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[发明专利]Doherty电路中功放管结温检测装置及方法-CN201610846408.X在审
发明人：高建红 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2016-09-23 - 公布日： 2018-04-03 - 主分类号： G01R31/27 文献下载
摘要：本发明公开了一种Doherty电路中功放管结温检测装置及方法，所述装置包括温度检测单元，用于当Doherty电路在处于信号输入状态，检测所述Doherty电路中主功放管的壳温值和辅助功放管的壳温值；热耗和差确定单元，用于分别确定所述主功放管与所述辅助功放管的热耗和值和热耗差值；热耗确定单元，用于基于所述热耗和值和所述热耗差值，确定所述主功放管的热耗值和所述辅助功放管的热耗值；结温确定单元，用于将每个功放管的壳温值、热耗值和预先获取的热阻值分别代入预置的结温计算公式中，确定出该功放管的结温值。本发明有效解决现有技术中处于工作状的Doherty电路中功放管结温确定困难的问题。
doherty 电路功放管结温检测装置方法

[发明专利]一种测量IGBT在高温反偏试验中结温变化的方法-CN201710749794.5有效
发明人：郭春生;蔡文漪;姜舶洋;罗琳 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2017-08-28 - 公布日： 2020-02-04 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量IGBT在高温反偏试验中结温变化的方法，利用IGBT在高温反偏试验中的漏电流与温度的对应关系，对实验中的器件结温进行实时监控的方法。且IGBT漏电流以器件内部MOS部分漏电流为主，在高温反偏试验前需先绘制校温曲线：栅极接地或栅极‑发射极短接，对器件集电极‑发射极加短脉冲电压，在不产生自升温的条件下得到器件漏电流与结温的对应关系，绘制校温曲线图在高温反偏试验中实时测量器件的漏电流，将漏电流值与校温曲线作比对，可以直接读出器件的结温。
一种测量 igbt 高温试验中结温变化方法

[发明专利]异质结热物理性质测量方法和装置-CN202310706629.7在审
发明人：曹炳阳;刘朝阳;杨光 -专利权人：清华大学
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明提供一种异质结热物理性质测量方法和装置，包括：在测试时长内，对待测异质结样本进行加热，获取加热温升值和加热功率；基于所述加热温升值，确定所述加热温升值在所述测试时长内随时间变化的变化离散点和有效导热面积；根据所述变化离散点、所述加热功率、所述有效导热面积和所述待测异质结样本的各层厚度计算所述待测异质结样本的热物性。本发明对待测异质结样本表面进行热激励，测得样品表面不同时刻的温升变化，以得到温度变化离散点，根据温度变化离散点一次性地原位测量待测异质结样本的热物性，实现精度更高、效率更高的异质结热物理性质的测量。
异质结热物理性质测量方法装置

[发明专利]电动汽车控制器中功率元件IGBT结温的估算方法-CN201711084939.0在审
发明人：刘健 -专利权人：上海大郡动力控制技术有限公司
申请日： 2017-11-07 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种电动汽车控制器中功率元件IGBT结温的估算方法，本方法根据功率元件IGBT的参数手册，得到IGBT结温与IGBT导通压降V_ce的关系，再通过IGBT固定损耗得到V_ce与热敏电阻温度T_ntc的关系，将其转换为IGBT结温与热敏电阻温度的对应关系，最终提取功率元件IGBT和二极管结到热敏电阻的热阻模型Z_{i,j‑ntcj‑ntc}，检测电流及直流母线电压，判断是功率元件IGBT还是二极管导通，并计算总损耗p_avg；实时采样热敏电阻的温度T_ntc，得到功率元件IGBT结温本方法克服传统IGBT结温估算的缺陷，提取IGBT内部芯片与其内部热敏电阻之间的热阻抗模型，有效估算IGBT结温，具有良好的动态特性及准确性，确保控制器的可靠性。
结温功率元件热敏电阻估算电动汽车控制器直流母线电压二极管导通热阻抗模型参数手册导通压降动态特性二极管结固定损耗内部芯片实时采样控制器总损耗热阻转换检测

[发明专利]结温测量装置及家电功率调控方法-CN201910559198.X在审
发明人：冯宇翔;周海佳 -专利权人：广东美的白色家电技术创新中心有限公司;美的集团股份有限公司
申请日： 2019-06-26 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G05F1/625 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种结温测量装置及家电功率调控方法，属于半导体技术领域。包括：封闭空间及用于放置半导体器件的平台；其中，平台位于封闭空间内，平台用于为半导体器件提供恒温环境。由于可以提供恒温环境，且以恒温环境为基础，后续可采用有限元分析的方式测量半导体器件中待测半导体的结温，从而相较于经验公式的推测方式，通过结温测量装置测量结温时灵活性更高，且测量结果更加准确。
结温测量装置恒温环境半导体器件封闭空间功率调控半导体技术领域测量半导体器件家电经验公式半导体测量分析

[发明专利]一种驱动器用IGBT模块的结温预测方法-CN201911051577.4在审
发明人：孟昭亮;吕亚茹;高勇;杨媛;艾胜胜;方正鹏;卢志鹏;由梦雪 -专利权人：西安工程大学
申请日： 2019-10-31 - 公布日： 2020-02-18 - 主分类号： G06N3/04 文献下载
摘要：本发明公开一种驱动器用IGBT模块的结温预测方法，具体步骤如下：步骤1，对被测的IGBT模块进行采样，将采样数据做为训练组数据；步骤2，建立BP神经网络模型；步骤3，将训练组数据输入至BP神经网络模型进行训练；步骤4，采用已训练好的BP神经网络模型对IGBT模块进行结温实时预测，输出预测结温。本发明解决了现有技术中驱动器用IGBT模块的结温不能直接测量的问题。
一种驱动器用 igbt 模块预测方法

[发明专利]一种提高系统可靠性的方法及设备-CN201310595079.2有效
发明人：杨武 -专利权人：杭州华三通信技术有限公司
申请日： 2013-11-21 - 公布日： 2014-03-12 - 主分类号： G06F1/32 文献下载
摘要：发明公开了一种提高系统可靠性的方法及设备，该方法包括：获取待监测芯片的结温，并判断该待监测芯片的结温是否高于告警门限上限，或低于告警门限下限；当待监测芯片的结温高于门限上限时，降低该待监测芯片的性能或/和容量规格；当待监测芯片的结温低于告警门限下限时，提高该待监测芯片的性能或/和容量规格。
一种提高系统可靠性方法设备

[发明专利]一种电动汽车运行控制方法、装置、控制器和存储介质-CN201910035316.7有效
发明人：石华山 -专利权人：深圳市法拉第电驱动有限公司
申请日： 2019-01-15 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： B60L15/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种电动汽车运行控制方法、装置、控制器和存储介质，通过初始化设定整车的正常载频范围，监控整车的运行载频、转矩需求和功率模块结温；若运行载频大于正常载频范围的最低值，降低整车的运行载频；若整车的转矩需求增大且运行载频不大于正常载频范围的最低值，基于功率模块结温进行降额处理；优先降载频，保证运行舒适性，降低结温波动，再基于结温降额，保护驱动器安全。
一种电动汽车运行控制方法装置控制器存储介质

[发明专利]一种基于调节IGBT关断轨迹的结温平滑方法和电路-CN201710211737.1在审
发明人：周雒维;王博;张益;孙鹏菊;罗全明 -专利权人：重庆大学
申请日： 2017-04-01 - 公布日： 2017-07-11 - 主分类号： H02M1/08 文献下载
摘要：本发明涉及电力电子领域，特别是涉及IGBT的结温平滑方法。其技术方案是一种基于调节IGBT关断轨迹的结温平滑方法通过改变IGBT关断轨迹，调节IGBT关断损耗，使IGBT的总损耗平衡，从而平滑IGBT结温波动。本发明提供一种基于调节IGBT关断轨迹的结温平滑电路在IGBT的充放电型RCD缓冲电路上增加一个辅助开关S，通过调节S的开通时间，改变IGBT关断轨迹。本发明通过平滑IGBT结温波动显著提高了IGBT的期望寿命，提高系统的可靠性；具有应用范围广、控制简单、控制独立，可以以模块化的方式安装应用等特点，适用于非平稳工况的变流器。
一种基于调节 igbt 断轨平滑方法电路

[发明专利]SiC MOSFET模块全生命周期结温在线预测方法-CN202010017816.0在审
发明人：孟昭亮;吕亚茹;李静宇;高勇;杨媛;艾胜胜;方正鹏;卢志鹏;王好贞 -专利权人：西安工程大学
申请日： 2020-01-08 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： G06Q10/04 文献下载
摘要：本发明公开一种SiC MOSFET模块全生命周期结温在线预测方法，具体按照以下步骤实施：步骤1，采用全新的SiC MOSFET模块做功率循环直到模块完全老化失效；在功率循环期间采样该SiC MOSFET模块的电气参数作为数据集；步骤2，建立SiC MOSFET模块结温预测模型，包括依次连接的第一BP神经网络模型和第二BP神经网络模型；步骤3，采用数据集对进行模型训练；步骤4，将训练好的SiC MOSFET模块结温预测模型移植到FPGA中，在被测的SiC MOSFET模块实际运行中，输入电流Id，实时输出对应的结温Tc。本发明能够准确得到SiC MOSFET模块的结温，确保带模块安全稳定运行。
sic mosfet 模块生命周期在线预测方法

[发明专利]温度控制方法、装置、计算机可读存储介质及网络设备-CN202310791422.4在审
发明人：张文彬;黄小彬;王伟 -专利权人：普联技术有限公司
申请日： 2023-06-29 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G05D23/20 文献下载
摘要：所述方法获取网络设备的芯片结温；若所述网络设备的芯片结温大于预设的温度阈值，则按照预设的优先级采用不同的温度控制策略对所述网络设备进行温度控制，直至所述网络设备的芯片结温小于或等于所述温度阈值为止。通过本申请，可以在网络设备的芯片结温超标时，按照优先级使用不同的温度控制策略对网络设备的芯片温度进行调节，从而在保证网络设备的芯片结温不超标的前提下，最小化网络设备的性能损耗。
温度控制方法装置计算机可读存储介质网络设备

[发明专利]一种检测LED灯具芯片结温的方法-CN200910198965.5有效
发明人：陈亮;刘石神;张涛;章美敏;顾建忠;童广辉;何彬锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2009-11-18 - 公布日： 2010-05-05 - 主分类号： G01K7/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测LED灯具芯片结温的方法。包括：1.在与灯具正常工作电流大小相同的极短脉冲电流下，通过控制其周围环境的温度获得灯具两端正向电压随芯片结温变化的关系；2.在灯具直流正常工作下，获得其达到热平衡稳定后灯具两端的正向电压；3.将此正向电压数据代入1中得到的灯具正向电压与芯片结温的关系确定正常工作状态下灯具芯片的工作结温。本发明可准确的判定不同工作电流下LED灯具的芯片工作结温，有利于LED灯具的散热性能和寿命的评价及灯具的优化设计。
一种检测 led 灯具芯片方法

[发明专利]LED灯温度补偿控制方法、装置和系统-CN201511023277.7在审
发明人：刘浩 -专利权人：北京经纬恒润科技有限公司
申请日： 2015-12-30 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： H05B33/08 文献下载
摘要：该方法包括：获取当前红色灯芯的结温，依据预先存储的红色灯芯的结温与红色灯芯相对发光强度的对应关系，计算当前红色灯芯的结温所对应的当前红色灯芯相对发光强度，红色灯芯相对发光强度为当前结温时红色灯芯实际发光强度除以结温为参考温度时红色灯芯实际发光强度得到的值，将预先设定的参考PWM占空比除以当前红色灯芯相对发光强度，得到PWM修正占空比，参考PWM占空比为红色灯芯的结温在参考温度时所对应的PWM信号的占空比，输出占空比为PWM修正值的PWM信号至驱动器，控制红色灯芯的通断
led 温度补偿控制方法装置系统

[发明专利]一种基于米勒平台持续时间的IGBT结温监测系统和方法-CN202110078638.7在审
发明人：何怡刚;孙豪;王涛;朱战伟;曹志煌;谢辉;李志刚;李兵;袁伟博;阮义 -专利权人：合肥工业大学;国网安徽省电力有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种基于米勒平台持续时间的IGBT结温监测系统和方法，包括了栅极驱动芯片、信号提取与预处理电路、时间测量电路和控制器，信号提取与预处理电路的一端经时间测量电路与控制器的一端连接，控制器的另外一端与IGBT器件驱动电路的栅极驱动芯片连接，驱动芯片分别与IGBT器件和信号提取与预处理电路连接，信号提取与预处理电路是通过提取IGBT器件开通过程中栅射极电压信号中的米勒平台持续时间作为IGBT结温监测的特征参数进行初始状态设定与实时结温在线监测本发明可实现在线监测，结温提取不影响IGBT的工作，可直接用于IGBT的结温监测与一般寿命评估，可有效解决目前IGBT结温监测技术中缺乏有效的特征参数问题。
一种基于米勒平台持续时间 igbt 监测系统方法

[发明专利]一种开关管工作结温实时测量装置及方法-CN202010929551.1在审
发明人：谭厚志;雷龙;方明占;颜权枫;瞿浩 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-09-07 - 公布日： 2021-02-05 - 主分类号： G01R31/27 文献下载
摘要：本发明提供了一种开关管工作结温实时测量装置及方法，所述开关管工作结温实时测量装置包括米勒时延测量模块，所述米勒时延测量模块包括微分电路、比较器电路、矩形脉冲时间间隔测量模块。本发明通过微分电路在开关管进入和离开米勒平台时分别输出一个尖脉冲波，然后通过比较器电路将所述尖脉冲波转换为两个与尖脉冲波同时刻的矩形脉冲信号输出至矩形脉冲时间间隔测量模块，矩形脉冲时间间隔测量模块根据获取的两个所述矩形脉冲信号计算出米勒平台时延并发送至结温转换及控制模块，结温转换及控制模块根据开关管的米勒平台时延获取开关管结温，可以在不影响开关管的正常工作的前提下，对开关管的结温进行快速、准确的测量。
一种开关工作实时测量装置方法