专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种实现BN层的光子卷积神经网络芯片-CN202310777543.3在审
  • 丁静雅;胡鹏浩;祝连庆 - 合肥工业大学;北京信息科技大学
  • 2023-06-28 - 2023-10-20 - G06N3/065
  • 本发明提供了一种实现BN层的光子卷积神经网络芯片包括光脉冲发射器、输入数据映射器和卷积核权重映射器,光脉冲发射器,用于生成m行光脉冲,输入数据映射器包括第一阵列,用于对输入的图像数据与光脉冲调制成映射关系,使光脉冲携带图像数据;卷积核权重映射器包括第二阵列,用于对携带图像数据的光脉冲与卷积核权重调制成映射关系,并对光脉冲携带的图像数据进行卷积运算;第二阵列连接平衡探测器,平衡探测器连接至一个跨阻放大器,跨阻放大器连接一个运算放大器。本发明在光子卷积神经网络芯片中实BN层,提高了光子神经网络在任务处理时的准确性,同时与电子神经网络芯片相比,具有更快的速度和更小的功耗的优势。
  • 一种实现bn光子卷积神经网络芯片
  • [发明专利]一种光子卷积神经网络芯片-CN202310770380.6在审
  • 祝连庆;丁静雅;于明鑫;鹿利单 - 北京信息科技大学
  • 2023-06-28 - 2023-10-13 - G06N3/067
  • 本发明提供了一种光子卷积神经网络芯片,包括光脉冲发射器、输入数据映射器和卷积核权重映射器,光脉冲发射器,用于生成m行光脉冲,每一行光脉冲包括n个不同波长的光脉冲,所有光脉冲的光强度相同;输入数据映射器包括第一阵列,用于对输入的图像数据与光脉冲调制成映射关系,使光脉冲携带图像数据;卷积核权重映射器包括第二阵列,用于对携带图像数据的光脉冲与卷积核权重调制成映射关系,并对光脉冲携带的图像数据进行卷积运算;第二阵列连接平衡探测器,平衡探测器连接至一个跨阻放大器。本发明在光子计算芯片上将卷积神经网络算法中卷积层的卷积核权重值从[‑1,1]扩展到整个实数域区间,提高光子混合神经网络对图片数据集的分类准确率。
  • 一种光子卷积神经网络芯片
  • [发明专利]一种微环谐振器权重矩阵的抖动控制方法及系统-CN202310760758.4在审
  • 祝连庆;王帅;鹿利单;董明利;张旭 - 北京信息科技大学
  • 2023-06-27 - 2023-09-15 - G06F17/16
  • 本发明公开一种微环谐振器权重矩阵的抖动控制方法及系统,涉及光调谐技术领域,方法包括:基于输入信号的频率生成设定抖动信号,并将设定抖动信号与输入信号进行混合得到混合信号;基于平衡光电探测器对经过微环谐振器的混合信号进行采集,得到输出信号;基于双工器对经过微环谐振器的混合信号进行采集,得到混合波形;对混合波形进行数字分离,得到与设定抖动信号对应的输出波形;将输出波形与设定抖动信号进行对比,得到微环谐振器的权重矩阵;基于输出信号与实际需求信号进行对比,得到调整参数;基于调整参数对权重矩阵进行调整。本发明计算效率高且提高了微环谐振器权重矩阵的调谐精度。
  • 一种谐振器权重矩阵抖动控制方法系统
  • [发明专利]一种光波导器件及硅光调制器-CN202310760672.1在审
  • 鹿利单;徐英杰;祝连庆;董明利;张旭 - 北京信息科技大学
  • 2023-06-27 - 2023-09-12 - G02B6/293
  • 本发明提供了一种光波导器件及硅光调制器,属于光波导领域,光波导器件包括总线波导、矩形波导及微环;矩形波导固定在总线波导上;矩形波导用于在总线波导中产生相位差;微环与矩形波导相对应,且微环与总线波导之间具有设定的耦合间隙;总线波导上对应微环及矩形波导的区域为耦合区域;输入光场从总线波导的输入端口输入,经耦合区域时耦合入微环谐振腔进行谐振,再从总线波导的输出端口输出。硅光调制器在光波导器件的基础上增加了金属电极、直流电源及光谱仪,金属电极设置在光波导器件的微环上;直流电源用于改变金属电极的电压值,以调制光强。本发明能够使每个共振波长都具有非对称性,提高了光波导器件的性能。
  • 一种波导器件调制器
  • [发明专利]一种发光二极管角度发光的测量系统及测量方法-CN202310466884.9在审
  • 祝连庆;章步琦 - 北京信息科技大学
  • 2023-04-27 - 2023-08-11 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种发光二极管角度发光的测量系统,包括导轨,在所述导轨上依次布置校准模块、发光模块和探测模块;校准模块,用于校准发光模块和探测模块的光轴,使发光模块和探测模块的光轴,与测量光路处于同一直线;发光模块,用于激发发光二极管样品产生激发光,并驱动发光二极管样品旋转;探测模块,用于采集发光二极管样品旋转过程中不同角度的激发光,并测量发光二极管样品不同角度的激发光的光强和光谱。本发明实现发光二极管样品不同角度光强探测,不容易受到OLED中器件材料吸收或反射率变化的影响,对发光二极管样品特征的检测更稳健,保证了测量的精确性。
  • 一种发光二极管角度发光测量系统测量方法

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