[发明专利]半导体封装结构与其制造方法在审

专利信息
申请号: 201310066620.0 申请日: 2013-03-01
公开(公告)号: CN104022086A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 粘为裕;黄国峰 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/34 分类号: H01L23/34;H01L23/31
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 赵根喜;吕俊清
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明的目的在于提供一种半导体封装结构与其制造方法,所述半导体封装结构包括基板、至少一电子元件、加热层、绝缘层以及电磁遮蔽层。基板包括第一接垫以及第二接垫,电子元件装设于基板上,加热层位于电子元件之上,且提供一热能至电子元件,且加热层与第一接垫以及第二接垫电性连接,电磁遮蔽层位于加热层之上,而绝缘层位于加热层与电磁遮蔽层之间。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 与其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体封装结构,其特征在于该半导体封装结构包括:基板,包括第一接垫以及第二接垫;至少一电子元件,装设于该基板上;加热层,位于该电子元件的四周及上方,该加热层提供热能至该电子元件,且该加热层与该第一接垫以及该第二接垫电性连接;以及电磁遮蔽层,位于该加热层的外侧;绝缘层,位于该加热层与该电磁遮蔽层之间。
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