“不良位置检测”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果6361695个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]显示面板中不良位置检测装置和检测方法-CN201810145963.9在审
发明人：姚健;高章飞;孙国防 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方显示技术有限公司
申请日： 2018-02-12 - 公布日： 2018-07-24 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板中不良位置检测装置和检测方法，所述装置包括：设置于目视检测装置的目视检测平台上方、且与所述目视检测平台同步转动的投影机，以及与所述投影机通讯的投影控制终端；其中，所述投影控制终端用于将第一画面发送至所述投影机，由所述投影机将第一画面投影到所述目视检测平台上放置的显示面板；其中，第一画面包括覆盖所述显示面板的X‑Y全屏坐标系，以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。应用本发明可以对不良位置进行精确、高效率检测判定，有助于更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。
显示面板投影机目视检测不良位置检测不良位置投影控制参考线检测终端目视检测装置不良问题产生原因画面发送画面投影同步转动高效率产能全屏判定覆盖通讯应用

[发明专利]光学膜的不良检测装置及方法-CN201610098872.5有效
发明人：金种佑;朴真用 -专利权人：东友精细化工有限公司
申请日： 2016-02-23 - 公布日： 2020-02-04 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供光学膜的不良检测装置及方法。根据本发明的光学膜的不良检测装置包含：接收部，其由至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息；不良位置决定部，其基于所述不良信息，决定与所述光学膜卷对应的2维平面上的不良的位置；探索部，其基于所述不良的位置，探索在所述平面上已经被设定的数以上的不良存在的区域；和不良检测部，其基于所述被探索的区域中所含的不良的密集度来检测密集性不良。
光学不良检测装置方法

[发明专利]光学膜的不良检测装置及方法-CN201610102536.3有效
发明人：金种佑;朴真用 -专利权人：东友精细化工有限公司
申请日： 2016-02-24 - 公布日： 2021-02-09 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供光学膜的不良检测装置及方法。本发明涉及的光学膜的不良检测装置包含：接收部，其从至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息；不良位置决定部，其基于所述不良信息来决定与所述光学膜卷对应的二维平面上的不良的位置；探索部，其基于所述不良的位置来探索所述平面上已被设定的数以上的不良存在的区域；不良检测部，其基于所述被探索的区域中所含的不良的数及不良间的间隔来检测周期性不良。
光学不良检测装置方法

[实用新型]一种自动化流水线上不良品跟踪系统-CN202120282562.5有效
发明人：杨定炎 -专利权人：广州市兴世机械制造有限公司
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： B07C5/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种自动化流水线上不良品跟踪系统，当检测到不良品时，则通过PLC控制器接收到不良品检测信号后，通过指示灯控制器向灯带发送亮灯信号，由于灯带由若干个指示灯排列组成，且布设于流水线上不良品的检测位置与排废位置之间，因此，通过限定接收亮灯信号的指示灯与不良品的当前运动位置相对应，可以使得灯带上的亮灯位置与不良品的运动位置同步，从而通过亮灯过程实现对不良品从检测位置到剔除位置的跟踪，从而便于判断剔废情况。
一种自动化流水线上不良跟踪系统

[发明专利]检测结果的播报方法和装置-CN201710169683.7有效
发明人：陈健 -专利权人：广州视源电子科技股份有限公司;广州镭晨自动控制科技有限公司
申请日： 2017-03-21 - 公布日： 2017-07-18 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种检测结果的播报方法和装置。所述方法包括：获取光学检测设备对待检目标的检测结果；查找所述检测结果中是否存在不良结果；若存在所述不良结果，则获取所述不良结果包含的不良类型，获取与所述不良类型对应的提示语音，播报所述提示语音。本发明实施例的技术方案克服了现有技术中光学检测结果输出形式单一，无法体现不良的具体类型以及不良的具体位置的缺陷，实现了光学检测结果直接输出不良类型和不良位置，减少劳动力的浪费。
检测结果播报方法装置

[发明专利]一种自动化流水线上不良品跟踪系统及方法-CN202110137095.1在审
发明人：杨定炎 -专利权人：广州市兴世机械制造有限公司
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： B07C5/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种自动化流水线上不良品跟踪系统及方法，当检测到不良品时，则通过PLC控制器接收到不良品检测信号后，通过指示灯控制器向灯带发送亮灯信号，由于灯带由若干个指示灯排列组成，且布设于流水线上不良品的检测位置与排废位置之间，因此，通过限定接收亮灯信号的指示灯与不良品的当前运动位置相对应，可以使得灯带上的亮灯位置与不良品的运动位置同步，从而通过亮灯过程实现对不良品从检测位置到剔除位置的跟踪，从而便于判断剔废情况。
一种自动化流水线上不良跟踪系统方法

[发明专利]液晶面板显示不良分析方法及分析系统-CN202111389666.7在审
发明人：陈宏斌 -专利权人：乐金显示光电科技（中国）有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开一种液晶面板显示不良分析方法及分析系统，该方法包括：获取不良面板；对不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数；对不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面；基于显示画面对不良面板进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果；根据显示画面对应的补偿数据及不良位置参数确定显示画面仿真数据；根据不良检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，显示不良分析策略包括对不良面板进行透湿异常分析及对不良面板进行显示屏模组异常分析通过整合特定显示不良现象及类型，执行对应的异常分析方法，快速查找显示不良的成因，减少显示不良解析失败的概率。
液晶面板显示不良分析方法系统

[发明专利]显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统-CN201710381203.3有效
发明人：孙平;蒋耀华;刘光耀 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司
申请日： 2017-05-25 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提出一种显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统，其中，该方法包括：获取待检测显示面板的不良坐标位置；根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置；在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上该实施例的方法将显示面板的坐标位置准确投射至模拟显示面板之上，方便了相关人员根据模型显示面板上的坐标位置进行复判，精确标定了不良在显示面板上的坐标位置，进而可提高维修不良的显示面板的效率。
显示面板不良坐标位置核验方法系统

[发明专利]一种不良子像素的定位方法、装置-CN201610341588.6有效
发明人：谈世栋;黄正阳;刘正才;胥大千 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司
申请日： 2016-05-20 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种不良子像素的定位方法、装置，属于显示技术领域，其可解决现有的不良子像素的定位方法无法对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的不良子像素进行定位的问题。本发明的不良子像素的定位方法，包括：向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，以通过不良图形确定出不良子像素的颜色；向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
一种不良像素定位方法装置

[实用新型]直立式圆盘检测机构-CN201821472630.9有效
发明人：姚志金;古明篷 -专利权人：欣竑科技有限公司
申请日： 2018-09-10 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： B24B3/24 文献下载
摘要：本实用新型的直立式圆盘检测机构，其包括：一本体，该本体设有一入料位置、一影像检测位置、一抗折检测位置、一研磨位置、一出料位置及一不良位置；一影像检测器，设于该影像检测位置；一抗折检测器，设于该抗折检测位置；一研磨器，设于该研磨位置；一出料顶针，设于该出料位置；一不良顶针，设于该不良位置；以及一直立式圆盘，该直立式圆盘设于该本体上，且设有至少一收容槽，该收容槽可收容微钻头，通过该直立式圆盘的转动，该收容槽会依序通过该入料位置、该影像检测位置、该抗折检测位置、该研磨位置、该出料位置、该不良位置，最后再回到该入料位置。
直立式不良位置出料位置检测位置入料位置研磨位置影像检测收容槽顶针抗折一抗检测器本实用新型影像检测器立式圆盘微钻头研磨器出料转动收容

[发明专利]位姿检测方法及系统-CN202010686564.0有效
发明人：彭明;杨延竹;柳俊先;刘春燕;于波;张华;尹程斌 -专利权人：深圳市格灵人工智能与机器人研究院有限公司;深圳市格灵人工智能与机器人研究院
申请日： 2020-07-16 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种位姿检测方法及系统。其中，位姿检测方法，包括：测待检测元件并生成检测信号；通过所述检测信号触发二维检测器件并对所述待检测元件的位置信息、姿态信息进行检测；测所述待检测元件的立体信息；据所述姿态信息、所述立体信息判断所述待检测元件是否为不良元件，并生成不良元件的位置信息；根据所述不良元件的位置信息对所述不良元件进行剔除。上述位姿检测方法通过检测半导体器件表面的参数，从而有效地检测半导体器件是否符合标准。
检测方法系统

[发明专利]直立式圆盘检测研磨设备-CN201811049730.5在审
发明人：姚志金;古明篷 -专利权人：欣竑科技有限公司
申请日： 2018-09-10 - 公布日： 2020-03-17 - 主分类号： B24B3/24 文献下载
摘要：本发明提供一种直立式圆盘检测研磨设备，其包括：一本体，该本体设有一入料位置、一影像检测位置、一抗折检测位置、一研磨位置、一出料位置及一不良位置；一入料顶针，设于该入料位置；一影像检测器，设于该影像检测位置；一抗折检测器，设于该抗折检测位置；一研磨器，设于该研磨位置；一出料顶针，设于该出料位置；一不良顶针，设于该不良位置；以及一直立式圆盘，该直立式圆盘设于该本体上，且设有至少一收容槽，该收容槽可收容微钻头，通过该直立式圆盘的转动，该收容槽会依序经由该入料位置、该影像检测位置、该抗折检测位置、该研磨位置、该出料位置、该不良位置，最后再回到该入料位置。
立式圆盘检测研磨设备

[实用新型]废瓶收集量检测装置-CN202020076850.0有效
发明人：梁晓文;屈乐;汪辉;武国生 -专利权人：李锦记（广州）食品有限公司
申请日： 2020-01-13 - 公布日： 2020-09-11 - 主分类号： B65G43/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及不良品检测设备的自动化控制技术领域，旨在提供废瓶收集量检测装置，其技术方案要点是包括设置在不良品区域的检测元件，检测元件的输出端与空瓶检测机所在位置的前段输送链条的动力源电性连接，检测元件在不良品区域满瓶时输出电信号，控制空瓶检测机所在位置的前段输送链条停止工作。本实用新型适用于在不良品区域满瓶时自动控制链条停机，方便操作人员及时处理不良品区域瓶子；以配合处理不良品瓶，避免堆积过多难以处理；防止不良品区域满瓶时，踢除装置再次踢瓶会出现碰碎瓶子的风险；同时，减少处理不良品瓶的处理时间
收集检测装置

[发明专利]一种不良驾驶行为检测方法及装置-CN201811429107.2有效
发明人：甘家华;黄大伟;李同高;赵文涛;崔岳;夏曙东 -专利权人：北京千方科技股份有限公司
申请日： 2018-11-27 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： B60R16/023 文献下载
摘要：本发明公开了一种不良驾驶行为检测方法及装置，该方法包括：获取待检测车辆自身的第一位置信息；通过车身网络采集所述待检测车辆的车身信息；根据所述第一位置信息及所述车身信息，确定所述待检测车辆是否存在不良驾驶行为本发明还获取待检测车辆周围预设距离范围内的周围车辆的第二位置信息，根据待检测车辆自身的第一位置信息及车身信息，或者根据待检测车辆的第一位置信息、车身信息以及周围车辆的第二位置信息，能够自动检测待检测车辆是否存在乱打转向灯、不关远光灯或不让行紧急车辆等不良驾驶行为，督促驾驶员改正不良驾驶行为，减少不良驾驶行为造成的不必要的交通事故，提高驾驶出行的安全性。
一种不良驾驶行为检测方法装置

[发明专利]不良检测装置及不良检测方法-CN202180057322.8在审
发明人：宗像広志;足立卓也 -专利权人：雅马哈智能机器控股株式会社
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： H01L21/60 文献下载
摘要：一种不良检测装置(100)，检测半导体装置(10)的不良，所述不良检测装置(100)包括：驻波产生器(20)，将驻波(30)施加至半导体装置(10)以对引线(13)赋予吸引力；摄像机(41、42)；以及控制部(50)，调整驻波产生器(20)的动作并且进行半导体装置(10)的不良检测，控制部(50)通过摄像机(41、42)来拍摄对引线(13)赋予了吸引力的第一状态的半导体装置(10)的第一图像、及对引线(13)赋予的吸引力比第一状态小的第二状态的半导体装置(10)的第二图像，对第一图像与第二图像进行比较而进行半导体装置(10)的不良检测。
不良检测装置方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条