专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种缺陷检测维修系统、方法以及维修装置-CN201710662636.6在审
  • 赖国荣;刘绕兵;朱德银 - 深圳市阿拉玎光电自动化有限公司
  • 2017-08-04 - 2017-12-15 - G01R31/28
  • 该缺陷检测维修系统包括光学检测单元,用于获取待检测产品的完整图像;检测控制单元,用于接收光学检测单元获得的图像,并对图像进行分析,以发现待检测产品是否为不良产品,以及缺陷在不良产品上所处的位置;缺陷指示单元,包括激光指示装置以及位移驱动装置,激光指示装置适于产生激光,位移驱动装置用于带动激光指示装置移动;以及指示控制单元,其与检测控制单元以及缺陷指示单元信号连接,用于从检测控制单元获得不良产品的焊锡点缺陷位置信息,并根据缺陷位置信息控制缺陷指示单元的位移驱动装置移动,以使激光指示装置产生激光指示到不良产品的焊锡点缺陷位置
  • 一种缺陷检测维修系统方法以及装置
  • [发明专利]图像形成装置、图像形成系统、管理装置以及记录介质-CN201810479207.X有效
  • 成松英一 - 柯尼卡美能达株式会社
  • 2018-05-18 - 2021-07-06 - G03G15/00
  • 提供一种图像形成装置、图像形成系统、管理装置以及记录介质,在连续转印介质上的图像为不良的情况下,能够容易掌握不良图像的位置。图像形成装置的特征在于,具有:图像形成部,基于任务在连续转印介质上形成图像;以及控制部,控制图像形成部,控制部具有:由图像形成部在连续转印介质上印刷表示连续转印介质的至少长边方向上的位置的标识的信息的功能;以及取得读取了连续转印介质上的图像的读取结果,并基于读取结果来判定连续转印介质上的图像的好坏的功能,进一步,在被印刷了位置的标识的转印介质中判定为图像为不良的情况下,通知成为判定为不良的图像的位置的标识的信息
  • 图像形成装置系统管理以及记录介质
  • [实用新型]一种缺陷检测维修系统以及维修装置-CN201720980081.5有效
  • 赖国荣;刘绕兵;朱德银 - 深圳市阿拉玎光电自动化有限公司
  • 2017-08-04 - 2018-02-13 - G01R31/28
  • 该缺陷检测维修系统包括光学检测单元,用于获取待检测产品的完整图像;检测控制单元,用于接收光学检测单元获得的图像,并对图像进行分析,以发现待检测产品是否为不良产品,以及缺陷在不良产品上所处的位置;缺陷指示单元,包括激光指示装置以及位移驱动装置,激光指示装置适于产生激光,位移驱动装置用于带动激光指示装置移动;以及指示控制单元,其与检测控制单元以及缺陷指示单元信号连接,用于从检测控制单元获得不良产品的焊锡点缺陷位置信息,并根据缺陷位置信息控制缺陷指示单元的位移驱动装置移动,以使激光指示装置产生激光指示到不良产品的焊锡点缺陷位置
  • 一种缺陷检测维修系统以及装置
  • [实用新型]一种封口机-CN202021999938.6有效
  • 刘宏星;李东国;陈桃桃 - 肇庆绿宝石电子科技股份有限公司
  • 2020-09-14 - 2021-07-16 - H01G13/00
  • 本实用新型公开了一种封口机,工作时,封口针带动感受器上下移动,当封口针移动到封口位置时,检测装置对感受器进行检测,如果检测装置可以检测到感受器,则说明封口针处于预定位置,该产品为良品,可以进一步作封口操作,如果检测装置无法检测到感受器,则说明封口针的位置高于或低于预定位置,产品为胶盖凸出或胶盖漏穿,则判定为不良品,不进行封口并进行剔除,以保证胶盖凸出或胶盖漏穿等不良品不流入客户端,避免造成外观不良或者在客户使用的时候出现特性不良的情况
  • 一种封口机
  • [发明专利]信息处理装置及信息处理方法-CN200610125628.X无效
  • 森弘之;松下明;相马宏司;谷上昌伸 - 欧姆龙株式会社
  • 2006-08-24 - 2007-02-28 - G06Q10/00
  • 提供一种信息处理装置,不会增加检查项目,即可进行精度更高的不良原因的推定,且可将推定的不良原因通知给用户。其包括:工序状态收集部,从检查装置取得印刷基板制造时的检查结果;不良位置确定部,根据取得的检查结果,按照各个不良的种类确定不良的产生场所;偏重方判断部,判断同种不良产生的产生场所有无偏重;不良原因确定部,参照预先存储于存储部中的、至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息、和表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息,当存储部中存储有与判断结果对应的偏重信息时,从存储部取得与该偏重信息相关联的不良原因信息;和显示控制部,使取得的不良原因信息显示在显示部上。
  • 信息处理装置方法
  • [实用新型]一种锂电池K值测试设备-CN202222905670.0有效
  • 祝荣昌;张劲波;刘军;王雅锋 - 深圳市景鸣科技有限公司
  • 2022-11-01 - 2023-01-31 - B07C5/344
  • 本申请公开了一种锂电池K值测试设备,包括机台和控制器,机台上设有上料机构、检测机构、推盒机构、记录机构、不良品剔除机构和下料机构,检测机构用于检测电池的K值,推盒机构用于将电池从检测机构依次推送到记录机构和下料机构的相应位置处,不良品剔除机构用于将检测机构检测出的不良品移出,记录机构用于记录电池的K值数据;不良品剔除机构包括抓取机构和不良品传送带,抓取机构用于抓取不良品并将其运送到不良品传送带上,不良品传送带用于将不良品输送出机台外侧本申请中在机台上设置不良品剔除机构能够自动分选处不良品,并将不良品移送出机台,提高了设备的自动化程度,也能够大幅度提高设备的测试效率。
  • 一种锂电池测试设备
  • [发明专利]生产线监视装置-CN201280076090.1有效
  • 中山大辅 - 富士机械制造株式会社
  • 2012-09-28 - 2017-12-08 - G05B19/418
  • 本发明提供生产线监视装置,高精度地确定生产不良的原因,并且减少分析数据的数据量和计算量,能够进行实时处理。本发明的生产线监视装置(6)具备不良征兆检测部(61),检测生产线(1)中的生产不良的征兆;及不良原因确定部(62),确定生产不良的原因。不良征兆检测部(61)收集由检查装置(5)对用于确定产品中的位置的每个基准点(REF1~REF3)所测定的测定信息,根据基准点(REF1~REF3)处的测定信息的历时变化来检测生产不良的征兆。不良原因确定部(62)基于不良征兆检测部(61)检测出生产不良的征兆时的与基准点(REF2)相关的生产信息来进行分层分析,并根据分析结果来确定生产不良的原因不良
  • 生产线监视装置
  • [实用新型]一种IC芯片不良品自动筛选机-CN202021763173.6有效
  • 朱冬成 - 南通斯康泰智能装备有限公司
  • 2020-08-21 - 2021-04-20 - B07C5/34
  • 本实用新型公开了一种IC芯片不良品自动筛选机,包括机架、振动盘、流道、视觉传感器、良品盒、不良品流道和不良品盒;机架水平设置,且在其上表面一侧水平设有振动盘;在机架的上表面另一侧水平放置有良品盒,且在振动盘和良品盒之间倾斜设有流道,流道的上端与振动盘的出口端连通,且其下端与良品盒的内部连通;在流道的中间位置正上方悬挂有视觉传感器,且视觉传感器的检测端正对着流道;在流道的一侧水平放置有不良品盒,且在流道与不良品盒之间倾斜设有不良品流道,不良品流道的上端与流道的中间位置连通,且其下端与不良品盒的内部连通。本实用新型采用振动盘上料,视觉传感器检查剔除不良品,速度快、效率高、运行稳定,提高了工作效率。
  • 一种ic芯片不良自动筛选
  • [发明专利]显示器的不良显示的修复方法及其装置-CN201610647084.7有效
  • 孙佳瑶;朱修剑 - 昆山国显光电有限公司
  • 2016-08-09 - 2018-10-23 - G09G5/10
  • 本发明涉及一种显示器的不良显示的修复方法及其装置,上述显示器的不良显示的修复方法包括:获取输入图像对应的每个像素点的灰阶值,并根据查找表确认每个像素点位置是否在不良显示区域内;若像素点位置不良显示区域内,则判断不良显示区域中的各个像素点的灰阶值是否能在查找表中找到对应的修复值;若不良显示区域中的像素点的灰阶值能在查找表中找到对应的修复值,则通过查找表对像素点进行修复,得到像素点的修正后的灰阶值;将修正后的灰阶值对应的图像进行显示本发明还提供相应的显示器的不良显示的修复装置。本发明通过查找表的方式能够快速找到需要修正的像素点所对应的修正值,对不良显示区域中的像素点进行快速、有效地修复。
  • 显示器不良显示修复方法及其装置

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