[发明专利]屏蔽栅沟槽型功率MOSFET器件在审

专利信息
申请号: 202210143978.8 申请日: 2022-02-17
公开(公告)号: CN114188410A 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 周振强 申请(专利权)人: 绍兴中芯集成电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/78
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 312000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种屏蔽栅沟槽型功率MOSFET器件,在屏蔽栅的两侧设置浮空栅,使得没有大面积的屏蔽栅与漂移区直接通过介质层组成电容,在相同耐压、相同导通电阻下,漏源电容可以做得更小,降低了开关损耗,提高了器件的效率。进一步的,本发明中屏蔽栅底部与顶部相对于浮空栅有适当长度的外露,在相同偏压下,将设置浮空栅对漂移区耗尽效果的影响降到更低,减小了对器件耐压性能影响。
搜索关键词: 屏蔽 沟槽 功率 mosfet 器件
【主权项】:
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