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[发明专利]用于显示面板的线类不良检测的方法和检测装置-CN201310209644.7有效
发明人：李明;张钟石;金用燮;刘晓涛 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-05-30 - 公布日： 2013-09-04 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种用于显示面板的线类不良检测的方法和检测装置。所述方法包括：向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第一导通信号和第一关闭信号，使奇数行栅扫描线控制的晶体管导通，而偶数行栅扫描线控制的晶体管关闭，获得第一检测画面；向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关闭信号和第二导通信号，使奇数行栅扫描线控制的晶体管关闭，而偶数行栅扫描线控制的晶体管导通，获得第二检测画面；比较第一检测画面和第二检测画面，确定在第一检测画面或第二检测画面上出现的不良显示线为真的不良显示。本发明方法使检测结果更能够接近模组信号输入状态的点灯检查结果，能够检测出显示面板的真的不良情况。
用于显示面板不良检测方法装置

[发明专利]一种异物不良点监控方法及监控装置-CN201310156281.5有效
发明人： 张钟石;高章飞;刘俊豪 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-04-28 - 公布日： 2013-09-04 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种异物不良点监控方法及监控装置，其中上述异物不良点监控方法包括异物不良点监控方法，包括：获取大基板加工过程中各个异物不良点的第一位置信息以及该异物不良点的第一位置信息与产生该异物不良点的制备工序之间的对应关系；大基板内预先划分有多个呈阵列排布的显示屏区域；获取大基板加工完成后一个或多个显示屏区域中的显示区域内存在的各个异物不良点的第二位置信息；将第二位置信息与第一位置信息进行匹配，当第二位置信息与第一位置信息匹配成功时，通过对应关系确定产生该异物不良点的制备工序。该异物不良点监控方法，异物不良点的分析反馈的周期短，在异物不良点分析反馈周期内浪费的人力和物力较少。
一种异物不良监控方法装置

[发明专利]一种液晶显示面板检测装置-CN201210226864.6无效
发明人：郭栋;金用燮;张钟石 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2012-06-29 - 公布日： 2012-10-24 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种液晶显示面板检测装置，用以快速检测出被检测的液晶显示面板的不良现象。本发明提供的液晶显示面板检测装置包括：底座；第一透明基板，位于所述底座上垂直于底座放置；第二基板，位于所述底座上垂直于底座放置，且与所述第一透明基板相对平行放置，其中，所述第一透明基板和第二基板之间的垂直距离不小于被检测的液晶显示面板的厚度；第一透明金属膜层，形成在所述第一透明基板上；第二金属膜层，形成在所述第二基板上；为第一透明金属膜层和第二金属膜层提供电压信号的信号发生器，与所述第一透明金属膜层和第二金属膜层电连接；为被检测的液晶显示面板提供背光的背光源。
一种液晶显示面板检测装置

[发明专利]修复像素亮点的方法-CN201110236629.2无效
发明人：吴涛;范朋;张钟石 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2011-08-17 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种修复像素亮点的方法，该方法包括：将像素亮点处的透明电极切割断，阻断像素电极侧的透明电极与彩色滤光片侧的透明电极的连接。此种像素亮点的修复方法简单，可有效提高像素亮点的修复效率。
修复像素亮点方法

[发明专利]液晶显示器亮点维修方法-CN201110284648.2有效
发明人：钮曼萍;吴涛;张钟石 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2011-09-22 - 公布日： 2012-08-29 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种液晶显示器亮点维修方法，该维修方法，对液晶显示器的彩膜板进行维修，该彩膜板包括基板以及设置于该基板上的黑矩阵以及红绿蓝三色彩膜，三色彩膜被黑矩阵间隔开，利用激光进行以下步骤：对被维修的子像素点的彩膜及其周边的黑矩阵，进行老化；在彩膜与玻璃基板之间形成缝隙；对彩膜周边的黑矩阵，进行颗粒化，生成黑色颗粒；将彩膜周边的黑色颗粒扩散到缝隙中；其中，在彩膜与玻璃基板之间形成缝隙的过程中，如果该子像素点的彩膜为蓝色，则所使用激光的强度为12至17A.U；如果该子像素点的彩膜为绿色，则所使用激光的强度为17至19A.U；如果该子像素点的彩膜为红色，则所使用激光的强度为23至25A.U。本发明应用于改进亮点维修。
液晶显示器亮点维修方法

[发明专利]一种液晶显示器亮点维修方法-CN201210055602.8有效
发明人：钮曼萍;吴涛;张钟石 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2012-03-05 - 公布日： 2012-08-08 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种液晶显示器亮点维修方法，涉及薄膜晶体管液晶显示器基板的维修领域，可以解决低亮点问题，并提高维修成功率。所述方法包括：利用激光对被维修的子像素区域的彩膜进行改性处理并对所述被维修的子像素区域的彩膜进行碳化，形成碳化彩膜；进而对所述碳化彩膜及与所述碳化彩膜相邻的矩阵条进行老化处理，形成老化彩膜和老化矩阵条；并在所述老化彩膜与基板之间形成缝隙；然后对所述老化矩阵条进行颗粒化处理，生成的黑色颗粒落入所述缝隙中，使所述黑色颗粒覆盖于所述被维修的子像素区域的碳化彩膜上。本发明实施例用于液晶显示器的亮点维修。
一种液晶显示器亮点维修方法

[发明专利]曝光装置及形成薄膜晶体管的方法-CN96121339.6无效
发明人：朴哲熙;张钟石 -专利权人：现代电子产业株式会社
申请日： 1996-12-11 - 公布日： 2002-02-20 - 主分类号： H01L21/336 文献下载
摘要：一种用于形成薄膜晶体管的技术。包括一个绝缘基片，其上设有一个栅极和一个保护栅极的栅极绝缘层。在栅极上形成第一半导体层。在第一半导体层和栅极绝缘层上形成用于蚀刻阻挡层的一个绝缘层。在最终结构的整个表面上涂敷光刻胶膜。通过把线性光投射到从基片背面到光刻胶膜的一个区域上，同时让基片水平移动，使所选部分的光刻胶膜曝光，其中加长形成有半导体膜部位的曝光时间，以使足够大的光量入射到光刻胶上的选定部分；对光刻胶膜显影，以去除曝光的光刻胶将所述光刻胶图案用于掩模，通过蚀刻蚀刻阻挡层用绝缘层，形成蚀刻阻挡层；除去剩余的光刻胶图案。
曝光装置形成薄膜晶体管方法