[发明专利]采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法有效
| 申请号: | 200810240085.5 | 申请日: | 2008-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN101752508A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
| 发明(设计)人: | 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | H01L51/40 | 分类号: | H01L51/40 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 采用 有源 图形 制备 有机 场效应 晶体管 方法 | ||
1.一种采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法,其特征在 于,该方法包括:
步骤1、在绝缘衬底上涂敷光刻胶;
步骤2、光刻得到栅电极图形;
步骤3、蒸发或沉积金属电极材料;
步骤4、用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形,该金薄 膜是在蒸发或沉积金属电极材料时形成的;
步骤5、在栅电极上蒸发或沉积一层厚度为300nm的绝缘介质层材料;
步骤6、在绝缘介质层材料上匀胶后光刻得到器件源漏电极的图形;
步骤7、再次蒸发或沉积金属电极材料,剥离后得到器件的源漏电极 图形;
步骤8、沉积生长一层厚度为50nm的有机半导体薄膜,完成有源层 图形化的有机场效应晶体管的制备。
2.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤1中所述绝缘衬底是有机塑料衬底,或者是无 机绝缘衬底。
3.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤1中所述涂敷光刻胶是通过匀胶台旋涂后85℃ 热板烘烤得到的。
4.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤3和步骤7中所述蒸发或沉积金属电极材料是 采用电子束蒸发或者PECVD沉积实现的。
5.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤5中所述蒸发或沉积绝缘介质层材料是采用电 子束蒸发或者PECVD沉积实现的。
6.根据权利要求1所述的采用有源层图形化制备有机场效应晶体管 的方法,其特征在于,步骤8中所述有机半导体薄膜的沉积是采用真空热 蒸镀的方法完成的。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择





