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[发明专利]一种基于教室智能灯控的远程多目标监测系统-CN202210301583.6在审
发明人：伍卫东;项道满;孟晶;刘小勇 -专利权人：广东卫明眼视光研究院
申请日： 2022-03-24 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： F21S8/06 文献下载
摘要：通过黑板外侧的检测探头，获取学生的第一姿态数据；教室吊灯：设置于教室顶部，进行教室照明，并通过其内部设置的多目标检测装置，获取学生的第二姿态数据；云端服务器：用于接收所述第一姿态数据和第二姿态数据，并进行不良姿态行为判定，确定存在不良姿态行为的学生位置和不良姿态行为特征；用户端：用于接收所述不良姿态行为的学生位置和不良姿态行为特征，并对对应的学生进行提醒。本发明将学生的不良姿态行为的信息发送至云端服务器和用户端，方便家长和老师随时查看，及时发现学生不良坐姿的情况，预防学生近视的发生与发展，提高了实用性和科学性。
一种基于教室智能远程多目标监测系统

[实用新型]一种基于自动化智能检测技术的晶元不良品标定设备-CN202020151583.9有效
发明人：朱奎锋;苏艳杰;杜静娟 -专利权人：天津福莱迪科技发展有限公司
申请日： 2020-02-04 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： B25H7/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于自动化智能检测技术的晶元不良品标定设备，具体工作流程为：首先，检测装置通过视觉系统对不良产品进行检测，将不良品的位置上传系统；然后，通过四轴机械手带动标定笔移动到不良位置上方；再通过四轴机械手带动标定笔对不良的点或不良的区域进行划线定位标记本发明的优点是能够实现对不良产品的自动标定，提升标定的准确率，减少人为因素带来的误差，节省人力，提高标定的效率。
一种基于自动化智能检测技术不良标定设备

[发明专利]脑电波测量系统、脑电波测量方法及其程序-CN201180005224.6有效
发明人：足立信夫;小泽顺;寺田佳久;森川幸治 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2011-06-13 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： A61B5/0476 文献下载
摘要：脑电波测量系统具备：频率分析部，其在用户装载了测量脑电波信号的脑电波测量部时，将脑电波信号的频率功率按每个基准电极与测量电极的组来进行分析；不良情况电极判定部，其通过比较分析出的频率功率和第1阈值，判定每个电极的装载状态是否良好；不良情况要因推测部，其决定判定为装载状态不好的不良情况电极数、和参考预先存储的多个电极的位置而求出的不良情况电极接触于用户的位置，并参照不良情况模式，推测电极的装载状态不好的要因。由此，在日常生活环境下的脑电波测量中，判定在多个电极之中哪个电极因何种要因产生了不良情况，来推测不良情况要因，从而以简单的方式实现稳定的脑电波测量。
脑电波测量系统测量方法及其程序

[发明专利]不良品检测方法及不良品检测设备-CN202310753756.2在审
发明人：周佩珍;余兵;刘好果;武梦秋 -专利权人：盐城维信电子有限公司
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明公开了一种不良品检测方法及不良品检测设备。不良品检测方法包括如下步骤：放置整张板至检测平台，获取整张板的产品信息；根据产品信息获取对应的设计资料，并根据设计资料规划的移动路径分别获取各片柔板的第一图像信息；根据各片柔板的第一图像信息判断柔板是否存在不良；若柔板存在不良，则对不良柔板进行不良标记，并将不良标记信息和柔板信息对应存储。本发明提供的不良品检测方法，可准确可靠的检测出不良品，并可将不良柔板的信息及其出现不良的位置和情况进行存储或传送，更便于不良品的维护和管理，使得整个柔板的制造中不良品的信息关联性更好，有利于提高柔板制造的智能化管理
不良检测方法设备

[发明专利]一种石膏板不良品剔除装置及其实现方法-CN201911052768.2有效
发明人：刘晨;周继明;刘伟;王浩然;鲁旭 -专利权人：太仓北新建材有限公司;北新集团建材股份有限公司
申请日： 2019-10-31 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： B07C5/04 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种石膏板不良品剔除装置及实现方法，包括沿着石膏板的传送方向顺次排列的印刷标记机构、视觉监测机构和剔除机构，印刷标记机构设置在石膏板的干燥处理前段并在靠近石膏板不良品的边缘处标记，视觉监测机构设置石膏板的干燥处理后段，视觉监测机构将实时拍摄石膏板图像传递到处理器内，处理器对石膏板的拍摄图像识别认证并根据不良品标记判断石膏板的质量以及石膏板不良品标记在一组石膏板中的分布位置，将不同分布位置的石膏板不良品对应在两组剔除机构自动剔除；本方案将石膏板不良品所在位置的输送链条进行旋转，剔除覆盖范围广，对于除废剔除工作的时间要求不严格，适应性强。
一种石膏板不良剔除装置及其实现方法

[发明专利]半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序-CN200680054977.5无效
发明人：真岛敏幸;嶋瀬朗;寺田浩敏;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-10-23 - 公布日： 2009-06-24 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、进行不良分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)，使用由多个层的每一层中的配线图案的图案数据组记述半导体器件的多个配线的构成的配线信息，将多个配线中通过分析区域的配线作为不良的候补配线而抽出，并且，在候补配线的抽出中，通过进行使用图案数据组的配线图案的等电位追踪由此，实现了能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。
半导体不良分析装置方法以及程序

[发明专利]半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序-CN200680054964.8无效
发明人：真岛敏幸;嶋瀬朗;寺田浩敏;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-10-23 - 公布日： 2009-07-15 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、以及对半导体器件的不良进行分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)具有分析区域设定部，该分析区域设定部通过比较不良观察图像中的亮度分布和规定的亮度临界值，从而抽出起因于不良的反应区域，并对应于反应区域而设定用于半导体器件的不良分析的分析区域。由此，实现了一种能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。
半导体不良分析装置方法以及程序

[发明专利]半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序-CN200680054968.6无效
发明人：真岛敏幸;嶋瀬朗;寺田浩敏;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-10-23 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、进行不良分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)抽出半导体器件的多个网路中通过从不良观察图像设定的多个分析区域的至少1个的候补网路、以及该候补网路通过分析区域的通过次数，选择通过次数最多的候补网路，以作为第1不良网路，并且，着眼于第1不良网路未通过的分析区域，进行第2不良网路的选择。由此，实现了能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。
半导体不良分析装置方法以及程序

[发明专利]半导体不良解析装置、不良解析方法、及不良解析程序-CN200680022711.2无效
发明人：真岛敏幸;嶋瀬朗;寺田浩敏;堀田和宏;武田雅裕 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-06-20 - 公布日： 2008-06-25 - 主分类号： G01R31/302 文献下载
摘要：由取得半导体设备的不良观察图像(P2)的检测信息取得部(11)；取得布局信息的布局信息取得部(12)；对半导体设备的不良进行解析的不良解析部(13)；和将解析结果信息显示在显示装置(40)上的解析画面显示控制部(14)，构成不良解析装置(10)。不良解析部(13)，参照不良观察图像(P2)来设定解析区域，同时，对半导体设备的布局中所含的多个网路，抽出通过解析区域的网路。由此，半导体不良解析装置、解析方法、及解析程序可实现准确且高效地进行半导体设备的不良解析。
半导体不良解析装置方法程序

[实用新型]销孔检测装置-CN201822240137.0有效
发明人：王效国 -专利权人：吉达克精密金属科技(常熟)有限公司
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2019-11-22 - 主分类号： G01N19/00 文献下载
摘要：本实用新型的销孔检测装置，设于冲压模具中，所述销孔检测装置包括：防呆棒，一端固定于模具的上模上，所述防呆棒的位置对应于产品销孔的位置；感应器，设于模具的上模上，感测上模是否运动到位。本实用新型的销孔检测装置，通过在冲压模具上设置防呆棒，并设置感应器，在检测销孔时，若防呆棒进入不到销孔中，则说明销孔有不良，若防呆棒进入到销孔中，则说明销孔无不良，从而能够及时发现产品的不良，避免产品批量性不良，而且避免了不良的产品进入冲压制程，节约成本，减少不良率。
销孔防呆检测装置上模本实用新型冲压模具感应器模具不良率检测销批量性感测压制节约发现

[实用新型]一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备分料组件-CN202122074126.1有效
发明人：何星;母寿星;刘军;王强 -专利权人：四川辰鸿电子有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本实用新型公开一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备分料组件，包括设置于集成芯片PIN检测与不良品分类设备的循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与所述循环组件的循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与所述循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近所述循环组件的进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。本实用新型分料组件设置一个良品出料组件和数个不良品出料组件，可对电性检测后的集成芯片进行分类。
一种集成芯片 pin 检测不良分类设备组件

[实用新型]一种PCB板加工用检测装置-CN202321091650.2有效
发明人：李峰;韩鹏;狄庆超;李侠;夏升阳 -专利权人：定南县锦鹏电子有限公司
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： B07C5/36 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种PCB板加工用检测装置，包括检测板，其特征在于：所述检测板安装在输送机构上且其顶部开设有用于放置PCB板的放置槽，所述放置槽底部开设有供支撑板穿过的开口，所述支撑板可由伸缩机一驱动向上位移将不良品顶出放置槽，所述输送机构上方设置有若干个用于检测PCB板接口性能的测试板，每个所述测试板检测的位置不同，每个所述测试板左右两侧分别设置有用于给不良品打上相应不良标记的标记机构和用于将不良品推入标记机构的推料机构，不同的不良标记方便了复检人员快速的找出不良位置进行复检，提高了生产效率。
一种 pcb 工用检测装置

[实用新型]一种阻抗测试及分拣装置-CN201820692788.0有效
发明人：贾建坤;李红亮 -专利权人：苏州鑫富力劲自动化设备有限公司
申请日： 2018-05-10 - 公布日： 2019-01-22 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种阻抗测试及分拣装置，包括机架、CCD相机、供料输送线、合格品输送线以及不良品输送线；所述机架上端中部设置有旋转盘，所述机架上端面沿旋转盘的圆周方向依次设置有四轴机械手、阻抗测试机构、合格品下料机构以及不良品下料机构，所述供料输送线的下游端与四轴机械手的位置相对应，所述CCD相机与供料输送线下游端的上下位置相对应，所述合格品输送线的上游端与合格品下料机构的位置相对应，所述不良品输送线的上游端与不良品下料机构的位置相对应本实用新型可对背光板产品进行连续的阻抗检测，并且将合格品与不良品自动分拣，降低人力劳动强度，提高检测的准确度。
输送线合格品不良品下料机构阻抗测试供料本实用新型机械手分拣装置上游端旋转盘四轴上下位置依次设置自动分拣阻抗检测准确度背光板上端面下游端上端检测

[发明专利]不良检测装置及不良检测方法-CN202180057322.8在审
发明人：宗像広志;足立卓也 -专利权人：雅马哈智能机器控股株式会社
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： H01L21/60 文献下载
摘要：一种不良检测装置(100)，检测半导体装置(10)的不良，所述不良检测装置(100)包括：驻波产生器(20)，将驻波(30)施加至半导体装置(10)以对引线(13)赋予吸引力；摄像机(41、42)；以及控制部(50)，调整驻波产生器(20)的动作并且进行半导体装置(10)的不良检测，控制部(50)通过摄像机(41、42)来拍摄对引线(13)赋予了吸引力的第一状态的半导体装置(10)的第一图像、及对引线(13)赋予的吸引力比第一状态小的第二状态的半导体装置(10)的第二图像，对第一图像与第二图像进行比较而进行半导体装置(10)的不良检测。
不良检测装置方法

[发明专利]不良检测装置以及不良检测方法-CN202180044011.8在审
发明人：宗像広志;麦可·柯比;足立卓也 -专利权人：雅马哈智能机器控股株式会社
申请日： 2021-01-21 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：一种不良检测装置(100)，检测半导体装置(13)的不良，且包括：超声波喇叭(21)，对半导体装置(13)进行超声波激振；激光光源30，向半导体装置(13)照射平行激光光(32)；照相机(40)，具有摄像元件(42)，所述摄像元件(42)拍摄经平行激光光(32)照射的半导体装置(13)而获取图像；以及检测部(55)，基于照相机(40)所拍摄的图像来进行半导体装置(13)的不良检测，检测部(55)基于照相机(40)所获取的半导体装置(13)的静止时的图像与超声波振动时的图像的偏差，来进行半导体装置(13)的不良检测。
不良检测装置以及方法