[发明专利]垂直式半导体元件及其制造方法无效
申请号: | 201210072544.X | 申请日: | 2012-03-19 |
公开(公告)号: | CN103325747A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 邱建维;黄宗义 | 申请(专利权)人: | 立锜科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L23/00;H01L21/48 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陈肖梅;谢丽娜 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 垂直 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种垂直式半导体元件及其制造方法,特别是指一种改善电流拥挤(current crowding)的垂直式半导体元件及其制造方法。
背景技术
一般碳化镓(GaN)晶体外延成长于如碳化硅(SiC)或蓝宝石(Sapphire)等基材上。由于蓝宝石基板为绝缘体,因此,若需要将功率元件制作于蓝宝石基板,则必须制作为横向元件,也就是将电极形成于元件同侧。如此一来,不但会增加元件面积,增加制造成本,亦会产生电流拥挤的问题。
有鉴于此,本发明即针对上述现有技术的不足,提出一种垂直式半导体元件及其制造方法,可减少半导体元件面积,降低制作成本,并且改善电流拥挤的问题。
发明内容
本发明目的在于克服现有技术的不足与缺陷,提出一种垂直式半导体元件及其制造方法。
为达上述目的,就其中一个观点言,本发明提供了一种垂直式半导体元件,包含:一基板,其具有一第一表面与一第二表面,且该第一表面与第二表面之间,具有贯穿该基板的多个导电栓所形成的导电矩阵;一半导体层,形成于该第一表面上,其具有一第三表面与一第四表面,其中该第四表面面向该第一表面;一第一电极,形成于该第三表面上;以及一第二电极,形成于该第二表面上,用以电连接该导电矩阵。
就另一观点言,本发明也提供了一种垂直式半导体元件制造方法,包含:提供一基板,其具有一第一表面与一第二表面;形成一半导体层于该第一表面上,且该半导体层具有一第三表面与一第四表面,其中该第四表面面向该第一表面;形成一第一电极于该第三表面上;形成多个穿孔贯穿该基板,且该多个穿孔形成一穿孔矩阵;形成多个导电栓于该多个穿孔中,以形成一导电矩阵;以及形成一第二电极于该第二表面上,用以电连接该导电矩阵。
在其中一种较佳实施型态中,该基板包括一碳化硅(SiC)基板或一蓝宝石(sapphire)基板。
上述较佳实施型态中,该半导体层较佳地包含一氮化镓(gallium nitride,GaN)层,且该第一电极、该GaN层、该导电矩阵、与该第二电极形成一垂直式肖特基位障二极管(Schottky barrier diode,SBD)。
在另一种较佳实施型态中,该半导体层包含:一具有第一导电型杂质掺杂的氮化镓(gallium nitride,GaN)层;一具有第二导电型杂质掺杂的基极区,形成于该第三表面下的该GaN层中,且该基极区与该第一电极电连接;以及一具有第一导电型杂质掺杂的射极区,形成于该第三表面下的该基极区中,且该射极区与一形成于该第三表面上的第三电极电连接;其中,该第一电极、该半导体层、该第三电极、该导电矩阵、与该第二电极形成一垂直式双极接面晶体管(bipolar junction transistor,BJT)。
在又一种较佳实施型态中,该半导体层包含:一具有第一导电型杂质掺杂的氮化镓(gallium nitride,GaN)层;一具有第二导电型杂质掺杂的本体区,形成于该第三表面下的该GaN层中,且该本体区与该第一电极电连接;一具有第一导电型杂质掺杂的射极区,形成于该第三表面下的该本体区中,且该射极区与该第一电极电连接;以及一具有第二导电型杂质掺杂的注入区,形成于该GaN层与该基板之间,并通过该导电矩阵与该第二电极电连接;且该垂直式半导体元件更包含:一介电层,形成于该第三表面上;以及一栅极,形成于该介电层上,其中,该第一电极、该半导体层、该第三电极、该导电矩阵、该第二电极、该介电层、与该栅极形成一垂直式绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)。
下面通过具体实施例详加说明,当更容易了解本发明的目的、技术内容、特点及其所达成的功效。
附图说明
图1A-1D显示本发明的第一个实施例;
图2A-2D显示本发明的第二个实施例;
图3A-3D显示本发明的第三个实施例。
图中符号说明
11 基板
12 穿孔矩阵
12a 穿孔
13,23,32,33 半导体层
14 阳极
15 阴极
16 导电矩阵
16a 导电栓
24 基极
25,35 集极
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