[发明专利]一种阶跃低折射率Al2O3薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201910939322.5 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN110527955A 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 兰云萍;邹永刚;马晓辉;范杰;赵鑫;王小龙 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: C23C14/30 分类号: C23C14/30;C23C14/08;C23C14/02;C23C14/54;C23C14/58
代理公司: 11430 北京市诚辉律师事务所 代理人: 范盈<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 130022 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及光学薄膜技术领域,具体涉及一种阶跃低折射率Al2O3薄膜的制备方法。主要包括以下步骤:1)取一硅片,清洁后放入氮气柜中待用;2)使用电子束蒸发镀膜机,在坩埚中添加Al2O3颗粒,并将硅片放入腔室中;3)设定Al2O3薄膜生长的初始真空度;4)在薄膜沉积之前,去除硅片表面的杂质;5)采用晶振测量控制系统,Al2O3薄膜的沉积厚度为300nm;6)设定Al2O3薄膜的沉积速率,进行Al2O3薄膜的生长沉积。本发明Al2O3薄膜的制备方法和后处理方法都比较简单,采用电子束蒸发工艺,有利于降低成本,实现薄膜的大规模生产应用。
搜索关键词: 薄膜 沉积 硅片 放入 制备 电子束蒸发镀膜机 光学薄膜技术领域 电子束蒸发工艺 测量控制系统 初始真空度 后处理 薄膜沉积 薄膜生长 低折射率 硅片表面 氮气柜 阶跃 晶振 腔室 坩埚 去除 清洁 生长 应用
【主权项】:
1.一种阶跃低折射率Al2O3薄膜的制备方法,其特殊之处在于,包括以下步骤:/n1)取一硅片,清洁后放入氮气柜中待用;/n2)使用电子束蒸发镀膜机,在坩埚中添加纯度为99.9%的Al2O3颗粒,并将硅片放入腔室中;/n3)设定Al2O3薄膜生长的初始真空度为4.0×10-4Pa;/n4)在薄膜沉积之前,先采用等离字体对硅片进行120s的轰击,以去除硅片表面的杂质;/n5)采用晶振测量控制系统,Al2O3薄膜的沉积厚度为300nm;/n6)设定Al2O3薄膜的沉积速率分别为0.2nm/s~0.5nm/s,进行Al2O3薄膜的生长沉积。/n
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