专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果3345643个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种低温固体氧化物燃料电池及其制备方法-CN201710232995.8有效
  • 侯杰;苗利娜;曹菊芳;蔺杰;刘卫 - 中国科学技术大学
  • 2017-04-11 - 2020-08-28 - H01M8/10
  • 本发明提供了一种低温固体氧化物燃料电池,包括阳极支撑体;设置在所述阳极支撑体上的致密电解质;设置在所述致密电解质上的氧化铋基致密电解质;所述致密电解质为铈基电解质或锆基电解质;设置在所述氧化铋基致密电解质上的阴极活性与现有技术相比,本发明在氧化铋基致密电解质与阳极支撑体之间设置致密电解质,该致密电解质可有效保护氧化铋基电解质,有效隔绝氧化铋基致密电解质与还原气体的直接接触,使其不发生分解,保证氧化铋的正常工作,实现不同电解质的优化高效使用,有效降低电池内阻,提高电池在低温段的性能,从而使固体氧化物燃料电池在低温工作条件下也能高效传导氧离子、高效工作。
  • 一种低温固体氧化物燃料电池及其制备方法
  • [发明专利]一种半导体电容器-CN201310557141.9有效
  • 张翠 - 溧阳市江大技术转移中心有限公司
  • 2013-11-08 - 2014-02-19 - H01L29/92
  • 本发明公开了一种半导体电容器,其包括衬底,衬底上依次具有第一金属电极、第一氧化、第一致密氧化、氮化硅、第二致密氧化、第二氧化、第二金属电极;第一引出电极,其穿透第一氧化、第一致密氧化、氮化硅、第二致密氧化、第二氧化和第二金属电极并穿入第一金属电极的一部分形成;第一引出电极隔离,其穿透第一氧化、第一致密氧化、氮化硅、第二致密氧化、第二氧化和第二金属电极形成,从而实现对第一引出电极的电隔离;第二引出电极,其穿入第二金属电极的一部分形成。
  • 一种半导体电容器
  • [发明专利]一种致密煤岩储氧化溶蚀增渗潜力评价方法-CN202110820066.5在审
  • 康毅力;胡玥;游利军;李相臣;陆钰;孙琳娜;刘江;关嘉琪 - 西南石油大学
  • 2021-07-20 - 2021-09-28 - G01N15/08
  • 本发明涉及石油与天然气行业致密煤岩储增产改造领域,提供了一种致密煤岩储氧化溶蚀增渗潜力评价方法。氧化溶蚀增渗潜力是预测氧化改造提高致密煤岩气藏产能效果的重要依据,因此,需评价致密煤岩储氧化溶蚀增渗潜力。通过测定粉状煤样氧化前后的质量损失,以及柱状岩心应力条件下氧化液注入前后的渗透率变化,制定以溶蚀率ML及增渗倍数IOT为指标的评价方法,划分了氧化溶蚀增渗潜力等级,建立了应力条件下致密煤岩的氧化溶蚀效果增渗潜力评价方法。本发明弥补了当前致密煤岩储氧化溶蚀增渗潜力评价方法存在的不足,对预测致密煤岩气藏氧化溶蚀增渗效果、评价储增产作业、预防储损害等具有重要意义。
  • 一种致密煤岩储层氧化溶蚀潜力评价方法
  • [发明专利]复合氧离子传送膜-CN200780031388.X有效
  • N·纳加巴沙纳;J·A·莱恩;G·M·克里斯蒂;B·A·范哈泽尔 - 普莱克斯技术有限公司
  • 2007-08-22 - 2009-08-12 - C04B35/01
  • 一种复合氧离子传送膜(1),其具有致密(10)、多孔载体(12)、位于多孔载体(12)和致密(10)之间的任选的中间多孔(14)以及覆盖在致密(10)上的任选的表面交换(16)。致密(10)具有电子相和离子相。该离子相包括氧化钪掺杂的、钇或者铈稳定的氧化锆。该电子相包括含有镧、锶、铬、锰和钒以及任选的铈的金属氧化物。多孔载体(12)包括用钇、钪、铝或者铈或者其混合物部分稳定的氧化锆。如果使用,中间多孔(14)包含与致密相同的离子相和电子相。表面交换(16)由电子相和离子相形成,该电子相是镧和锶以及还包含锰或者铁的金属氧化物,该离子相是氧化钪掺杂的、钇或者铈稳定的氧化锆。
  • 复合离子传送
  • [发明专利]屏蔽栅沟槽型器件的工艺方法-CN202011056835.0有效
  • 李秀然;刘宇;薛华瑞 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2020-09-29 - 2022-06-17 - H01L21/28
  • 本发明提供了一种屏蔽栅沟槽型器件的工艺方法,包括:提供衬底;在衬底上形成第一沟槽;在第一沟槽内依次形成第一氧化和第二氧化,并得到第二沟槽,其中:第一氧化致密度大于第二氧化致密度;在第二沟槽内形成屏蔽栅;在屏蔽栅上形成第三氧化,其中:第三氧化致密度大于第二氧化致密度;部分刻蚀第一氧化、第二氧化和第三氧化使得所述第一氧化、第二氧化和第三氧化的厚度均降低,剩余的第二氧化和第三氧化的表面形貌与屏蔽栅的表面形貌相同,以使得剩余的第一氧化、第二氧化和第三氧化形成的组合的厚度较为均匀,进而改善控制栅和屏蔽栅之间的漏电性能。
  • 屏蔽沟槽器件工艺方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top