[发明专利]半导体装置

权利要求书

1.一种半导体装置，包括：

扫描电路模块，所述扫描电路模块包括：

接收部，所述接收部被配置为：响应于第二控制信号而从设置在第一芯片中的另一个电路单元的输出信号和设置在第二芯片中的电路单元的输出信号中的一个产生输出信号；以及

输出部，所述输出部被配置为：响应于第一控制信号而将所述接收部的输出信号输出至设置在所述第一芯片中的又一个电路单元和设置在第三芯片中的电路单元中的一个，

其中，所述扫描电路模块被设置在所述第一芯片中。

2.如权利要求1所述的半导体装置，其中，所述接收部响应于第三控制信号来接收测试数据，而不是接收设置在所述第一芯片中的所述另一个电路单元的输出信号以及设置在所述第二芯片中的所述电路单元的输出信号。

3.如权利要求2所述的半导体装置，其中，所述扫描电路模块还包括：

正常操作部，所述正常操作部被配置为：响应于区分所述半导体装置的测试操作和正常操作的测试控制信号而将所述测试数据的输入传送至核心电路。

4.如权利要求3所述的半导体装置，其中，所述扫描电路模块还包括：

测试控制部，所述测试控制部被配置为与外部控制器通信，并提供所述第一控制信号至所述第三控制信号、所述测试数据和所述测试控制信号。

5.如权利要求4所述的半导体装置，其中，所述扫描电路模块还包括：

测试输出部，所述测试输出部被配置为响应于输出使能信号而将所述接收部的输出信号输出至所述测试控制部。

6.如权利要求1所述的半导体装置，其中，所述扫描电路模块经由通孔而与设置在所述第二芯片中的所述电路单元电连接，并且由所述扫描电路模块接收的设置在所述第二芯片中的所述电路单元的输出信号具有关于在所述通孔中是否发生故障的信息。

7.如权利要求1所述的半导体装置，其中，所述扫描电路模块经由通孔而与设置在所述第三芯片中的所述电路单元电连接，并且由设置在所述第三芯片中的所述电路单元接收的所述扫描电路模块的输出信号具有关于在所述通孔中是否发生故障的信息。