[发明专利]抛光垫、其制备方法及使用其制备半导体器件的方法有效

专利信息
申请号: 202011178119.X 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112809549B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 尹晟勋;许惠暎;徐章源 申请(专利权)人: SKC索密思株式会社
主分类号: B24B37/26 分类号: B24B37/26;B24B37/24;B24D18/00;B24B37/10;B24B47/12
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 王卫彬
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了一种抛光垫、其制备方法及使用其制备半导体器件的方法。实施方案涉及一种用于半导体的化学机械平坦化(CMP)工艺的抛光垫、其制备方法以及使用该抛光垫制备半导体器件的方法。在根据本实施方案的抛光垫中,调节多个孔的尺寸(或直径)和分布,从而可以进一步提高抛光性能例如抛光速率和晶圆内非均匀性。
搜索关键词: 抛光 制备 方法 使用 半导体器件
【主权项】:
暂无信息
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