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[发明专利]厚度测定装置、厚度测定方法及厚度测定程序-CN201880023362.9有效
发明人：金学成;吴敬焕;金德中;朴桐韵 -专利权人：汉阳大学校产学协力团
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明公开厚度测定装置。所述厚度测定装置可包括接收根据反射模式及透过模式中至少一个模式的太赫兹波的太赫兹波信号处理部、考虑所述第一反射太赫兹波与所述第二反射太赫兹波之间的第二时间差信息获取所述厚度测定对象体的折射率信息的折射率信息获取部及考虑所述折射率信息获取所述厚度测定对象体的厚度信息的厚度信息获取部本发明利用向所述厚度测定对象体照射的太赫兹波获取所述厚度测定对象体的折射率，可利用获取的所述折射率获取所述厚度测定对象体的厚度，因此，能够在短时间内测定所有所述厚度测定对象体的折射率及厚度。
厚度测定装置方法程序

[发明专利]厚度检测装置和厚度检测方法-CN201910810733.4在审
发明人：林永辉;张凯;巨占岳;邓娟;马军伟 -专利权人：威海华菱光电股份有限公司
申请日： 2019-08-29 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本申请提供了一种厚度检测装置和厚度检测方法。公共单元的面积大于检测芯片的面积，保证了检测芯片的检测信号的有效性，且公共单元为可移动的公共单元和/或检测单元为可移动的检测单元，通过移动公共单元和/或检测单元可以将待测物体的各个位置都检测到，无需待测物体与厚度检测装置之间的相对移动，厚度检测准确度较高。
公共单元检测芯片检测可移动厚度检测装置待测物体厚度检测方向垂直间隔设置检测电极检测信号投影覆盖相对移动准确度导电体投影移动申请保证

[实用新型]厚度测量探头及厚度测量装置-CN201721089098.8有效
发明人：李红涛;俞翔 -专利权人：西门子公司
申请日： 2017-08-28 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G01B17/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种厚度测量探头，包括一个安装座、一个超声波触头、一个距离传感器和一个控制装置。安装座能够沿测量方向相对于被测物移动；超声波触头滑动地设置于安装座，且能够被被测物推动相对于安装座滑动，超声波触头在接收到测量信号时测量厚度；距离传感器固设于安装座且能够感测与超声波触头之间的距离并生成距离数据本实用新型的厚度测量探头，能够在测量厚度时与被测物更好的接触，使测量结果更准确。本实用新型还了提供具有上述厚度测量探头的厚度测量装置。
厚度测量探头装置

[发明专利]检测厚度和厚度变化的设备-CN200680012740.0有效
发明人： R·施莱特;J·曼哈特 -专利权人： BEB工业电子股份公司
申请日： 2006-05-05 - 公布日： 2008-05-14 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种设备，该设备的基本特征在于：当通过导向元件(1，2)输送平面物体、尤其是有价票据时，由具有导电元件(7)的一个或者多个平面空心线圈(6)对一个或者多个第二导向元件(2)相对于第一导向元件(1)的偏移进行检测。由此产生磁交变场，该磁交变场受到导电元件(7)的位置变化的影响。所述交变场在导电元件(7)中产生涡流，该涡流又反过来影响交变场。当平面线圈作为LC振荡电路的组成元件时，该振荡电路的共振频率和衰减特性受到影响。在激励频率恒定不变时，振荡振幅发生变化。
检测厚度变化设备

[实用新型]厚度表-CN200620017866.4无效
发明人：姚军 -专利权人：姚军
申请日： 2006-08-21 - 公布日： 2007-10-17 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：一种厚度表，包括：底座；第一测量脚，枢转连接在该底座上；第二测量脚，固定连接在该底座上；摇杆，枢转连接在该底座上，该摇杆的自由端设有齿牙结构；摆杆，该摆杆的一端枢转连接于该第一测量脚，该摆杆的另一端枢转连接于该摇杆本实用新型的厚度表的两个测量脚点接触的夹持在产品的两侧，即可测量出产品该点处的厚度，不受产品形状的局限，完成测量方便而准确。
厚度

[实用新型]厚度尺-CN200720080741.0无效
发明人：吴承旺;黄慧茜 -专利权人：吴承旺
申请日： 2007-08-11 - 公布日： 2008-07-02 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测量物体厚度的厚度尺，由带有刻度的外壳、主轴、上下活叶联接组成。当测量物体时，施力者对主轴上端施加力，通过主轴传力使上、下活叶张开到达一定位置时，移动厚度尺与被测物体接触，从而使之达到与被测物体端对齐，能更准确测出物体厚度的目的，进行读数，得出结果。该厚度尺可以方便的测量物体的厚度；结构简单，制造方便；材料普通，成本低廉，方便在任意条件下使用。
厚度

[外观设计]厚度计-CN201830313978.2有效
发明人：刘鉴威;邝丽华 -专利权人：广东裕泰实业有限公司
申请日： 2018-06-19 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：厚度计；2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测量物品厚度的厚度计；3．本外观设计产品的设计要点：在于产品整体形状；4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。
外观设计厚度计测量物品整体形状图片

[外观设计]厚度仪-CN202130868475.3有效
发明人：陈桂远 -专利权人：广州市博睿仪器科技有限公司
申请日： 2021-12-29 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：厚度仪。2.本外观设计产品的用途：用于厚度仪。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
厚度

[发明专利]厚度测量装置和厚度测量方法-CN201710105804.1在审
发明人：本胁淑雄 -专利权人：发那科株式会社
申请日： 2017-02-24 - 公布日： 2017-10-31 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：无论移动装置的动作精度如何，都能够高精度地对测量对象物的厚度进行测量。提供一种厚度测量装置(1)，其包括机架(4)，其包括用于设置测量对象物的设置面(2)和相对于设置面(2)隔开间隔并与其大致平行的对置面(3)；测距装置(5)，能够分别测量完全相反的两个方向到物体的距离；
厚度测量装置测量方法

[发明专利]厚度测定装置以及厚度测定方法-CN201910414006.6在审
发明人：森本晃一;佐佐木勇贵;秋山薰 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2019-05-17 - 公布日： 2019-11-26 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种厚度测定装置及方法，谋求提高测定配置于一对探头间的基板厚度的厚度测定装置的测定精度。该装置包括：第一探头，输出与到测定对象的表面的距离相关的第一测定信号；第二探头，输出与到测定对象的背面的距离相关的第二测定信号；运算部，计算出配置于第一探头与第二探头之间的测定试样的厚度。运算部在第一探头与第二探头间配置有基准试样的状态下，基于第一测定信号算出第一距离，基于第二测定信号算出第二距离，在第一探头与第二探头间配置有测定试样的状态下，基于第一测定信号算出第三距离，基于第二测定信号算出第四距离，将基准试样的厚度、第一距离和第二距离设为加法要素，将第三距离和第四距离设为减法要素，算出测定试样的厚度。
探头测定信号厚度测定装置测定对象基准试样配置运算部输出基板减法加法

[发明专利]厚度测量装置和厚度测量方法-CN201910634245.2在审
发明人：梁海飞;张曜矿 -专利权人：明门（中国）幼童用品有限公司
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本发明公开一种厚度测量装置包括扭力测试仪和厚度测量仪，扭力测试仪与厚度测量仪的调节部可拆卸的对接卡合连接，扭力测试仪转动同步地带动调节部转动，调节部的转动使厚度测量仪的夹持部的夹持间隙逐渐变化。另，本发明也公开了一种厚度测量方法，(1)提供厚度测量装置；(2)通过连接件将扭力测试仪和厚度测量仪连接；(3)将被测物件放入夹持部夹持间隙中；(4)旋转扭力测试仪使被测物逐渐被夹持部夹持，直至扭力测试仪扭力达特定值时停止旋转扭力测试仪；(5)读取厚度测量仪即得被测物件厚度。通过此厚度测量装置和厚度测量方法能对被测物件施加特定压力的同时测定在特定压力下的被测物件的厚度，达到精确测量且实现标准化的效果。
厚度测量装置测量方法

[发明专利]厚度测量装置及厚度测量方法-CN202210019117.9在审
发明人：丰田一贵;泽村义巳 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2017-01-23 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有：第一透光构件，其具有第一参照面；第二透光构件，其与第一透光构件相向设置，具有第二参照面；第一投光部，其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之间的试样照射来自光源的光；第一受光部
厚度测量装置测量方法

[发明专利]涂层厚度可控的涂层厚度去除方法-CN202210884179.6在审
发明人：王烜烽;郭芳民 -专利权人：西门子燃气轮机部件（江苏）有限公司
申请日： 2022-07-25 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： B24C1/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种涂层厚度可控的涂层厚度去除方法，所述涂层包括满涂层厚度区和减薄区，所述满涂层厚度区和所述减薄区具有不同的涂层厚度，所述涂层厚度去除方法依次包括：S10：基于所述减薄区的厚度与目标厚度之间的差值ΔT和吹砂工艺参数确定吹砂循环次数；S20：基于所述吹砂循环次数对所述减薄区进行吹砂，直到所述减薄区的厚度与所述目标厚度之间的差值小于或等于单次吹砂的涂层去除厚度为止；S30：通过打磨处理所述减薄区的涂层厚度直到目标厚度通过本发明的涂层厚度可控的涂层厚度去除方法，针对同一部件或产品的表面具有不同涂层厚度的情况，在保证涂层厚度的精度和重复性的同时，实现了可控且精确地去除涂层厚度。
涂层厚度可控去除方法

[发明专利]厚度测量装置及厚度测量方法-CN202310218114.2在审
发明人：陈雅馨;董诗浩;李仲禹 -专利权人：上海精测半导体技术有限公司
申请日： 2023-03-08 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供一种厚度测量装置及厚度测量方法，厚度测量装置包括：光源，形成入射至样品的第一表面的入射光束，所述入射光束在所述第一表面反射形成反射光束，所述入射光束透射所述样品并在所述样品的第二表面散射形成散射光束其中所述第一表面和所述第二表面相背；合束模块，将所述反射光束以及所述散射光束合束为相干光束；反射光路，将所述反射光束导入所述合束模块；散射光路，将所述散射光束导入所述合束模块；探测模块，用以获取所述相干光束，以得到所述样品的厚度本申请实现了对一个表面为光面、另一个相对表面为粗糙面的样品厚度的高精度测量。
厚度测量装置测量方法

[发明专利]厚度测定装置及厚度测定方法-CN202180075251.4在审
发明人：大森征一;鸠昌洋;盐田朋彦 -专利权人：株式会社IHI
申请日： 2021-11-17 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01B17/02 文献下载
摘要：厚度测定装置(100)具备：超声波发送器(110)，其能够向测定对象物(S)发送超声波；超声波接收器(120)，其能够接收由测定对象物反射的超声波；第一提取部(214)，其从超声波接收器接收到的超声波即接收波中提取在测定对象物的第一面进行了反射的第一反射波其从接收波中提取多个在测定对象物的第二面进行了反射的第二反射波的候补；一致度计算部(218)，其针对多个候补分别计算第一反射波与候补的一致度；候补决定部(220)，其从多个候补中将一致度最大的候补决定为第二反射波；以及厚度计算部(222)，其基于超声波接收器中的第一反射波的接收时刻与候补决定部决定的第二反射波的接收时刻，来计算测定对象物的厚度。
厚度测定装置方法

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