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- [发明专利]一种电镀工艺-CN202110309118.2在审
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冯光建;黄雷;高群
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浙江集迈科微电子有限公司
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2021-03-23
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2021-07-06
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H01L21/768
- 本发明公开了一种电镀工艺;S1、在第一硅片表面制作第一TSV盲孔,然后沉积第一钝化层和第一种子层,最后在所述第一TSV盲孔内进行电镀第一TSV铜柱;S2、在第二硅片的表面制作第二TSV盲孔,通过背部减薄和抛光使所述第二TSV盲孔底部露出,在第二硅片的表面进行热氧做TSV内部的第二钝化层;S3、用高温氧氧键合的方式把所述第一硅片和所述第二硅片做键合,在第二硅片上沉积第二种子层,电镀填充第二TSV铜柱,抛光得到超深TSV金属填充的硅片;本发明将两组硅片做永久键合,形成具有一定厚度的TSV的金属的深TSV结构,然后通过二次电镀工艺使深TSV结构填满。
- 一种电镀工艺
- [发明专利]一种硅片拾取装置-CN201610766710.4在审
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田翠侠;阮冬;杨金国
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上海微电子装备(集团)股份有限公司
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2016-08-30
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2018-03-09
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H01L21/683
- 本发明提供了一种硅片拾取装置,包括片叉本体以及设置于所述片叉本体上的气路通道和调节机构;所述调节机构用于将硅片调整到片叉本体的拾取中心位置;片叉本体上设置有气孔,用于产生具有一定流向的气流,气路通道与气孔连通;在拾取硅片过程中,气路通道内通入的气体流经气孔形成具有一定流向的气流,以使硅片与片叉本体之间的气压小于外界大气压硅片在气压差的作用下压在片叉本体上,并在调节机构的配合下调整到片叉本体的拾取中心位置,完成拾取工作在拾取过程中,不必要在硅片和片叉本体之间形成真空,所以可以有效吸附翘曲变形的硅片;另一方面,在拾取时硅片与片叉本体非直接接触,吸附力更均匀,从而减小了对较薄硅片的损坏。
- 一种硅片拾取装置
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