[发明专利]一种斜场板功率器件及斜场板功率器件的制备方法在审
申请号: | 201410440179.2 | 申请日: | 2014-09-01 |
公开(公告)号: | CN104332498A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 李元;裴轶;刘飞航 | 申请(专利权)人: | 苏州捷芯威半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L29/40;H01L21/335 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 路凯;胡彬 |
地址: | 215123 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种斜场板功率器件及斜场板功率器件的制备方法,所述器件包括衬底,位于衬底上的多层半导体层,位于多层半导体层上的源极、漏极以及位于源极和漏极之间的栅极;位于栅极上和栅极与源极和漏极之间的多层半导体层上的介质层,所述介质层上存在凹槽,所述凹槽的侧面具有倾斜度,位于凹槽内壁上的斜场板结构。本发明使得功率器件表面不再产生明显的高尖峰电场,消除了易击穿区域,提高了功率器件整体的耐压性并改善了功率器件的高频特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 斜场板 功率 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种斜场板功率器件,其特征在于,所述器件包括衬底;位于所述衬底上的多层半导体层;位于所述多层半导体层上的源极、漏极以及位于源极和漏极之间的栅极;位于所述栅极上和栅极与源极之间、栅极与漏极之间的多层半导体层上的介质层;位于所述栅极与漏极之间的介质层上的凹槽,所述凹槽的侧面具有倾斜度;位于所述凹槽内壁上的斜场板结构。
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