专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]CMOS图像传感封装方法-CN201410128960.6有效
  • 赵立新;邓辉;李文强 - 格科微电子(上海)有限公司
  • 2014-04-01 - 2014-07-09 - H01L27/146
  • 本发明公开了一种CMOS图像传感封装方法,包括如下步骤:A:提供图像传感晶片、透明的封装基板;B:键合金属导线于图像传感晶片的焊盘;C:将键合有金属导线的图像传感晶片的感光面的一侧粘合于封装基板;D1:在封装基板上进行焊料凸点制作,使得金属导线、封装基板与对应的焊料凸点电连通;或D2:键合金属导线于封装基板上的焊盘,再进行焊料凸点制作使得金属导线与对应的焊料凸点电连通。本发明通过将图像传感的晶片切割后再与封装基板进行封装,能够实现高可靠性和规模量产性。
  • cmos图像传感器封装方法
  • [发明专利]图像传感封装方法及封装结构-CN202311154608.5在审
  • 王国建;付义德 - 积高电子(无锡)有限公司
  • 2023-09-08 - 2023-10-24 - H01L27/146
  • 本发明公开了图像传感封装方法及封装结构,涉及半导体封装技术领域,封装方法包在具体分配填充胶时,需要使用雾化填充胶高频射出到引线上,对引线表面进行喷涂,直到引线外侧完全包覆填充胶;然后在引线表面的填充胶还未固化时本发明提供的图像传感封装方法,解决了现有技术中,成品的图像传感颠簸时引线容易出现断裂的问题;本发明提供的图像传感封装方法所制成的图像传感封装结构中的引线可以被填充胶更加稳定的固定而不易断裂。
  • 图像传感器封装方法结构
  • [发明专利]图像传感的晶圆级封装方法-CN201210507763.6有效
  • 李文强;蒋珂玮 - 格科微电子(上海)有限公司
  • 2012-11-30 - 2013-03-20 - H01L27/146
  • 一种图像传感的晶圆级封装方法,本发明在封装玻璃表面的滤光膜制作完成后,增加检查步骤,将缺陷位置及周围区域的滤光膜进行去除,该周围区域的位置及大小对应晶圆上的像素阵列及外围电路区域位置及尺寸大小,晶圆封装并切割之后,a)对于封装玻璃上具有滤光膜的图像传感芯片,在其上设置透镜后进行模组封装,b)对于已去除滤光膜的图像传感芯片,在其上依次设置滤光玻璃、透镜后进行模组封装。如此,避免了由于滤光膜的缺陷造成浪费图像传感芯片的问题,提高了封装完成的图像传感的良率。
  • 图像传感器晶圆级封装方法
  • [发明专利]用于分子检测和感测的高通量分析系统-CN202080009788.6在审
  • 严媚 - 上海芯像生物科技有限公司
  • 2020-03-20 - 2021-11-26 - H01L31/12
  • 本公开描述了提供一种用于分析生物或化学样本的通量可缩放图像感测系统。所述系统包括多个图像传感,所述多个图像传感被配置成检测由于分析所述生物或化学样本而发射的光的至少一部分。所述多个图像传感布置在单个半导体晶圆的多个晶圆级封装半导体管芯上。所述多个图像传感中的每个图像传感设置在所述多个封装半导体管芯中的单独的封装半导体管芯上。相邻的封装半导体管芯被切割道分开;并且所述多个封装半导体管芯和多个切割道被布置成使得所述多个封装半导体管芯可以作为一组从所述单个半导体晶圆进行切割。
  • 用于分子检测通量分析系统
  • [发明专利]用于分子检测和感测的高通量分析系统-CN202110975546.9在审
  • 严媚 - 上海芯像生物科技有限公司
  • 2020-03-20 - 2021-11-23 - G01N27/414
  • 本公开描述了提供一种用于分析生物或化学样本的通量可缩放图像感测系统。所述系统包括多个图像传感,所述多个图像传感被配置成检测由于分析所述生物或化学样本而发射的光的至少一部分。所述多个图像传感布置在单个半导体晶圆的多个晶圆级封装半导体管芯上。所述多个图像传感中的每个图像传感设置在所述多个封装半导体管芯中的单独的封装半导体管芯上。相邻的封装半导体管芯被切割道分开;并且所述多个封装半导体管芯和多个切割道被布置成使得所述多个封装半导体管芯可以作为一组从所述单个半导体晶圆进行切割。
  • 用于分子检测通量分析系统

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