专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]封装结构、线路板及电子设备-CN202222295672.2有效
  • 吴政达;沈明皓 - 成都奕斯伟系统集成电路有限公司
  • 2022-08-30 - 2023-01-31 - H01L23/485
  • 本申请提供的封装结构、线路板及电子设备中,所述封装结构包括:芯片,芯片的一面设置有芯片引脚;包裹芯片的第一封装层,第一封装层暴露出芯片引脚;位于第一封装层暴露出芯片引脚一侧层叠设置的至少两个重布线层,相邻重布线层之间通过第二封装层相互电性隔离,相邻的重布线层中至少部分扇出线路通过贯穿第二封装层的通孔电性连接;靠近第一封装层的重布线层中的至少部分扇出线路与暴露出的芯片引脚电性连接。通过在进行芯片封装时即制作至少两个重布线层,实现多层扇出。如此,可以将具有多层扇出的封装结构采用面朝下的方式与基板连接,并且多个重布线层之间没有焊球连接,保证了信号或能量传递的效果。
  • 封装结构线路板电子设备
  • [发明专利]用于改善键合工艺气泡不良的方法-CN202211363954.X在审
  • 江俊波;黄文杰;张康;吴政达;沈明皓 - 成都奕斯伟系统集成电路有限公司
  • 2022-11-02 - 2023-01-20 - H01L21/50
  • 本发明公开了用于改善键合工艺气泡不良的方法,涉及芯片制备领域,包括S1在芯片的钝化开启层上镀一层牺牲材料形成牺牲层;S2将芯片采用面朝下的方式转移键合到载板上,牺牲层与载板接触;S3在载板上进行塑封和键合工艺;S4翻转载板,对接触芯片与载板之间进行解键合工艺;S5去除牺牲层,使芯片的管脚暴露出来;S6在芯片上进行重布线层工艺;牺牲层可以覆盖芯片的管脚,避免了管脚暴露在空气中造成氧化,改善键合工艺中气泡不良的工艺问题;同时降低了工艺要求的边界,如如材料流动性要求和键合温度压力要求等;可以通过控制牺牲层镀膜厚度,消除电磁的最高水平面与芯片的最高水平面之间存在台阶风险,降低重布线层工艺绕线层的缺陷风险。
  • 用于改善工艺气泡不良方法
  • [实用新型]一种阳极结构及镀层装置-CN202122263788.3有效
  • 高漩;沈明皓 - 成都奕斯伟系统集成电路有限公司
  • 2021-09-17 - 2022-01-07 - C25D17/12
  • 本申请实施例提供的阳极结构及镀层装置,涉及电镀技术领域。其中,在阳极结构中,第一阳极部分的第一侧面与第二侧面之间的厚度不变,第二阳极部分与第三阳极部分的第一侧面与第二侧面之间的厚度沿远离第一阳极部分的方向逐渐变小,上述阳极结构与待镀阴极正对时,在阳极结构由中心向边缘延伸的方向,阳极结构与待镀阴极之间的距离逐渐增大,如此可以减弱阳极结构与待镀阴极在边缘区域的电场强度,使得阳极与待镀阴极在正对区域内具有均一的电场分布,从而可以确保在电镀时能在待镀阴极的表面形成一厚度均匀的金属镀层。
  • 一种阳极结构镀层装置

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