专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体圆破裂的发生率降低方法-CN202110982250.X在审
  • 藤濑淳;小野敏昭;多久岛武 - 胜高股份有限公司
  • 2021-08-25 - 2022-03-01 - G01N3/08
  • 提出圆制造工序或元件形成工序中降低半导体圆破裂的发生率的方法。是抑制半导体圆破裂的发生率的方法,其特征在于,在从半导体锭制造半导体圆而在被制造的半导体圆上形成半导体元件的工艺中,在第1工序和第2工序之间具备第3工序,在前述第1工序中,在上述半导体圆处会形成伤痕,在前述第2工序中,对经过该第1工序的半导体圆施加应力而半导体圆会破裂,在前述第3工序中,进行弯曲试验来判定半导体圆是否破裂,将未破裂的半导体圆向前述第2工序搬运,前述弯曲试验为,将与上述第2工序中对半导体圆施加的应力对应的应力对半导体圆施加
  • 半导体破裂发生率降低方法
  • [发明专利]半导体超薄堆叠结构的制造方法-CN202110544381.X在审
  • 邱志威 - 邱志威
  • 2021-05-19 - 2022-11-22 - H01L21/60
  • 一种半导体超薄堆叠结构的制造方法,包含以离子注入形成停止层结构于半导体基板内,再于半导体基板的主动面设置电气元件及内连层,以形成半导体圆;将两半导体圆的内连层相对且上下接合在一起;以背面研磨及薄化制程自上方半导体圆的背面去除上方半导体圆的部分半导体基板及停止层结构,使上方半导体圆形成薄化半导体圆,之后逐一在薄化半导体圆进行另一半导体圆的接合、背面研磨及薄化制程,而逐一往上堆叠另一薄化半导体圆,最后对最下方半导体圆进行背面研磨及薄化制程。此制造方法可堆叠多层薄化半导体圆,满足高积集度要求。
  • 半导体超薄堆叠结构制造方法
  • [发明专利]纳米结构及其制造方法-CN03821285.4有效
  • 拉尔斯·伊瓦尔·塞缪尔森;约纳斯·比约恩·奥尔松 - BTG国际有限公司
  • 2003-07-08 - 2005-10-12 - C30B11/12
  • 通过采用具有不同带隙的不同材料形成须的长度部分,将共振隧穿二极管和其它一维电子、光子结构以及机电MEMS装置制成纳米须中的异质结构。因此,共振隧穿二极管包括纳米须,该纳米须在其一端具有籽晶颗粒熔融体并具有纳米尺寸的恒定直径的柱,从而展现出量子局限效应,该柱包括:分别包含发射极和集电极的第一和第二半导体部分、位于第一和第二半导体部分之间的第三和第四部分以及位于第三和第四部分之间并形成量子阱的第五中央部分,其中,第三和第四部分的材料具有不同于第一和第二半导体部分的带隙,第五中央部分的半导体材料具有不同于第三和第四部分的带隙。RTD通过一种方法制成,该方法包括:在衬底上沉积颗粒,并将该籽晶颗粒暴露于处于温度和压力控制条件下的材料中,从而用该籽晶颗粒形成熔融体,因此,该籽晶颗粒在柱的顶端爬升,以形成纳米须,该纳米须的柱具有纳米尺寸的恒定直径;在柱的生长过程中,有选择地改变所述气体的组分,从而不连续地改变该柱在沿着其长度区域中的材料组分,并同时维持外延生长,其中,所述部分的材料之间的晶格失配通过边界处的须沿径向向外膨胀得以调适。
  • 纳米结构及其制造方法
  • [发明专利]一种半导体圆的清洗方法-CN201710879304.3在审
  • 江富杰;张飞凡 - 合肥新汇成微电子有限公司
  • 2017-09-26 - 2018-03-13 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种半导体圆的清洗方法,包括以下步骤提供半导体圆,半导体圆的正面涂布一层光刻胶;向半导体圆正面的光刻胶注入离子掺杂,以硬化该光刻胶;用浓氢氟酸溶剂刻蚀半导体圆背面的层次;去除半导体圆正面的光刻胶;旋转半导体圆并使兆声波发生器从半导体圆边缘向半导体圆中心运动并过半导体圆中心点,在兆声波发生器的运动过程中,改变兆声波发生器在半导体圆表面停留的时间;再向半导体圆的边缘表面喷涂去离子水和稀氢氟酸对所述半导体圆外表面进行清洗;对上述清洗的半导体圆进行吹干处理,吹干处理采用的气体为氮气,所述吹干处理采用的温度范围为45℃~65℃,所述吹干处理采用的时间范围为80s~160s。
  • 一种半导体清洗方法
  • [发明专利]半导体圆的刷洗装置和刷洗方法-CN201410352938.X有效
  • 秦海燕;李儒兴;石强 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2014-07-23 - 2014-12-03 - B08B1/04
  • 本发明提供一种半导体圆的刷洗装置与刷洗方法。半导体圆的刷洗装置中,清洗刷与半导体圆的旋转中心相接触,且清洗刷的轴线在半导体圆上的投影位于非贯穿所述旋转中心的位置处。清洗刷与半导体圆的旋转中心相接触,可以在半导体圆清洗过程中,避免半导体圆中心被遗漏;清洗刷的轴线在半导体圆上的投影位于非贯穿所述旋转中心的位置处,避免使得所述半导体圆的旋转中心始终位于受压最大的位置处,同时提高半导体圆的旋转中心的散热速度,从而可以减少半导体圆旋转中心比其他部分产生更高的热量的问题,进而避免在半导体圆待刷洗表面的中心位置形成厚度过大氧化层造成半导体圆局部被过度氧化的缺陷。
  • 半导体刷洗装置方法
  • [发明专利]飞秒激光微流道液相烧蚀制备半导体纳米的方法-CN201710378912.6有效
  • 冯国英;杨超;周寿桓 - 四川大学
  • 2017-05-25 - 2019-04-23 - C01B19/00
  • 本发明涉及利用飞秒激光微流道液相烧蚀制备半导体纳米的方法。是一种将飞秒激光液相烧蚀技术与微流体技术相结合的制备功能化纳米材料的方法:将飞秒激光聚焦到微流道中流动中的掺杂或本征半导体微米颗粒分散液形成的微流体上,在微流道内部形成烧蚀反应区域,当负载有目标靶材料微米颗粒的分散液经过烧蚀区域时,在微流道内的微小区域内发生烧蚀反应,形成单分散纳米,该纳米分散液立即流入下部收集装置,收集装置中采用纯溶剂作为分散液体,可获得纳米单分散液产物;收集装置中采用表面活性剂溶液作为分散液,可获得具有包覆层的纳米分散液
  • 激光微流道液相烧蚀制备半导体纳米方法

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