专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种提升车规级LED性能的电镀工艺-CN202211589574.8在审
  • 郑建国;张普昆 - 崇辉半导体(江门)有限公司
  • 2022-12-12 - 2023-05-09 - C25D5/12
  • 一种提升车规级LED性能的电镀工艺,包括如下步骤:S1、前处理;S2、:将前处理后的车规级LED基材浸入碱性镀铜液中电沉积;S3、全镀银:将后的车规级LED基材浸入镀银液中电沉积;S4、选镍:将镀银后的车规级LED基材套上选镍模具,置于镍液中电沉积;S5、选:将镍后的车规级LED基材套上选模具,浸入液中电沉积;S6、选镀金:将后的车规级LED基材套上选镀金模具,置于镀金液中本申请选镍可以避免全镍导致的龟裂现象,提高了车规级LED的性能。
  • 一种提升车规级led性能电镀工艺
  • [实用新型]镀金铜线封装硅麦电路线的结构-CN201720858996.9有效
  • 陈贤明 - 深圳市矽格半导体科技有限公司
  • 2017-07-16 - 2018-01-23 - H01L23/49
  • 本实用新型公开了一种镀金铜线封装硅麦电路线的结构,该结构包括PCB板、多个硅麦电路芯片和多条镀金铜线,所述多个硅麦电路芯片均通过对应的固晶胶固定在PCB板上,每条镀金铜线均包括芯和敷设在芯外表面的钯金层;每个硅麦电路芯片上均设置有芯片焊点,且PCB板上设置有引脚焊点,芯片焊点之间通过镀金铜线相焊接,且芯片焊点与镀金铜线的焊接处形成硅‑铝‑钯金‑金属化互连结构,芯片焊点与引脚焊点之间通过镀金铜线相焊接,且引脚焊点与镀金铜线的焊接处形成‑镍‑金‑钯金‑金属化互连结构。本实用新型镀金铜线可作为内引线取代硅麦电路封装中传统的金线,大幅降低了生产成本,且抗氧化效果强。
  • 镀金铜线封装电路键合线结构
  • [发明专利]镀金方法及镀覆膜-CN202010280356.0在审
  • 前田刚志;田边克久;西村直志;金子阳平 - 上村工业株式会社
  • 2020-04-10 - 2020-10-23 - C23C18/42
  • 本发明提供镀金方法及镀覆膜,其防止由于安装等引起的热历程而导致引线特性降低。另外,提供一种即使减少镀金覆膜的膜厚也能防止由于安装等引起的热历程而导致引线特性降低的镀金方法及镀覆膜。一种镀金方法,其特征在于,其是在或铜合金覆膜上使用银催化剂进行镀覆的、用于引线连接的镀金方法,所述方法包括:银催化剂形成工序,其中,为了形成覆膜而形成作为银催化剂的银覆膜;覆膜形成工序,其中,在所述银催化剂上形成覆膜;以及,镀金覆膜形成工序,其中,在在所述覆膜上形成镀金覆膜,所述银覆膜的膜厚为0.05μm~0.5μm。
  • 镀金方法镀覆
  • [发明专利]化学-CN201911199413.6在审
  • 前川拓摩;柴田利明;小田幸典 - 上村工业株式会社
  • 2019-11-29 - 2020-06-09 - C23C18/44
  • 本发明提供即使在浴中不含有氯化物等卤化物也具有镀膜性优异的特性的化学浴。本发明的无卤素的化学浴,其为含有水溶性铂化合物或水溶性化合物、和还原剂的化学浴,所述水溶性铂化合物为四氨铂(II)络盐,但是,除去所述四氨铂(II)络盐的卤化物,所述水溶性化合物为四氨(II)络盐,但是,除去所述四氨(II)络盐的卤化物和硫酸四氨(II),所述还原剂为甲酸或其盐,所述化学浴作为添加剂不含有卤化物。
  • 化学
  • [实用新型]单晶引线磁控溅射镀膜靶组件及设备-CN201220473088.5有效
  • 富之柢 - 富之柢
  • 2012-09-18 - 2013-03-13 - C23C14/35
  • 一种单晶引线磁控溅射镀膜靶组件,包括磁体和阴极靶,其特征在于,所述的阴极靶为内圆筒,其两端与两个法兰密封连接;所述的磁体为至少一个圆环,并套在内圆筒的外周面;在该磁体的外侧套装一与该内圆筒同轴的外圆筒本实用新型的优点是:利用单晶引线磁控溅射镀膜靶组件的圆环形的磁体在其轴线的垂直面上产生一个沿圆周均匀的电磁场,只需要单晶引线沿轴线匀速移动即可在其表面溅射一层均匀的膜;简化了被溅射材料支撑装置的结构
  • 单晶铜键合引线磁控溅射镀膜组件设备
  • [发明专利]单晶的制备方法-CN200810017812.1无效
  • 丁雨田;曹军;胡勇;许广济;寇生中 - 兰州理工大学
  • 2008-03-19 - 2009-09-09 - B21C1/00
  • 单晶的制备方法,所述的单晶的原材料为,其步骤为:采用高真空炉将纯度高于99.995%高纯熔化,升温到1100~1180℃,精炼60~120分钟,整个熔炼过程采用高纯氩气保护,并采用定向凝固方式拉制φ4~φ8mm单晶杆,然后冷加工至φ0.95~φ1.102mm,每道次拉拔加工率为15~25%,然后分为47~70个道次,采用每道次加工率为7.59~17.82%将单晶杆拉制0.020~0.05mm,拉丝时温度为35~45℃,将单晶表面采用超声波清洗,将清洗后的单晶进行热处理,采用H2+Ar2保护,温度为410~425℃,时间为0.7~2.0s
  • 单晶铜键合丝制备方法

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