专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学膜的不良检测装置及方法-CN201610098872.5有效
  • 金种佑;朴真用 - 东友精细化工有限公司
  • 2016-02-23 - 2020-02-04 - G01N21/88
  • 本发明提供光学膜的不良检测装置及方法。根据本发明的光学膜的不良检测装置包含:接收部,其由至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息;不良位置决定部,其基于所述不良信息,决定与所述光学膜卷对应的2维平面上的不良位置;探索部,其基于所述不良位置,探索在所述平面上已经被设定的数以上的不良存在的区域;和不良检测部,其基于所述被探索的区域中所含的不良的密集度来检测密集性不良
  • 光学不良检测装置方法
  • [发明专利]光学膜的不良检测装置及方法-CN201610102536.3有效
  • 金种佑;朴真用 - 东友精细化工有限公司
  • 2016-02-24 - 2021-02-09 - G01M11/00
  • 本发明提供光学膜的不良检测装置及方法。本发明涉及的光学膜的不良检测装置包含:接收部,其从至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息;不良位置决定部,其基于所述不良信息来决定与所述光学膜卷对应的二维平面上的不良位置;探索部,其基于所述不良位置来探索所述平面上已被设定的数以上的不良存在的区域;不良检测部,其基于所述被探索的区域中所含的不良的数及不良间的间隔来检测周期性不良
  • 光学不良检测装置方法
  • [发明专利]一种异物不良点监控方法及监控装置-CN201310156281.5有效
  • 张钟石;高章飞;刘俊豪 - 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
  • 2013-04-28 - 2013-09-04 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种异物不良点监控方法及监控装置,其中上述异物不良点监控方法包括异物不良点监控方法,包括:获取大基板加工过程中各个异物不良点的第一位置信息以及该异物不良点的第一位置信息与产生该异物不良点的制备工序之间的对应关系;大基板内预先划分有多个呈阵列排布的显示屏区域;获取大基板加工完成后一个或多个显示屏区域中的显示区域内存在的各个异物不良点的第二位置信息;将第二位置信息与第一位置信息进行匹配,当第二位置信息与第一位置信息匹配成功时,通过对应关系确定产生该异物不良点的制备工序。该异物不良点监控方法,异物不良点的分析反馈的周期短,在异物不良点分析反馈周期内浪费的人力和物力较少。
  • 一种异物不良监控方法装置
  • [发明专利]定位检测方法及装置-CN201410054240.X有效
  • 林苏琦 - 百度在线网络技术(北京)有限公司
  • 2014-02-18 - 2017-01-18 - H04W24/04
  • 本发明提供了一种定位检测方法及装置,所述方法包括获取任意一条定位请求的定位信号;通过已有的定位服务系统获得与该定位请求的定位信号对应的位置信息;从预置的不良定位结果数据库中获得与该定位请求的定位信号对应的不良定位结果的位置信息,所述不良定位结果数据库用于存储定位请求的定位信号及定位请求的定位信号对应的不良定位结果的位置信息;确定获得的位置信息与获得的不良定位结果的位置信息是否相近;如果获得的位置信息与获得的不良定位结果的位置信息相近,则确定获得的位置信息为不良定位结果。
  • 定位检测方法装置
  • [实用新型]一种不良点多向定位装置及液晶面板无损检测装置-CN201420140304.3有效
  • 沈奇雨 - 北京京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
  • 2014-03-26 - 2014-07-23 - G02F1/13
  • 本实用新型公开了一种不良点多向定位装置及液晶面板无损检测装置,不良点多向定位装置,包括:一正多角星形的定位片,每个角均设有顶角圆片;一驱动机构,包括方向按钮、位置按钮、方向传动线圈、位置传动线圈以及传动线圈锁定器;一控制定位片位置的吸附片,该吸附片分别通过方向传动线圈和位置传动线圈连接至方向按钮和位置按钮;以及一标记元件。本实用新型通过吸附片吸附定位片的方法,对不良位置进行精确描定,使位于定位片上的顶角圆片与不良位置对应,再通过标记元件对顶角圆片位置进行标记,由于顶角圆片采用实心结构,从而使不良位置以外部分被标记,而没有被标记元件标记区则为不良位置区,在进行拆屏分析时,极大地缩小了所需观察的不良位置范围,提高不良分析的效率。
  • 一种不良多向定位装置液晶面板无损检测
  • [发明专利]不良定位装置,方法和目视检查装置-CN201510249467.4有效
  • 李良实 - 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
  • 2015-05-15 - 2018-05-11 - G02F1/13
  • 本发明提供一种不良定位装置,方法和目视检查装置。所述不良定位装置对显示面板上的不良位置进行定位,所述不良定位装置包括第一红外光栅发射器、第二红外光栅发射器、标记单元和不良定位单元,第一红外光栅发射器发射的多束红外光和第二红外光栅发射器发射的多束红外光具有分别对应于所述显示面板包括的每一显示屏的相交点;标记单元,用于当检测到显示面板存在不良时遮挡与不良位置对应的相交点处的红外光;所述不良定位单元,用于确定红外光的光量发生变化的相交点对应的显示面上的位置不良位置。本发明可以自动确定显示面板上的不良位置不良显示屏的身份识别信息,提高效率及准确度。
  • 不良定位装置方法目视检查
  • [发明专利]显示面板显示不良的分析方法-CN202211604640.4在审
  • 梁吉安 - 乐金显示光电科技(中国)有限公司
  • 2022-12-13 - 2023-03-07 - G09G3/00
  • 本发明公开了一种显示面板显示不良的分析方法。该显示面板显示不良的分析方法包括:获取不良显示面板;确定所述不良显示面板存在显示不良现象的区域的不良位置信息;获取所述不良显示面板的生产履历;确定所述不良显示面板的异常特征信息;基于所述生产履历、所述异常特征信息和所述不良位置信息确定不良原因;基于所述不良原因确定改善信息。通过采用上述方案,解决了现有的显示面板显示不良的分析对分析人员的经验要求较高,分析时间较长,分析的失败率较高的问题。
  • 显示面板不良分析方法

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