[发明专利]激光辅助晶化Ge/Si衬底GaAs单结太阳能电池及其制备工艺在审
申请号: | 201611259616.6 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN108269881A | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 尹晓雪 | 申请(专利权)人: | 西安科锐盛创新科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/02;H01L31/0693 |
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地址: | 710065 陕西省西安市高新区高新路86号*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单结太阳能电池 外延层 衬底 制备工艺 晶化 制备 激光辅助 衬底层 氧化层 光电转化效率 磁控溅射法 接触电极 反射膜 接触层 单结 刻蚀 位错 电池 制作 | ||
本发明涉及一种激光辅助晶化Ge/Si衬底上GaAs单结太阳能电池制备工艺,所述制备工艺包括:(a)制作Si衬底层;(b)在所述Si衬底层上采用磁控溅射法形成Ge外延层;(c)采用CVD工艺在所述Ge外延层上形成氧化层;(d)采用LRC工艺使所述Ge外延层晶化;(e)刻蚀所述氧化层;(f)在所述Ge外延层上制备GaAs单结电池;(g)依次制备接触层、反射膜和接触电极,最终形成所述GaAs单结太阳能电池。本发明制备的GaAs单结太阳能电池通过采用LRC工艺可有效降低Ge/Si衬底的位错密度,使基于Ge/Si衬底的GaAs单结太阳能电池器件质量提高,光电转化效率提高。
技术领域
本发明属于太阳能电池技术领域,具体涉及一种激光辅助晶化Ge/Si衬底上GaAs单结太阳能电池制备工艺。
背景技术
近年来,太阳能电池技术取得了很大进展,典型的Ⅲ-Ⅴ族化合物因为是直接能隙的半导体材料,可做厚度较薄,吸光效率特别高,成为未来主要太阳能材料之一。但由于GaAs材料价格昂贵、密度高、机械强度很低,不利于制备成本低廉、薄型轻质的电池。因此,选择较为廉价的衬底制作GaAs单结太阳能电池十分重要。可以采用Si衬底上外延Ge缓冲层(Ge/Si衬底技术)制备GaAs单结太阳能电池的技术方案,其兼具Si与Ge的技术优势,尤其可与现有Si工艺兼容,已成为当前光电领域内研究发展的重点和热点。然而,由于Si与Ge之间存在4.2%的晶格失配,Ge/Si衬底技术实现难度大。目前常用的两步生长仍然无法解决Ge外延层中大量螺位错的出现,而且其所结合的循环退火工艺对于薄Ge外延层来说,会出现Si-Ge互扩问题,以及Ge/Si缓冲层表面粗糙度的增加。
发明内容
为了解决现有技术中存在的上述问题,本发明提供了一种激光辅助晶化Ge/Si衬底上GaAs单结太阳能电池制备工艺。
本发明的一个实施例提供了一种激光辅助晶化Ge/Si衬底上GaAs单结太阳能电池制备工艺,包括:
(a)制作Si衬底层;
(b)在所述Si衬底层上采用磁控溅射法形成Ge外延层;
(c)采用化学气相沉积(Chemical Vapor Deposition,简称CVD)工艺在所述Ge外延层上形成氧化层;
(d)采用激光再晶化(Laser Re-Crystallization,简称LRC)工艺使所述Ge外延层晶化;
(e)刻蚀所述氧化层;
(f)在所述Ge外延层上制备GaAs单结电池;
(g)依次制备接触层、反射膜和接触电极,最终形成所述GaAs单结太阳能电池。
在本发明的一个实施例中,所述氧化层为SiO2层。
在本发明的一个实施例中,所述步骤(d)包括:
(d1)采用激光照射所述Ge外延层和所述Si衬底层;
(d2)使所述激光照射部分的所述Ge外延层升温到第一温度,所述第一温度大于等于Ge熔点小于Si熔点且小于氧化层熔点;
(d3)使激光照射部分的所述Ge外延层冷却晶化;
(d3)重复步骤(d1)~(d3),使所述Ge外延层全部晶化。
在本发明的一个实施例中,所述激光参数为:激光功率为6.1kW/m,激光移动速度为400mm/min。
在本发明的一个实施例中,所述第一温度为500K。
在本发明的一个实施例中,所述步骤(f)包括:
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的