[发明专利]制造半导体部件的方法和半导体部件无效
申请号: | 02141346.0 | 申请日: | 2002-06-07 |
公开(公告)号: | CN1395314A | 公开(公告)日: | 2003-02-05 |
发明(设计)人: | V·莱曼;A·舒伯特 | 申请(专利权)人: | 因芬尼昂技术股份公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 联邦德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种制造半导体部件的方法,它有下述特征提供一个半导体基体(100),它具有第一和第二表面(101,102);在半导体基体(100)内制造多个微孔(103),它们从第一表面(101)开始延伸进入半导体基体(100),并且在第二表面(102)下面结束;在微孔(103)区增加半导体基体(100)的导电性。此外本发明还涉及半导体部件。 | ||
搜索关键词: | 制造 半导体 部件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造半导体部件的方法,其特征在于:-提供一个半导体基体(100),它具有第一和第二表面(101,102),-在半导体基体(100)内制造多个微孔(103),它们从第一表面(101)开始延伸进入半导体基体(100),并且在第二表面(102)下面结束,-在微孔(103)的区域增加半导体基体(100)的导电性。
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