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[发明专利]一种半导体器件缺陷检测方法和装置-CN202310463956.4在审
发明人：王颖;李鹏;康栋 -专利权人：绍兴中芯集成电路制造股份有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请公开了一种半导体器件缺陷检测方法和装置，所述方法包括：获取外延片上的缺陷的位置，基于所述缺陷的位置绘制外延片缺陷图；获取与所述外延片相关联的晶圆的晶圆图；将所述缺陷图映射到所述晶圆图上，得到所述缺陷图与所述晶圆图的关联位置图；或者，绘制基准图，将所述缺陷图和所述晶圆图分别映射到所述基准图上，得到所述缺陷图与所述晶圆图的关联位置图；基于所述关联位置图确定所述晶圆上受所述缺陷影响的晶粒位置。本发明的方法能够确定需要去除的晶粒位置，提高半导体器件产品良率和可靠性。
一种半导体器件缺陷检测方法装置

[发明专利]一种光刻方法-CN202210336655.0在审
发明人：董俊;张其学;陈骆;王雷 -专利权人：华虹半导体（无锡）有限公司;上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明一种光刻方法，包括：根据散焦缺陷图形，确定晶圆表面的散焦缺陷位置是否固定；若散焦缺陷位置固定，则根据所述初始掩模版图和所述散焦缺陷图形，确定散焦缺陷位置对应的分割版图；调整所述散焦缺陷位置对应的所述分割版图的曝光参数本申请通过固定散焦缺陷位置，再利用初始掩模版图和散焦缺陷图形确定所述散焦缺陷位置对应的所述分割版图，以此调整所述散焦缺陷位置对应的所述分割版图的曝光参数，从而在光刻工艺中就提前调整转印到晶圆上的掩膜版图形的位置
一种光刻方法

[发明专利]一种镀锌线带钢镀锌缺陷跟踪方法-CN201810994319.9有效
发明人：胡江 -专利权人：马鞍山钢铁股份有限公司
申请日： 2018-08-29 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种镀锌线带钢镀锌缺陷跟踪方法，包括以下步骤：操作员标记带钢缺陷的同时，记录带钢缺陷相对位置，同一带钢每产生一个缺陷，记录一次位置；带钢下线之后，此带钢的所有位置清零；通过编码器及计算机系统，测量带钢上线速度以及计算每一个镀锌缺陷和气刀、测厚仪、光整机、矫直机、滚涂机、圆盘剪、飞剪的相对距离。本镀锌线带钢镀锌缺陷跟踪方法，对每条带钢的缺陷进行记录，记录其位置，并计算缺陷和之后的气刀、测厚仪、光整机、矫直机、滚涂机、圆盘剪、飞剪相对位置，以便在缺陷到来之前，相关设备能动作以避开缺陷，使得带钢缺陷不会损伤设备，减少缺陷对设备的干涉。
一种镀锌线带缺陷跟踪方法

[发明专利]管道缺陷检测方法、管道缺陷检测装置和管道缺陷检测设备-CN201510992345.4有效
发明人：于润桥;张斌;胡博;夏桂锁;程东方;程强强 -专利权人：宁波市鄞州磁泰电子科技有限公司
申请日： 2015-12-25 - 公布日： 2019-10-22 - 主分类号： F17D5/02 文献下载
摘要：本发明实施例提供了管道缺陷检测方法、管道缺陷检测装置和管道缺陷检测设备。管道缺陷检测方法包括：沿着管道的长度方向检测与磁感应强度有关的第一参数；确定所述第一参数是否超过预定阈值；将所述第一参数超过预定阈值的位置确定为管道的缺陷位置；和基于超过预定阈值的所述第一参数的数值确定管道的缺陷程度通过根据本发明实施例的管道缺陷检测方法、装置和设备，可以基于与磁感应强度有关的参数来判断管道是否存在缺陷，以及根据该参数存在异常的位置来确定管道的缺陷位置，和根据该存在异常的参数的数值来确定管道的缺陷程度这样，可以准确地检测出管道上的缺陷位置和缺陷程度。
管道缺陷检测方法装置设备

[发明专利]一种锯材表面缺陷位置定位方法及系统-CN202010266658.2有效
发明人：张伟;王勇;金征;吴雨生 -专利权人：中国林业科学研究院木材工业研究所
申请日： 2020-04-07 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开一种锯材表面缺陷位置定位方法及系统，涉及木材加工装备技术领域。该方法包括：对图像采集装置采集的锯材缺陷的锯材表面缺陷图像进行预处理，得到预处理图像；计算预处理图像中极小值点的平均值坐标；获取锯材缺陷的图像尺寸和实际尺寸；利用图像尺寸、实际尺寸和平均值坐标，计算锯材缺陷在锯材表面的缺陷位置本发明通过图像采集装置采集锯材表面的锯材表面缺陷图像，通过对锯材表面缺陷图像进行处理和计算，得到锯材表面的缺陷位置；将机器视觉图像采集和图像处理相结合，高效准确识别各种形式的锯材缺陷的缺陷位置，大幅降低检测成本，提高锯材表面缺陷位置检验结果的稳定性。
一种表面缺陷位置定位方法系统

[发明专利]记录媒体、管理记录媒体缺陷区域的方法和设备-CN200710127549.7有效
发明人：朴容彻;金成大 -专利权人： LG电子有限公司
申请日： 2003-10-01 - 公布日： 2007-11-14 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：一种管理记录媒体上的缺陷区域的方法和设备，允许更有效的写入和以最小的记录大小管理缺陷区域的缺陷列表信息或临时缺陷列表信息。方法包括通过基于指示各个备用区域中的可用替换区域的位置信息将写在缺陷区域中的数据写入到所述多个备用区域中的一个来替换写在缺陷区域中的数据；以及记录包括了缺陷条目信息和新位置信息的缺陷管理信息。缺陷条目实际上与替换写入数据相对应，且下一个可用备用区域的写入位置信息被写入和管理作为用于管理的缺陷列表信息，或者替换写入可能位置的写入位置信息被写入和管理作为缺陷定义结构信息。
记录媒体管理缺陷区域方法设备

[发明专利]缺陷定位系统及方法-CN201910460972.1在审
发明人：于洋;黄仁德;方桂芹 -专利权人：德淮半导体有限公司
申请日： 2019-05-29 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷定位系统和缺陷定位方法，所述缺陷定位系统包括：第一缺陷定位模块，用于向晶片表面发射检测光束、并根据所述晶片散射和/或反射所述检测光束形成的光信号确定所述晶片中是否存在缺陷、以及所述晶片中存在的一个或多个缺陷的第一位置；以及第二缺陷定位模块，用于根据所述第一缺陷定位模块确定的所述一个或多个缺陷的第一位置，对所述一个或多个缺陷中的至少一个缺陷进行显微成像，并根据所述至少一个缺陷的显微成像结果对所述一个或多个缺陷的第一位置进行校正，得到所述一个或多个缺陷的第二位置。本发明实施例的缺陷定位系统和缺陷定位方法能够在提高缺陷定位的准确率的同时，大幅度地提高缺陷位置的检测效率。
缺陷定位系统缺陷定位模块第一位置缺陷定位显微成像第二位置发射检测检测光束晶片表面缺陷位置信号确定散射准确率晶片反射校正检测

[发明专利]电缆缺陷定位方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202110749028.5在审
发明人：穆海宝;卢旭;张浩天;邹星宇;田杰;余鹏 -专利权人：深圳供电局有限公司
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R31/08 文献下载
摘要：本申请涉及一种电缆缺陷定位方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：对被测电缆的阻抗频谱图进行变换处理，得到被测电缆的第一缺陷定位曲线；根据第一缺陷定位曲线的峭度特征，生成被测电缆的峭度曲线；基于被测电缆的峭度曲线，对第一缺陷定位曲线进行调幅处理，得到第二缺陷定位曲线；根据第二缺陷定位曲线，确定被测电缆存在缺陷的位置。由于峭度可以衡量第一缺陷定位曲线的凸起程度，将峭度视为一个权重，通过峭度曲线对第一缺陷定位曲线进行优化，增强了缺陷位置处的阻抗幅值，削弱了其他正常位置处的阻抗幅值，使得缺陷位置处的阻抗幅值远高于其他位置点，因此通过第二缺陷定位曲线可以准确有效地确定被测电缆存在缺陷的位置。
电缆缺陷定位方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种对缺陷进行选择性检测的方法-CN201410377341.0有效
发明人：倪棋梁;陈宏璘;龙吟 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2014-08-01 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种对缺陷进行选择性检测的方法，包括：通过缺陷检测设备检测晶圆中的每个芯片；对检测到的芯片上的缺陷的位置数据进行记录；将缺陷的位置数据选择性地设置于缺陷检测设备中；缺陷检测设备根据位置数据对后续晶圆中的芯片的缺陷进行选择性检测从而能够实现对缺陷的定位，提高缺陷检测的效率和精度、以及降低缺陷分析的难度。
一种缺陷进行选择性检测方法

[发明专利]车辆功能测试装置及其控制方法-CN202010636930.1在审
发明人：张训;蔡贤娥;崔炳珠 -专利权人：现代自动车株式会社;起亚自动车株式会社;梨花女子大学校产学协力团
申请日： 2020-07-03 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开一种用于基于缺陷注入技术生成测试用例的测试装置及其控制方法。该方法包括：基于软件详细设计文档，识别要测试的程序中的至少一个函数；基于与识别的至少一个函数的功能相关的可能发生的缺陷位置和要注入缺陷位置的缺陷类型，生成测试设计文档；基于生成的测试设计文档和程序的源代码，搜索要注入的缺陷位置；确定缺陷注入方式和缺陷类型；以及预测将与缺陷注入方式和缺陷类型相对应的缺陷注入应用于搜索到的位置的预期结果以生成测试用例。
车辆功能测试装置及其控制方法

[发明专利]一种基于超声位置信号检测蜂窝夹层结构的缺陷识别方法-CN201811500087.3有效
发明人：刘菲菲;刘松平;李乐刚;李治应;傅天航;杨玉森 -专利权人：中航复合材料有限责任公司
申请日： 2018-12-07 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本发明属于航空宇航、交通、建筑及无损检测等技术领域，涉及一种基于超声位置信号检测蜂窝夹层结构的缺陷识别方法。本发明提出了一种基于超声位置信号的缺陷判别方法，根据每个检测位置区域的超声位置信号的整体变化规律，可以非常直观地进行缺陷判别，清晰地确定缺陷引起的超声信号变化，进而进行缺陷的判别，显著简化了缺陷的判别难度，更加有利于缺陷的判别，从而显著提高了缺陷判别的准确性和缺陷检出率，减少缺陷误判率。
一种基于超声位置信号检测蜂窝夹层结构缺陷识别方法

[发明专利]缺陷分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质-CN202111187191.3在审
发明人：李佳 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2021-10-12 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种缺陷分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取目标面板的图像信息；根据图像信息确定目标面板中缺陷的位置；确定缺陷对应的目标缺陷类型；根据位置和目标缺陷类型，确定缺陷对目标面板的影响等级采用本申请实施例，提高了缺陷分类的效率，并在确定了缺陷的位置后，结合缺陷的类型，确定缺陷对面板的影响等级，即确定出面板因缺陷所造成的受损情况，提高了面板质检的效率。
缺陷分析方法装置电子设备计算机可读存储介质

[实用新型]一种木材缺陷扫描切割一体机-CN202122649415.X有效
发明人：龙麟;周乐天;罗国正 -专利权人：湖南名选机电有限公司
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： B27B5/02 文献下载
摘要：本申请提供一种木材缺陷扫描切割一体机，该木材缺陷扫描切割一体机包括：依次连接的扫描进料线、缺陷检测装置、扫描出料线、物料缓存系统、锯切进料线、缺陷切割装置和锯切出料线，扫描进料线用于将木材送至缺陷检测装置中，缺陷检测装置用于获取木材的缺陷位置信息并将木材的缺陷位置信息传递给缺陷切割装置，扫描出料线用于将缺陷检测装置中的木材传递至物料缓存系统，物料缓存系统用于暂存木材，锯切进料线用于将物料缓存系统中的木材传递至缺陷切割装置，缺陷切割装置用于根据木材的缺陷位置信息将木材的缺陷位置切除，锯切出料线用于将修整完的木材运出。
一种木材缺陷扫描切割一体机

[发明专利]补焊系统-CN202080043223.X在审
发明人：小松嵩宙;毛利年成;花田和纪 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2020-06-12 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： B23K9/095 文献下载
摘要：检查装置确定焊接部分中是否存在不满足确定标准的缺陷部分。如果焊接部分中存在缺陷部分，则检查装置至少提取缺陷部分的缺陷类型信息和检查坐标系缺陷部分位置信息，并且将检查坐标系(∑W2)缺陷部分位置信息转换成与焊接机器人的坐标系(∑W1)相对应的位置信息。焊接装置至少基于缺陷类型信息和焊接坐标系缺陷部分位置信息，指示对缺陷部分执行补焊。
系统

[发明专利]光盘、记录装置、读取装置、记录方法及读取方法-CN200810099110.2无效
发明人：甲斐田优;伊藤基志 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-01-13 - 公布日： 2008-09-17 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。
光盘记录装置读取方法