[发明专利]逆导型IGBT器件及制备方法有效
申请号: | 202010002643.5 | 申请日: | 2020-01-02 |
公开(公告)号: | CN113066850B | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 黄宝伟;肖秀光;吴海平;陈刚 | 申请(专利权)人: | 比亚迪半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/739;H01L21/331 |
代理公司: | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人: | 姚章国 |
地址: | 518119 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请公开了一种逆导型IGBT器件及制备方法,包括漂移层和设置在漂移层上表面的正面结构,漂移层下表面设置有缓冲层,缓冲层内设有多个空腔区;缓冲层表面设有导电层,空腔区与导电层之间设有间隙,导电层由而背面第一导电类型区和背面第二导电类型区间隔设置,背面第二导电类型区设置在空腔区下方,导电层表面设有集电极层。根据本申请实施例提供的技术方案,通过在缓冲层内设置空腔区,且将空腔区设置在背面第二导电类型区的上方,形成电流散射中心,使背面第二导电类型区的空穴在IGBT开通时能以更快的速度注入IGBT的漂移层,能够明显消除电压折回现象。 | ||
搜索关键词: | 逆导型 igbt 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
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