[发明专利]一种具有横向p-n结复合缓冲层结构的氮化镓基异质结场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 201210341509.3 申请日: 2012-09-14
公开(公告)号: CN102832241A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 杜江锋;赵子奇;马坤华;尹江龙;张新川;罗谦;于奇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/812;H01L29/06
代理公司: 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 代理人: 孙国栋
地址: 610054 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种具有横向p-n结复合缓冲层结构的氮化镓基异质结场效应晶体管,属于半导体器件领域。其结构从下到上主要包括有衬底,氮化铝(AlN)成核层,氮化镓(GaN)沟道层,氮化铝(AlN)插入层,势垒层以及势垒层上形成的源极,漏极和栅极,其中源极和漏极与势垒层形成欧姆接触,栅极与势垒层形成肖特基接触,在氮化镓(GaN)沟道层和氮化铝(AlN)成核层之间还设有横向p-n结复合缓冲层以抑制缓冲层内的载流子输运,降低器件缓冲层泄漏电流,提升器件击穿电压与输出功率。
搜索关键词: 一种 具有 横向 复合 缓冲 结构 氮化 镓基异质结 场效应 晶体管
【主权项】:
一种具有横向p‑n结复合缓冲层结构的氮化镓基异质结场效应晶体管,从下到上主要包括有衬底(209),氮化铝(AlN)成核层(208),氮化镓(GaN)沟道层(206),氮化铝(AlN)插入层(205),势垒层(204)以及势垒层(204)上形成的源极(201),漏极(202)和栅极(203),其中源极(201)和漏极(202)与势垒层(204)形成欧姆接触,栅极(203)与势垒层(204)形成肖特基接触,其特征在于:在氮化镓(GaN)沟道层(206)和氮化铝(AlN)成核层(208)之间还设有一层由n型铝铟镓氮(n‑AlxInyGazN)和p型铝铟镓氮(p‑ AlxInyGazN)横向排列复合而成的缓冲层,简称横向p‑n结复合缓冲层(207)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210341509.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top