专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]并网逆变器系统中减小锁相环影响的控制方法-CN201910502152.4有效
  • 杜雄;赵艺婷;时颖;张博;罗全明;孙鹏菊;卢伟国 - 重庆大学
  • 2019-06-11 - 2023-03-14 - H02J3/38
  • 本发明提供的一种并网逆变器系统中减小锁相环影响的控制方法,包括步骤:S2:在电网电压并网逆变器公共连接点处中加入小扰动电压信号up,并获得小扰动电压信号up的q轴分量Upq(s);S3:获得并网逆变器输出电流在dq坐标下的q轴分量Iq和d轴分量Id;S4:根据Iq、Id和Upq(s),计算电网的电流扰动分量和占空比扰动分量S5:计算电流扰动分量的相反量和占空比扰动分量的相反量S6:向电流环控制器中产生扰动的电流扰动处和产生占空比扰动处分别输入电流扰动分量的相反量和占空比扰动分量的相反量本发明通用性强、适用范围广,在并网逆变器系统发生改变时仍能使用,无需再次设计,动态性能好,使得在电网电压幅值发生改变时,并网电流电压能够快速达到稳态。
  • 并网逆变器系统减小锁相环影响控制方法
  • [发明专利]一种电压钳位电路及其应用-CN202211166538.0在审
  • 孙鹏菊;黄旭;贺致远;李凯伟;李强;杜雄;罗全明 - 重庆大学
  • 2022-09-23 - 2022-12-09 - G01R31/26
  • 本发明公开一种电压钳位电路及其在半导体功率器件导通压降测量中的应用,该电路包含高压二极管D,齐纳二极管Z,以及LM334恒流源电路。其中LM334恒流源电路包含LM334芯片和其工作所需外围电路用以产生满足齐纳二极管Z稳压所需的齐纳电流。钳位电路中DUT+端连接待测半导体功率器件漏极或集电极,DUT‑端连接待测半导体功率器件源极或射极;钳位电路中Vm+与Vm‑端用于输出钳位电压。通过调整高压二极管D、齐纳二极管Z和LM334工作所需外围电路R1、R2、D2可满足不同半导体功率器件测试需求。本发明具有结构简单,灵活性好,动态响应性能好,测量精度高、成本低廉等优点。
  • 一种电压电路及其应用
  • [发明专利]一种双有源桥非对称占空比优化调制方法-CN202010962633.6有效
  • 罗全明;牟迪;李佳;孙鹏菊;杜雄 - 重庆大学
  • 2020-09-14 - 2022-03-08 - H02M3/335
  • 本发明公开了一种双有源桥非对称占空比优化调制方法,所述方法包括:S1、基于所述DAB转换器中开关的导通顺序及时长确定所述DAB转换器的工作模式;S2、求解各工作模式的稳态特征;S3、以电感电流峰峰值最小为优化目标,利用KKT条件下求出各工作模式下的最小峰值电流;S4、对各工作模式的最优值进行比较,得到全局最优解。与现有技术相比,本发明具有更小的电感电流有效值,更宽的软开关范围,能够降低DAB变换器的导通损耗及开关损耗,提高转换效率。此外,本发明公开的方法过程简单,更易实现。
  • 一种有源对称优化调制方法
  • [发明专利]基于门极电荷变化的IGBT模块内部缺陷监测方法及电路-CN202011016747.8有效
  • 王凯宏;周雒维;孙鹏菊;黄旭;杜雄 - 重庆大学
  • 2020-09-24 - 2022-03-01 - G01R31/26
  • 本发明公开了基于门极电荷变化的IGBT模块内部缺陷监测方法及电路,该方法基于IGBT模块在开关过程中的门极电信号会受到因IGBT模块老化导致其内部参数变化的影响的特点,通过监测IGBT模块在开关过程中的门极电信号来评估当期IGBT模块的健康状态;具体的,以IGBT模块门极电荷为监测对象,通过监测运行过程中IGBT模块门极电荷的变化来评估当前IGBT模块的内部缺陷情况;并通过连续对多个开关周期下获得的门极电荷信息进行累积,以放大IGBT模块内部的缺陷。本方案能在不拆卸IGBT模块的情况下方便地进行监测,同时又能确保在IGBT模块正常工作下就能实现对其健康状态的准确评估,提高模块和系统的可靠性。
  • 基于电荷变化igbt模块内部缺陷监测方法电路
  • [发明专利]一种SiC MOSFET器件栅极老化监测电路及在线监测方法-CN202111248678.8在审
  • 孙鹏菊;谢明航;李凯伟;欧阳文远;罗全明;杜雄 - 重庆大学
  • 2021-10-26 - 2022-01-14 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种SiCMOSFET栅极老化监测电路及在线监测方法,该监测电路包括常规驱动、监测驱动、采样与逻辑运算电路以及控制单元;监测方法包括:当待测器件正常工作时,由常规驱动控制器件的开通和关断;当待测器件处于关断状态且实施栅极老化监测时,电路由常规驱动切换到监测驱动,对栅极进行充电;当栅极电压到达设定值时,由逻辑运算电路关断监测驱动并生成充电时间信号传送至控制单元,控制单元捕捉充电时间信号有效电平的持续时间,该充电时间作为栅极老化的特征量,用于监测栅极老化状态。本发明不会影响到器件以及装置的正常工作,可实现栅极老化在线监测,解决了大多数栅极老化监测方法难以在线实施的问题,有效避免停机监测造成的经济损失。
  • 一种sicmosfet器件栅极老化监测电路在线方法

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