[发明专利]半导体结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010574610.8 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN112420837A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 黄则尧 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 李晔;李琛
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开提供一种半导体结构及其制备方法。该半导体结构具有一基底;一漏极,配置在该基底中;一漏极接触点,配置在该漏极中;一源极,配置在该基底中;一源极接触点,配置在该源极中;一栅极结构,配置在该漏极与该源极之间,具有一底部;一通道,配置在该栅极结构的该底部,连接该漏极与该源极;一漏极应力源,配置在该漏极中并位于该栅极结构与该漏极接触点之间;一漏极应变硅层,配置在该基底中,并围绕该漏极应力源,且连接该通道;一源极应力源,配置在该源极中,并位于该源极接触点与该栅极结构之间;以及一源极应变硅层,配置在该基底中,并围绕该源极应力源,且连接该通道。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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