[发明专利]耐高压恒流源器件及制造方法有效

专利信息
申请号: 200810028999.5 申请日: 2008-06-24
公开(公告)号: CN101299439A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 吴纬国 申请(专利权)人: 广州南科集成电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L23/36;H01L29/41;H01L21/336
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510663广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 高压 恒流源 器件 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种耐高压恒流源器件,包括P型硅衬底(1),形成于所述硅衬底(1)正面的氧化层(6),位于所述氧化层(6)正面的漏极金属(2)、源极金属(3)、栅极金属(4),其特征在于:所述耐高压恒流源器件还包括植入到所述硅衬底(1)中的P+衬底接触区(51)、N+漏区(52)、N+源区(53),连接所述N+漏区(52)与所述N+源区(53)之间的N-沟道区(54),将所述N+漏区(52)包围起来的N-漏区(92),所述氧化层(6)上有若干个漏极通孔(82)、源极通孔(83),所述漏极金属(2)填充若干个所述漏极通孔(82)并与所述N+漏区(52)相连接,所述源极金属(3)填充若干个所述源极通孔(83)并分别与所述N+源区(53)、所述P+衬底接触区(51)相连接,所述源极金属(3)、所述栅极金属(4)通过连接金属(34)相电连接,所述栅极金属(4)的垂直正投影区域的周边落入所述N+漏区(52)、所述N-漏区(92)以及所述N+源区(53)的垂直正投影区域的边缘。

2.根据权利要求1所述的耐高压恒流源器件,其特征在于:所述耐高压恒流源器件还包括N-源区(93),所述N-源区(93)将所述N+源区(53)包围,所述栅极金属(4)的垂直正投影区域的周边落入所述N-源区(93)的垂直正投影区域的边缘。

3.根据权利要求1或2所述的耐高压恒流源器件,其特征在于:所述耐高压恒流源器件还包括P+沟道保护区(94),所述P+沟道保护区(94)将所述N-沟道区(54)与所述硅衬底(1)隔开。

4.根据权利要求1或2所述的耐高压恒流源器件,其特征在于:所述硅衬底(1)的背面还设有由一层或多层金属构成的散热层(7)。

5.根据权利要求1或2所述的耐高压恒流源器件,其特征在于:所述漏极金属(2)、所述源极金属(3)、所述栅极金属(4)为铝或铜或硅铝合金。

6.一种用于制造权利要求1所述的耐高压恒流源器件的方法,其特征在于:包括以下步骤:

(a)形成氧化层保护膜:将P型硅衬底(1)在氧化炉管内采用湿氧法热氧化生长出厚度为1000~3000埃的第一氧化层,即形成氧化层保护膜;

(b)形成N+漏区、N+源区、N-漏区:在光刻机上利用第一N+光刻掩模版进行光刻,再用含HF的腐蚀液对所述第一氧化层进行蚀刻;在高温扩散炉管内对所述硅衬底(1)的正面掺杂N型杂质磷离子,或者用离子注入法将杂质磷离子注入所述硅衬底(1)中;然后在光刻机上利用第二N+光刻掩模版进行光刻,再用含HF的腐蚀液对所述第一氧化层进行蚀刻;再用离子注入法将砷离子注入所述硅衬底(1)中;然后在高温下将磷离子和砷离子同时驱入,利用磷离子和砷离子扩散速度的不同形成主要由砷离子构成的所述N+漏区(52)、所述N+源区(53)及主要由磷离子构成的所述N-漏区(92),驱入同时形成一层第二氧化层;

(c)形成P+衬底接触区:在光刻机上利用P+光刻掩模版进行光刻,再用含HF的腐蚀液对所述第一氧化层及所述第二氧化层进行蚀刻;然后将硼离子或二氟化硼P型掺杂注入所述硅衬底(1)内,再予以高温驱入,形成所述P+衬底接触区(51),驱入同时形成一层第三氧化层;

(d)形成栅极氧化层:在光刻机上利用栅极氧化层光刻版进行光刻,再用含HF的腐蚀液对所述第一氧化层、所述第二氧化层及所述第三氧化层进行蚀刻;然后将所述硅衬底(1)在氧化炉管内采用干氧或湿氧法热氧化生长出厚度为500~2000埃的第四氧化层,即形成栅极氧化层;

(e)形成N-沟道区:用离子注入法将磷离子注入所述N+漏区(52)与所述N+源区(53)之间的所述硅衬底(1)中,再进行回火,形成所述N-沟道区(54);

(f)形成金属层:在光刻机上利用接触孔光刻掩模版进行光刻,再对所述第四氧化层进行蚀刻,形成所述漏极通孔(82)、所述源极通孔 (83);然后以溅射或蒸镀的方法沉积金属层,再在光刻机上利用金属层光刻掩模版进行光刻,再对所述金属层进行蚀刻,形成所述漏极金属(2)、所述源极金属(3)、所述栅极金属(4)及所述连接金属(34)。

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