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[发明专利]IGBT结温测量方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202010423056.3在审
发明人：徐海波;刘洋;王浩;张胜发;李锡光;乔良 -专利权人：东莞南方半导体科技有限公司;华中科技大学
申请日： 2020-05-19 - 公布日： 2020-10-13 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明涉及一种IGBT结温测量方法、装置、计算机设备及存储介质，其中方法包括获取待测试的IGBT结温的特征参数；将IGBT结温的特征参数输入预设的随机森林模型；根据随机森林模型的输出结果确定特征参数对应的IGBT结温。通过随机森林模型，可准确测算IGBT结温，从而实现一种准确率高、工业实用性强的IGBT结温测量方法。
igbt 测量方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]风机的变流器、IGBT模块的结温监测方法和装置-CN201710959481.2有效
发明人：刘佳 -专利权人：北京金风科创风电设备有限公司
申请日： 2017-10-16 - 公布日： 2021-01-22 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种风机的变流器、IGBT模块的结温监测方法和装置。该IGBT模块的结温监测方法包括：获取IGBT模块的正向峰值电流、IGBT模块的功率因数、IGBT模块的调制比、IGBT模块的开关频率和IGBT模块的当前结温的预估值；根据IGBT模块的正向峰值电流、IGBT模块的功率因数、IGBT模块的调制比、IGBT模块的开关频率和IGBT模块的当前结温的预估值，计算IGBT模块的导通损耗和IGBT模块的开关损耗；根据IGBT模块的导通损耗、IGBT模块的开关损耗和IGBT模块的壳温，计算IGBT模块的结温。采用本发明实施例中的技术方案，能够提高结温监测结果的精确度。
风机变流器 igbt 模块监测方法装置

[发明专利]结环热阻的测试方法及系统-CN201310526782.8有效
发明人：宋芳芳;何小琦;恩云飞 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2013-10-30 - 公布日： 2014-01-29 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：一种结环热阻的测试方法，包括以下步骤：测量并记录被测样品处于功率加载状态下的壳温参数；开封处理所述被测样品；补偿开封后被测样品测温的壳温，使所述壳温与开封前所测得的壳温参数一致；通过红外热像法获取结温，计算结环热阻。如此，在开封处理之前对被测样品的壳温进行测量，开封处理之后以之前所测得的壳温参数为基准，对被测样品进行壳温补偿，避免开封后被测样品发生温度损耗，保证获取准确的结温数值，提高了结环热阻测试结果的精准性。还提供一种结环热阻的测试系统。
结环热阻测试方法系统

[发明专利]一种IGBT结温波动快速测量方法-CN202210884888.4在审
发明人：何怡刚;李猎;王枭;张慧;刘晓宇;李紫豪;陈剑飞;何鎏璐 -专利权人：武汉大学
申请日： 2022-07-26 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种IGBT结温波动快速测量方法，属于IGBT结温波动测量技术领域，包括以下步骤：(1)离线状态下测量IGBT模块的热阻和热容；(2)在线状态下测量IGBT的导通压降、工作电流；(3)根据结温波动计算公式计算IGBT温度循环过程中的IGBT结温波动。本发明能在不破坏IGBT封装的情况下快速有效的进行结温波动检测，作为IGBT可靠性分析的数据支撑。
一种 igbt 波动快速测量方法

[发明专利]便于结温检测的功率半导体器件及其结温测量方法-CN202110126966.X在审
发明人：田鸿昌;张弦;何晓宁;陈晓炜 -专利权人：陕西半导体先导技术中心有限公司
申请日： 2021-01-29 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种便于结温检测的功率半导体器件及其结温检测方法，所述功率半导体器件为IGBT器件或MOSFET器件，所述半导体器件包括至少两个单胞单元，其中至少一个单胞单元为结温监测单元，其他单胞单元与IGBT器件或MOSFET器件的结构完全相同；所述结温监测单元与IGBT器件或MOSFET器件的结构区别在于在P+接触区的表面金属化形成阳极，在N+源区表面金属化形成阴极。将结温监测单元直接制造集成在功率半导体芯片中，能够实时直接测量获得功率半导体器件结温数值，获得实时准确数值。
便于检测功率半导体器件及其测量方法

[发明专利]用于估算功率模块的功率半导体器件的结温的方法和系统-CN202011339979.7在审
发明人：李制桓 -专利权人：现代自动车株式会社;起亚自动车株式会社
申请日： 2020-11-25 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及用于估算功率模块的功率半导体器件的结温的方法和系统。所述方法包括：基于第一功率半导体器件的功率损耗和热阻来计算第一功率半导体器件的结温预测值，并且基于第二功率半导体器件的功率损耗和热阻来计算第二功率半导体器件的结温预测值。通过将温度传感器感测到的感测温度减去第一功率半导体器件的结温预测值来计算散热器的温度预测值。然后，通过将散热器的温度预测值与第二功率半导体器件的结温预测值相加来最终确定第二功率半导体器件的结温。
用于估算功率模块半导体器件方法系统

[发明专利]功率器件及其结温检测方法、装置、介质和变频器系统-CN202210762793.5在审
发明人：朱宁;段焱辉;张加挺;张添 -专利权人：广东美芝制冷设备有限公司;北京合康新能变频技术有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种功率器件及其结温检测方法、装置、介质和变频器系统，功率器件的结温检测方法，包括：获取功率器件运行时的功率损耗以及在参考位置处功率器件的热阻；获取参考位置处的参考温度值；根据功率损耗、热阻和参考温度值确定功率器件的结温值，通过运行该检测方法，可以实现功率器件中的结温的检测，在此过程中，可以根据确定的结温对功率器件进行控制，减少了功率器件因结温过高而出现损坏的几率，从而延长了功率器件的使用寿命，确保了功率器件在使用过程中的稳定性
功率器件及其检测方法装置介质变频器系统

[发明专利]一种绝缘栅双极型晶体管退化的在线监测方法-CN201610569572.0有效
发明人：徐正国;刘丹;谢尉扬;陈积明;胡伯勇;张震伟;刘林;孙优贤 -专利权人：浙江大学;浙江浙能技术研究院有限公司
申请日： 2016-07-19 - 公布日： 2019-03-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：该在线监测方法包括：IGBT不退化情况下，对待测IGBT进行温度实验，测得待测IGBT不同结温下表征IGBT结温水平的结温指标——不变压降和表征IGBT退化程度的退化指标——导通电阻，计算相同结温变化下退化指标变化量与结温指标变化量的比例系数；IGBT退化情况下，在线测得结温指标和退化指标，结合正常情况下由温度实验得出的比例系数，对退化指标进行去结温影响的优化，根据优化后的退化指标来监测待测IGBT的退化程度。
一种绝缘栅双极型晶体管退化在线监测方法

[发明专利]一种基于热阻抗模型的IGBT结温估计方法-CN202210098780.2在审
发明人：李哲;厉成元;刘娜;张超 -专利权人：天津电气科学研究院有限公司
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于热阻抗模型的IGBT结温估计方法，通过计算IGBT功率模块的热损耗，并根据IGBT功率模块的实际热量传导路径，搭建等效热阻模型，得到等效热阻模型的IGBT理论结温，同时构建包含多热阻传导模型的功率单元系统，使用逼近模型导热系数法将多热阻传导模型的IGBT估计结温向等效热阻模型的IGBT理论结温逐步逼近，最终确定多热阻传导模型的导热系数，得到准确的多热阻传导模型IGBT估计结温。本发明多热阻传导模型估计结温与实际结温误差最大不超过1％。本发明技术先进、经济可行并且易于实现，对于提高IGBT器件的利用率和可靠性都有较好的效果，是一个有创新、有较高实用价值的估算方法。
一种基于阻抗模型 igbt 估计方法

[发明专利]一种功率模块在线结温提取方法、装置、设备及介质-CN202211012697.5在审
发明人：强进 -专利权人：臻驱科技（上海）有限公司;上海临港电力电子研究有限公司
申请日： 2022-08-23 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种功率模块在线结温提取方法、装置、设备及介质，涉及芯片结温检测领域，包括执行芯片静态测试，并获取测试数据，计算芯片在不同结温下的电压与电流变化曲线；预设一参考温度，建立第一映射函数；对芯片所在电路中的连接件进行测试，获取包含连接件的电阻相对芯片结温变化关系的第二映射函数；采集功率模块工作状态下电路中的导通电流和导通电压；预设一参考温度，参考电压；建立目标函数，目标函数根据第一映射函数和第二映射函数获得导通电流下芯片导通电压相对参考电压的变化，并以参考温度为基准迭代计算实时结温；采用目标函数计算获得功率模块的实时结温，解决现有芯片结温采集操作复杂的问题。
一种功率模块在线提取方法装置设备介质

[发明专利]一种电力电子器件的结温在线估计方法及系统-CN202111587527.5在审
发明人：赵晖;宋澜;王钰 -专利权人：阆芯（上海）电子科技有限公司
申请日： 2021-12-23 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种电力电子器件的结温在线估计方法及系统，该系统包括：电气信号获取模块，用于获取待测电力电子器件的电气信号；电气特征量计算模块，用于基于所述待测电力电子器件的电气信号，计算所述待测电力电子器件的电气特征量；结温估计模块，用于将所述待测电力电子器件的电气特征量输入至结温估计神经网络模型，以获取电力电子器件的结温。本发明首先获取待测电力电子器件的电气信号，然后计算待测电力电子器件的电气特征量，接着利用机器学习算法和电气特征量在线实时估计所测量的电力电子器件的结温，输出实时结温，具有实施简单、原理新颖、对功率器件结温提取科学合理
一种电力电子器件在线估计方法系统

[发明专利]灯具寿命预测方法、装置、设备及存储介质-CN202211165007.X在审
发明人：张成良 -专利权人：湖南省滚石智能科技有限公司
申请日： 2022-09-23 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R31/44 文献下载
摘要：本申请提供一种灯具寿命预测方法、装置、设备及存储介质，方法包括：S1、获取灯具的热阻值、已工作时长、工作环境温度以及工作电流；S2、根据所述热阻值、所述工作环境温度以及所述工作电流，确定所述灯具的工作结温；S3、根据所述已工作时长以及所述工作结温，确定所述灯具在标准结温下的标准工作时长；S4、根据所述标准工作时长以及所述灯具在标准结温下的额定工作时长，确定所述灯具的剩余使用时长。本申请首先确定灯具的工作结温，再基于工作结温确定灯具在标准结温下的标准工作时长，进而确定灯具的剩余使用时长，可以使得剩余使用时长的确定结果更加准确，从而提高灯具寿命预测结果的准确性和可靠性。
灯具寿命预测方法装置设备存储介质

[发明专利]IGBT寿命估算方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211502092.4在审
发明人：汪扬;杜长虹;刘立;冉彦杰;周洪波 -专利权人：重庆长安新能源汽车科技有限公司
申请日： 2022-11-28 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本申请涉及电机控制技术领域，特别涉及一种IGBT寿命估算方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括：采集绝缘栅双极型晶体管IGBT集电极‑发射极的饱和压降；基于预设的饱和压降‑结温模型，根据饱和压降计算IGBT的结温值，并根据IGBT的结温值提取IGBT的结温循环数据，其中，预设的饱和压降‑结温模型由饱和压降‑结温曲线或训练目标神经网络得到；将IGBT的结温循环数据输入至预设的IGBT寿命预测模型，计算
igbt 寿命估算方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种非接触式晶闸管工作结温在线检测系统和方法-CN202211448007.0在审
发明人：陈忠;杨为;谢佳;胡迪;官玮平;罗皓泽 -专利权人：国网安徽省电力有限公司电力科学研究院;浙江大学
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种非接触式晶闸管工作结温的在线检测系统和方法，属于晶闸管状态检测领域。包括功率回路单元，与晶闸管连接；采样单元，用于采集功率回路单元中的直流母线电流、晶闸管两端电压、晶闸管门极驱动电压以及晶闸管实际工作结温；温控单元，用于调控晶闸管实际运行工况下的环境温度，改变晶闸管实际工作结温；驱动单元，与晶闸管相连，用于驱动晶闸管工作；结温检测单元，用于测量晶闸管门极电流信号，并提取门极电流信号随时间的积分，得到输入晶闸管门极的电荷数；以及在晶闸管由正向导通状态切换至导通状态的瞬态过程中提取门极电流信号的峰值；根据晶闸管工作结温计算模型得到晶闸管工作结温，实现晶闸管工作结温的非接触式测量。
一种接触晶闸管工作在线检测系统方法

[发明专利]一种多参数融合的电力电子器件结温估计方法及系统-CN202210250392.1在审
发明人：徐国卿;潘正云;向大为;肖正炜;佘辰;赵晖;吴天宜 -专利权人：煤炭工业合肥设计研究院有限责任公司;上海大学
申请日： 2022-03-15 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种多参数融合的电力电子器件结温估计方法及系统，涉及电力电子器件健康管理领域，包括对测试电力电子器件进行标定实验；基于测试电力电子器件的标定实验数据，建立关于关断时间的电力电子器件结温估计模型和关于关断损耗的电力电子器件结温估计模型；基于上述电力电子器件结温估计模型，建立关于关断损耗和关断时间的多参数融合的电力电子器件结温估计模型；确定电力电子设备中的目标电力电子器件在运行时的电气参数；基于电气参数和多参数融合的电力电子器件结温估计模型，确定目标电力电子器件的结温。
一种参数融合电力电子器件估计方法系统