[发明专利]屏蔽栅沟槽型功率MOSFET器件在审
申请号: | 202210143978.8 | 申请日: | 2022-02-17 |
公开(公告)号: | CN114188410A | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 周振强 | 申请(专利权)人: | 绍兴中芯集成电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/78 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
地址: | 312000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供一种屏蔽栅沟槽型功率MOSFET器件,在屏蔽栅的两侧设置浮空栅,使得没有大面积的屏蔽栅与漂移区直接通过介质层组成电容,在相同耐压、相同导通电阻下,漏源电容可以做得更小,降低了开关损耗,提高了器件的效率。进一步的,本发明中屏蔽栅底部与顶部相对于浮空栅有适当长度的外露,在相同偏压下,将设置浮空栅对漂移区耗尽效果的影响降到更低,减小了对器件耐压性能影响。 | ||
搜索关键词: | 屏蔽 沟槽 功率 mosfet 器件 | ||
【主权项】:
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