专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]随机接入方法、装置及通信设备-CN202110096649.8在审
  • 王洲;薛丽霞;刘云;徐海博 - 华为技术有限公司
  • 2021-01-25 - 2022-05-27 - H04W72/04
  • 随机接入方法包括:用户设备UE接收SUL配置信息,SUL配置信息中包括多个SUL、与多个SUL分别匹配的多个SDL、以及SDL测量配置信息;根据SDL测量配置信息测量多个SDL的参考信号强度;根据多个SDL的参考信号强度从多个SDL中选择至少一个第一SDL,从至少一个第一SDL中选择第二SDL,在至少一个第一SDL中第二SDL的参考信号强度最高;从第二SDL对应的SUL发起随机接入。通过网络设备配置多个成对的SUL和SDL,UE可以测量SDL的参考信号强度,并根据SDL的参考信号强度选择SUL发起随机接入,使得UE可以根据选择的策略区别不同的SUL。
  • 随机接入方法装置通信设备
  • [发明专利]软件安全开发生命周期实施质量评价方法及装置-CN201911185730.2在审
  • 姜强;孙亚明;汤志刚;胡云 - 北京国舜科技股份有限公司
  • 2019-11-27 - 2020-04-10 - G06F8/10
  • 本发明实施例提供一种软件安全开发生命周期实施质量评价方法及装置,所述方法包括:获取每一过程符合度评价要素的取值和每一结果符合度评价要素的取值;其中,所述过程符合度评价要素表征软件安全开发生命周期SDL实施过程的质量,所述结果符合度评价要素表征SDL实施结果的质量;根据每一过程符合度评价要素的取值和每一结果符合度评价要素的取值,利用预设的加权求和算法,计算SDL实施质量的评价值。本发明实施例提供的软件安全开发生命周期实施质量评价方法及装置,通过过程符合度和结果符合度两个维度共同组合确定SDL实施质量的高低,更加全面、科学的对SDL项目实施质量进行评价,提高了软件系统的安全性和可靠性
  • 软件安全开发生命周期实施质量评价方法装置
  • [发明专利]在光记录介质中记录数据的方法与装置-CN99801224.6有效
  • 李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 - LG电子株式会社
  • 1999-07-15 - 2000-11-22 - G11B20/18
  • 具体地说,本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息,从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机而且,当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时,不执行线性替代,LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项,从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据
  • 记录介质数据方法装置
  • [发明专利]扫描耗尽激光显微镜-CN202110825071.5在审
  • 霍素国 - 霍素国
  • 2021-07-21 - 2022-02-18 - G02B21/00
  • 提出了两种类型的扫描耗尽激光(SDL)显微镜,以获得由艾里斑和反振幅环状体构成的耗尽纳米射束,以用于获得高分辨率纳米级图像、纳米级光刻和纳米级光信息存储。提出的第一类型的SDL(SDL‑1)采用由艾里斑透镜和相对1800相移环状透镜组成的1800相移透镜单元,以在通过激光射束后在样品表面上形成耗尽纳米射束。提出的第二类型的SDL(SDL‑II)已经采用两个1800相移激光交叉射束来分别通过零相移透镜单元的环状透镜单元和艾里斑透镜,以在样品表面上形成耗尽纳米射束。
  • 扫描耗尽激光显微镜

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