[发明专利]具有以间距间隔开的漏极选择栅极电极的三维存储器器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201880041368.9 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN110770912A 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: J·凯;J·阿尔斯梅尔;S·亚达;A·赛;S·长峰;T·奥里莫托;T·张 申请(专利权)人: 闪迪技术有限公司
主分类号: H01L29/66 分类号: H01L29/66;H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 11245 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 赵志刚
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供了一种存储器堆叠结构阵列,所述存储器堆叠结构阵列延伸穿过衬底上方的绝缘层和导电层的交替堆叠。包括圆筒形电极部分的漏极选择层级组件阵列在所述交替堆叠上方形成为具有与所述存储器堆叠结构阵列相同的周期性。可将所述漏极选择层级组件用作自对准模板来在一对相邻的漏极选择层级组件之间形成包括介电材料的漏极选择层级隔离条带。另选地,圆筒形电极部分可形成在每个存储器堆叠结构的上部部分周围。在形成所述漏极选择层级隔离条带之后,在圆筒形电极部分上形成条带电极部分。
搜索关键词: 层级 漏极 存储器 堆叠结构 圆筒形电极 交替堆叠 隔离条 绝缘层 介电材料 条带电极 延伸穿过 组件阵列 导电层 自对准 衬底
【主权项】:
1.一种三维存储器器件,包括:/n绝缘层和导电层的交替堆叠,所述绝缘层和所述导电层的所述交替堆叠定位在衬底上方;/n存储器堆叠结构阵列,所述存储器堆叠结构阵列延伸穿过所述交替堆叠并且被布置成沿第一水平方向延伸且沿第二水平方向间隔开的行,其中每一个所述存储器堆叠结构包括存储器膜以及接触所述存储器膜的内侧壁的存储器层级沟道部分;/n漏极选择层级组件阵列,所述漏极选择层级组件阵列覆盖所述交替堆叠并且具有与沿所述第一水平方向和所述第二水平方向的所述存储器堆叠结构阵列相同的周期性,其中每一个所述漏极选择层级组件包括接触相应存储器层级沟道部分的漏极选择层级沟道部分;/n漏极选择栅极电极,所述漏极选择栅极电极横向围绕漏极选择层级组件的相应行;和/n漏极选择层级隔离条带,所述漏极选择层级隔离条带包括至少一个介电材料并且位于一对相邻的漏极选择栅极电极之间。/n
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