专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]长效防腐物理性降-CN201010109273.1有效
  • 付佳 - 昆明宇恬科技工程有限公司
  • 2010-02-11 - 2010-06-23 - H01B1/00
  • 本发明公开了一种长效防腐物理性降剂,旨在解决解决了传统膨润土在干旱及冻土地质条件下不能应用的问题,本发明的长效防腐物理性降剂各种组分及重量百分比为:吸水树脂凝胶5%-50%,导电性材料石墨15%-60%,活性炭5%-30%、钠基膨润土10%-60%,导电水泥15%-50%.本发明长效防腐物理性降剂达到下列技术指标:降剂电阻率(干)≤0.95Ω·m、降剂电阻率(湿)≤0.35Ω·m、pH值7.5~9.5、吸水率≥50%、纯降剂圆钢腐蚀≤0.019mm/a、纯降剂扁钢腐蚀≤0.016mm/a。本发明的长效防腐物理性降剂可在常温常压下生产,原材料价廉易得,具有降性能优越、长时效、成本、防腐蚀、无毒、无污染、综合技术经济效益好等优点。
  • 长效防腐物理性降阻剂
  • [发明专利]获取变器件导电通道分布的方法-CN202310263816.2在审
  • 吴华强;孙雯;高滨;唐建石 - 清华大学
  • 2023-03-17 - 2023-07-07 - G01R31/00
  • 本申请公开了获取变器件导电通道分布的方法,该方法包括提供变器件,该器件具有多个阵列排布的变器件单元;调控变器件的外界电压,剥离第一阵列电极层和/或第二阵列电极层暴露变层,获得不同的待测变器件单元;扫描不同的待测变器件单元的变层的表面信息,以获得不同的待测变器件单元的电流分布;对变层进行平面取样,获得待测平面;令待测平面沿轴向旋转,扫描待测平面多个不同角度的结构信,对结构信息二维数据集进行三维重构,获得不同的待测变器件单元的微观结构三维分布。由此,可以获得阵列级别变器件导电通道的电流分布与导电通道的微观结构的三维分布之间的对应关系。
  • 获取器件导电通道分布方法
  • [发明专利]一种用于RS-485收发器的高控制电路-CN202110249715.0有效
  • 顾永兴 - 苏州灵天微半导体科技有限公司
  • 2021-03-08 - 2022-06-21 - H04B1/40
  • 本发明涉及一种用于RS‑485收发器的高控制电路,包括RS‑485输出驱动模块和高控制模块;所述RS‑485输出驱动模块的总线输出级电性连接有NPN三极管和PNP三极管,所述高控制模块用于在RS‑485输出驱动模块使能关闭时,使得NPN三极管和PNP三极管均截止;本发明所述的一种用于RS‑485收发器的高控制电路,采用三极管作为总线输出级和高控制模块,在A/B共模电平‑7v~12v范围内,控制RS‑485收发器在使能关闭时,其输出呈现高,大幅度提升了总线A/B两个输出端口的ESD电压,满足了绝大部分场合应用。
  • 一种用于rs485收发高阻态控制电路
  • [发明专利]一种支持非易失“与非”逻辑的三端忆器及实现方法-CN201710174064.7有效
  • 杨玉超;殷明慧;张腾;黄如 - 北京大学
  • 2017-03-22 - 2019-04-02 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种支持非易失“与非”逻辑的三端忆器及实现方法。本发明采用底电极、变层和顶电极形成MIM纳米堆垛结构,再覆盖绝缘调制层,在绝缘调制层上形成调制电极;只有在调制电极和顶电极同时施加高电压时,两个叠加电场共同作用,变层中的离子发生输运,形成局域的导电通道,导致电阻降低,由高转变为,逻辑运算的结果通过电阻状态以非易失的形式存储在三端忆器当中,从而实现非易失“与非”逻辑功能;本发明中的非易失“与非”逻辑门实现仅需单个三端忆器,有利于提高非易失电路集成密度此外,本发明涉及的三端忆器制备工艺与传统CMOS工艺相兼容。
  • 一种支持非易失逻辑三端忆阻器实现方法
  • [发明专利]变存储器的操作方法及变存储器装置-CN201610045713.9在审
  • 王晨;吴华强;钱鹤;高滨 - 清华大学
  • 2016-01-22 - 2016-06-29 - G11C13/00
  • 一种变存储器的操作方法及变存储器装置。该方法包括如下步骤:对变存储器阵列中的存储单元施加初始重置电压;进行读校验操作,以获取所述存储单元的阻值;判断所述存储单元的所述阻值是否达到预设的目标阻值;如果所述存储单元的阻值大于等于所述目标阻值,则结束所述方法;如果所述存储单元的阻值小于所述目标阻值,则向所述存储单元施加置位电压,以将所述存储单元置位到在的目标阻值,然后对所述存储单元再次施加幅值升高的重置电压,并重复所述读校验操作及之后的步骤采用本发明的方法,可有效缓解变存储器的高快速弛豫现象。
  • 存储器操作方法装置

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