[发明专利]采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法有效

专利信息
申请号: 200810240085.5 申请日: 2008-12-17
公开(公告)号: CN101752508A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 采用 有源 图形 制备 有机 场效应 晶体管 方法
【权利要求书】:

1.一种采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法,其特征在 于,该方法包括:

步骤1、在绝缘衬底上涂敷光刻胶;

步骤2、光刻得到栅电极图形;

步骤3、蒸发或沉积金属电极材料;

步骤4、用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形,该金薄 膜是在蒸发或沉积金属电极材料时形成的;

步骤5、在栅电极上蒸发或沉积一层厚度为300nm的绝缘介质层材料;

步骤6、在绝缘介质层材料上匀胶后光刻得到器件源漏电极的图形;

步骤7、再次蒸发或沉积金属电极材料,剥离后得到器件的源漏电极 图形;

步骤8、沉积生长一层厚度为50nm的有机半导体薄膜,完成有源层 图形化的有机场效应晶体管的制备。

2.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤1中所述绝缘衬底是有机塑料衬底,或者是无 机绝缘衬底。

3.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤1中所述涂敷光刻胶是通过匀胶台旋涂后85℃ 热板烘烤得到的。

4.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤3和步骤7中所述蒸发或沉积金属电极材料是 采用电子束蒸发或者PECVD沉积实现的。

5.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤5中所述蒸发或沉积绝缘介质层材料是采用电 子束蒸发或者PECVD沉积实现的。

6.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤8中所述有机半导体薄膜的沉积是采用真空热 蒸镀的方法完成的。

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