[发明专利]非平面化半导体结构及其工艺在审
申请号: | 201110270877.9 | 申请日: | 2011-09-14 |
公开(公告)号: | CN103000687A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 蔡世鸿;林建廷;简金城;林进富;刘志建;蔡腾群;吴俊元 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种非平面化半导体结构及其工艺,该非平面化半导体结构包括基底、至少二鳍状结构、至少一绝缘结构以及多个外延层。鳍状结构位于基底上。绝缘结构位于鳍状结构之间,且绝缘结构具有含氮层。外延层分别覆盖部分鳍状结构,并位于含氮层上。 | ||
搜索关键词: | 平面化 半导体 结构 及其 工艺 | ||
【主权项】:
一种非平面化半导体结构,包括:基底;至少二鳍状结构,位于该基底上;至少一绝缘结构,位于该多个鳍状结构之间,且该绝缘结构具有含氮层;以及多个外延层,分别覆盖部分该多个鳍状结构,并位于该含氮层上。
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