/66;H01L31/048;G01M3/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 黄德海
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 封装 结构 及其 密封性 检测 方法 制造
【权利要求书】:

1.一种封装结构,其特征在于,包括:

相对设置的衬底基板和封装盖板;

形成在所述衬底基板和所述封装盖板之间的封装胶,用于连接所述衬底基板和所述封装盖板以形成密封空间,所述封装胶内混合有荧光剂。

2.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述封装胶位于所述封装盖板和所述衬底基板的外周沿处。

3.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述封装胶为UV胶。

4.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-3中任一项所述的封装结构。

5.根据权利要求4所述的显示装置,其特征在于,所述显示装置为等离子体显示装置、有机发光二极管显示装置或液晶显示装置。

6.一种光伏器件,其特征在于,包括权利要求1-3中任一项所述的封装结构。

7.一种检测权利要求1-3中任一项所述的封装结构的密封性的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

对所述封装胶的宽度进行扫描检测,根据封装胶的宽度判断所述封装结构的密封性。

8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,扫描检测所述封装胶的宽度,若所述封装胶的宽度小于第一阈值,判断所述封装结构发生漏气,若所述封装胶的宽度大于第二阈值,判断所述封装结构未发生漏气,其中第一阈值小于第二阈值。

9.一种封装结构的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:

提供封装盖板和衬底基板;

提供封装胶,所述封装胶内混合有荧光剂;

利用封装胶对所述封装盖板和所述衬底基板之间进行密封;

对所述封装胶的宽度进行扫描检测,根据封装胶的宽度判断所述封装结构的密封性。

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