专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于宽谱光源的单光子成像激光雷达系统-CN202010061365.0在审
  • 夏海云;赵力杰;窦贤康 - 中国科学技术大学
  • 2020-01-19 - 2020-05-29 - G01S17/89
  • 本发明提供了一种基于宽谱光源的单光子成像激光雷达系统,宽谱光源用于发射宽谱探测处理模块用于从宽谱探测中滤出工作波段的探测,并进行重复频率选择和时域色散;强度调制模块用于将探测分成频率不同的多个探测,并按照时间顺序先后出射多个探测,扫描收发模块用于对多个探测进行空间色散,并结合机械扫描对多个探测进行扫描出射,以形成二维探测点阵,以通过二维探测点阵进行目标探测,并接收目标反射回的探测探测模块用于探测反射回的探测的光子数;成像模块用于根据探测的光子数的数据进行3D成像。由于本发明中通过二维探测点阵进行目标的探测,因此,本发明中的雷达系统的探测视场较大,成像速度较快。
  • 一种基于光源光子成像激光雷达系统
  • [发明专利]探测装置及探测方法-CN202110606696.2在审
  • 朱雪洲;杨晋;曾昭明;陶俊;向少卿;孙恺 - 上海禾赛科技有限公司
  • 2021-05-31 - 2022-11-01 - G01S17/08
  • 本申请提供的探测装置和探测方法,包括:发射器阵列、探测器阵列及控制模块。所述发射器阵列,包括多个发射器;所述发射器被配置成输出发射信号;所述探测器阵列,包括多个探测器;所述探测器被配置成探测所述发射信号遇到障碍物后被反射的回波信号;其中,所述发射器阵列及探测器阵列构成多个探测通道,每个探测通道包括至少一个发射器以及至少一个探测器。在发送发射信号至探测对应的回波信号的一次信号传送过程中,控制模块选择预定的多个发射器同时发光,所述同时发光的多个发射器的视场在探测距离内没有重叠,有效降低探测通道间的串扰。
  • 探测装置方法
  • [实用新型]电池包及电动车-CN201922376285.X有效
  • 周夏荣;孙亚洲;张广平;劳力;周鹏 - 华霆(合肥)动力技术有限公司
  • 2019-12-24 - 2020-09-11 - H01M10/42
  • 该电池包包括电池包状态检测装置,该电池包状态检测装置包括第一探测发射装置及第一探测接收装置;第一探测发射装置设置与第一探测接收装置设置于电池包的预设位置;第一探测发射装置发出的探测与水平方向成预设角度斜射向第一探测接收装置,其中,探测的传播路径存在积水时,探测发生折射,使得第一探测接收装置无法接收到该探测。如此,当电池包内部发生液体泄漏或者液体从电池包的外部进入到电池包的内部时,使得该第一探测发射装置所发射的探测发生折射,继而该第一探测接收装置无法接收到该探测
  • 电池电动车
  • [发明专利]一种光学检测系统和光学检测方法-CN202010278808.1在审
  • 陈鲁;张龙;黄有为 - 深圳中科飞测科技有限公司
  • 2020-04-10 - 2020-06-23 - G01N21/01
  • 本发明提供了一种光学检测系统和光学检测方法,光源模块,用于向待测样品表面出射探测,所述探测经所述待测样品表面后形成信号;检测通道,用于收集所述信号,并根据所述信号获取所述待测样品表面特征的信息;其中,所述探测至少包括第一探测光和第二探测,所述第一探测光和第二探测分别自所述信号出射面的两侧入射至待测样品表面。由于探测至少包括第一探测光和第二探测,且第一探测光和第二探测分别自信号出射面的两侧入射至待测样品表面,因此,可以提高待测样品表面检测区域的光线亮度,从而可以提高光学检测的精度。
  • 一种光学检测系统方法
  • [发明专利]一种金属膜厚度测量装置和方法-CN202310169850.3在审
  • 宋有建;胡春光;董佳琦;胡明列 - 天津大学
  • 2023-02-27 - 2023-06-06 - G01B11/06
  • 本发明公开了一种金属膜厚度测量装置和方法,其中装置中,光源模块出射飞秒激光光束,并由分光模块分为泵浦光和探测两部分,其中,泵浦依次通过泵浦调整模块、泵浦传输模块后,一部分泵浦光通过探测传输接收模块后进入探测样品,一部分泵浦进入功率探测器。探测依次经过延迟模块、探测传输接收模块后进入探测样品,并由待测样品反射的探测,再经由探测传输接收模块接收传输至光电探测器,其中,探测传输接收模块还过滤待测样品反射的泵浦。进而,通过上述测量装置和方法可以使得泵浦光和探测可以共线入射至待测样品。该装置可以实现紧凑空间路或全光纤结构。
  • 一种金属膜厚度测量装置方法

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