专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有埋栅结构的氮化基增强耗尽型异质场效应晶体管-CN201410433662.8有效
  • 杜江锋;潘沛霖;陈南庭;于奇 - 电子科技大学
  • 2014-08-29 - 2017-05-10 - H01L29/78
  • 本发明公开了具有埋栅结构的氮化基增强耗尽型异质场效应晶体管,从下至上依次主要由衬底,铝缓冲层,埋栅,埋栅介质层,氮化沟道层,铝势垒层,栅介质层,铝势垒层上的源极和漏极,栅介质层上的栅极组成,所述源极和漏极与铝势垒层形成欧姆接触,所述栅极与栅介质层形成肖特基接触,所述埋栅介质层和埋栅均位于铝缓冲层中,且所述埋栅位于埋栅介质层中。通过埋栅单独偏置,且根据埋栅的不同偏置,实现调控器件的阈值电压;当埋栅处于负偏压时,埋栅耗尽氮化沟道层的二维电子气,使器件实现增强型工作;当埋栅处于零偏压或正偏压时,氮化沟道层中存在二维电子气,使器件实现耗尽型工作
  • 具有结构氮化增强耗尽型异质结场效应晶体管
  • [发明专利]薄膜的制备方法-CN202310897320.0在审
  • 梁锋;赵德刚;刘宗顺;杨静 - 中国科学院半导体研究所
  • 2023-07-20 - 2023-10-24 - H01L21/02
  • 本发明提供一种薄膜的制备方法,涉及半导体技术领域,方法包括:步骤A:在衬底生长至少一层初始氮化层;步骤B:在初始氮化层上生长一层层;步骤C:基于目标策略对层进行处理,在处理后的层上再生长一层层;目标策略包括以下至少一项:升高温度至退火温度,对层进行保温退火处理;降低温度至层的生长温度;或者,在层通入目标气体,目标气体用于去除层中的富区;步骤D:重复执行步骤C,直至各所述层的总厚度达到预设阈值,或者各所述层的质量达到预设阈值,生成薄膜。通过上述方法,可有效降低薄膜表面V型缺陷的密度及大小,改善厚层薄膜质量。
  • 铟镓氮薄膜制备方法

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