[发明专利]存储器件的读取操作中的基于开放块的读取偏移量补偿有效

专利信息
申请号: 202180000807.3 申请日: 2021-03-11
公开(公告)号: CN113168879B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 郭晓江;J·H·康;何有信 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34;G11C16/26;G11C5/02
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 于景辉;李文彪
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 公开了存储器件的读取操作中的基于开放块的读取偏移量补偿。例如,一种存储器件包括布置在多个块中的存储单元阵列、以及耦合到存储单元阵列的外围电路。该外围电路被配置为响应于多个块中的块是开放块而使用补偿读取电压对块中的存储单元阵列中的存储单元执行读取操作。补偿读取电压相对于块的默认读取电压具有偏移量。
搜索关键词: 存储 器件 读取 操作 中的 基于 开放 偏移 补偿
【主权项】:
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