专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种电镀工艺-CN202110309118.2在审
  • 冯光建;黄雷;高群 - 浙江集迈科微电子有限公司
  • 2021-03-23 - 2021-07-06 - H01L21/768
  • 本发明公开了一种电镀工艺;S1、在第一硅片表面制作第一TSV盲孔,然后沉积第一钝化层和第一种子层,最后在所述第一TSV盲孔内进行电镀第一TSV铜柱;S2、在第二硅片的表面制作第二TSV盲孔,通过背部减和抛光使所述第二TSV盲孔底部露出,在第二硅片的表面进行热氧做TSV内部的第二钝化层;S3、用高温氧氧键合的方式把所述第一硅片和所述第二硅片做键合,在第二硅片上沉积第二种子层,电镀填充第二TSV铜柱,抛光得到超深TSV金属填充的硅片;本发明将两组硅片做永久键合,形成具有一定厚度的TSV的金属的深TSV结构,然后通过二次电镀工艺使深TSV结构填满。
  • 一种电镀工艺
  • [发明专利]一种负压式硅片制作设备及其控制方法-CN201510166783.5有效
  • 高文秀;李帅;赵百通 - 江苏盎华光伏工程技术研究中心有限公司
  • 2015-04-09 - 2017-04-19 - C30B29/06
  • 本发明公开了一种负压式硅片制作设备及其控制方法,包括炉体,所述炉体内设有用于盛放硅液的坩埚,所述坩埚的外侧周围设有加热器,所述坩埚的上方设有硅片提取单元,所述硅片提取单元包括可一起上下移动的冷却腔和扩容减压室所述冷却腔伸入到扩容减压室中,所述扩容减压室的上端封闭,下端开口并在开口处设有耐温挂件,所述耐温挂件围绕在冷却腔的周围并伸出冷却腔的底部,所述冷却腔的外壁、扩容减压室的内壁以及硅液之间可形成密闭负压腔,所述炉体上设有硅片承接板,所述硅片承接板上设有高频感应线圈。本发明可实现由硅熔液直接形成硅片的过程,硅片厚度,重复性好,大大节省了硅材料及单个硅片的能耗,并降低硅太阳能电池成本。
  • 一种负压式硅片制作设备及其控制方法
  • [发明专利]三维堆叠器件的制备方法-CN201410491924.6在审
  • 何晓锋;黄建冬 - 武汉新芯集成电路制造有限公司
  • 2014-09-23 - 2015-02-11 - H01L21/20
  • 本申请一种三维堆叠器件的制备方法,涉及半导体器件的制备领域,通过在制备有底部半导体器件的衬底上,采用向上生长的方式,在该底部半导体器件的互联层上键合一硅片,并可对该硅片后,于互联层之上形成超薄的硅层;继续在上述的硅层基础上制备顶部半导体器件及硅通孔;由于是在键合工艺之后再制备顶部半导体器件,进而可降低晶圆键合时对于精度的要求,且减形成的硅层的厚度较,可使得后续制备的硅通孔之间的间距降低至50nm
  • 三维堆叠器件制备方法
  • [发明专利]硅通孔结构及其制造方法-CN201110363430.6有效
  • 汪学方;徐春林;王宇哲;徐明海;胡畅;刘胜 - 华中科技大学
  • 2011-11-16 - 2012-04-18 - H01L23/48
  • 本发明公开了一种硅通孔结构的制造方法,包括以下步骤:将硅片的厚度减至5微米至20微米;去除硅片表面的所有绝缘层;在硅片的导电区表面和绝缘区表面制作掺杂掩膜,以对导电区和绝缘区分别进行粒子掺杂,绝缘区与导电区掺杂的粒子的极性相反;在粒子掺杂完成后去除掺杂掩膜;在导电区表面覆盖金属电极;在硅片的表面除金属电极之外的区域覆盖绝缘层。本发明的方法制造工艺简单,可避免刻蚀、绝缘处理等工艺对硅片的破坏,并能够提高制造硅通孔结构的成品率。本发明还公开了一种硅通孔结构。
  • 硅通孔结构及其制造方法
  • [发明专利]晶圆级倒扣封装低电容瞬态电压抑制二极管的制造方法-CN202111478196.1在审
  • 张志向;卢宇;朱长彪 - 天水天光半导体有限责任公司
  • 2021-12-06 - 2022-03-18 - H01L27/08
  • 本发明公开了一种晶圆级倒扣封装低电容瞬态电压抑制二极管的制造方法,包括选用P型衬底电阻率0.001‑0.04Ω•cm对衬底外延片硅片进行一次清洗、一次外延生长、清洗、对衬底硅片进行初始氧化、一次光刻、N+注入、埋层扩散、二次外延生长、氧化、二次光刻、磷扩散、三次光刻、p+注入、去胶、四次光刻等工序,并通过磷扩散将正负极引到芯片正面,产品厚度根据背面减,正面金属化,衬底硅片依次进行Ti‑W金属溅射、蒸发AL金属;对完成衬底硅片进行正面焊盘金属化学镀Ni、Au,化学镀Ni、Au作为焊盘金属将晶圆划片后焊接在电路板上,该产品不需要再做封装工艺;通过本发明得到的晶圆级倒扣封装低电容瞬态电压抑制二极管低电容、封装体积小,产品厚度
  • 晶圆级倒扣封装电容瞬态电压抑制二极管制造方法
  • [发明专利]一种硅片拾取装置-CN201610766710.4在审
  • 田翠侠;阮冬;杨金国 - 上海微电子装备(集团)股份有限公司
  • 2016-08-30 - 2018-03-09 - H01L21/683
  • 本发明提供了一种硅片拾取装置,包括片叉本体以及设置于所述片叉本体上的气路通道和调节机构;所述调节机构用于将硅片调整到片叉本体的拾取中心位置;片叉本体上设置有气孔,用于产生具有一定流向的气流,气路通道与气孔连通;在拾取硅片过程中,气路通道内通入的气体流经气孔形成具有一定流向的气流,以使硅片与片叉本体之间的气压小于外界大气压硅片在气压差的作用下压在片叉本体上,并在调节机构的配合下调整到片叉本体的拾取中心位置,完成拾取工作在拾取过程中,不必要在硅片和片叉本体之间形成真空,所以可以有效吸附翘曲变形的硅片;另一方面,在拾取时硅片与片叉本体非直接接触,吸附力更均匀,从而减小了对较硅片的损坏。
  • 一种硅片拾取装置

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