[发明专利]芯片封装方法及封装结构有效

专利信息
申请号: 201610944773.4 申请日: 2016-11-02
公开(公告)号: CN108022845B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 陈彧 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L23/488
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种芯片封装方法及封装结构。本发明提供的芯片封装方法,包括:形成第一芯片;形成第二芯片,在所述第二芯片的背面形成第一沟槽;通过粘接层使得所述第二芯片结合在第一芯片上,所述粘接层充满所述第一沟槽;形成连接所述第一芯片与第二芯片的焊线。由此获得的封装结构,能够使得芯片厚度变大,而粘接层厚度变小,在确保整体封装结构厚度不变的情况下,避免了芯片过薄导致的破碎、翘曲等异常;并且通过粘接层充满在沟槽中,能够使得芯片之间的结合更加牢固。
搜索关键词: 芯片 封装 方法 结构
【主权项】:
1.一种芯片封装方法,包括:形成第一芯片;形成第二芯片,在所述第二芯片的背面形成第一沟槽;通过粘接层使得所述第二芯片结合在第一芯片上,所述粘接层充满所述第一沟槽;形成连接所述第一芯片与第二芯片的焊线。
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