[发明专利]一种新型功率器件结构在审

专利信息
申请号: 201410216641.0 申请日: 2014-05-22
公开(公告)号: CN105097925A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: 徐帆;花银东;蒋乐乐 申请(专利权)人: 上海北京大学微电子研究院
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出了一种新的SOI LDMOS器件结构,该结构包括半导体衬底层,介质埋层,顶层硅以及场氧层。其中介质埋层采用低K介质材料,顶层硅中漂移区采用分区梯级掺杂,漂移区上表面淀积场氧层,器件栅、漏级采用场板技术。
搜索关键词: 一种 新型 功率 器件 结构
【主权项】:
一种新的绝缘体上硅横向双扩散金属氧化物半导体场效应管(SOI LDMOS)结构,包括埋氧层,漂移区以及位于漂移区上表面的场氧层,其特征在于,埋氧层采用低K介质材料,漂移区采用梯级掺杂,场氧层的厚度于埋氧层厚度近似。
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