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[发明专利]立体显微镜、光学装置及利用其的光路形成方法-CN201880050131.7在审
发明人：李撰权;朴容澈;高有利 -专利权人：株式会社高永科技
申请日： 2018-04-09 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： G02B21/22 文献下载
摘要：本发明涉及医疗用显微镜领域。根据本发明的一实施例的一种连接于用于形成对象体的断层影像的OCT(Optical Coherence Tomography，光学相干断层扫描)单元的立体显微镜，包括：物镜部，由具有规定大小的使用口径的多个镜头构成；一对第一倍率镜头部，由各自具有位于物镜部的使用口径内的一对倍率镜头使用口径的多个镜头构成；第二倍率镜头部，具有在物镜部的使用口径内与倍率镜头使用口径单独配置的OCT(Optical Coherence Tomography，光学相干断层扫描)使用口径的多个镜头构成；光转达部，从OCT单元接收光并转达至第二倍率镜头部，且将从第二倍率镜头部接收的光转达至OCT单元，其中第二倍率镜头部，将从光转达部接收的光向对象体照射，且将从对象体反射的光转达至光转达部。
立体显微镜光学装置利用形成方法

[发明专利]向/从记录介质写入或再生数据的方法和装置-CN200410059374.7有效
发明人： 朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2005-01-19 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：公开了一种用于向/从记录介质写入或再生数据的方法，所述记录介质包括用于管理缺陷区的缺陷管理区，所述方法包括：确定将要写入的数据是否是实时数据；以及当数据是实时数据时，执行把数据像原来一样写入遇到的缺陷块上或跳过缺陷块并把数据写入下一正常块上。还公开了一种用于向/从记录介质写入或再生数据的装置以及该记录介质。
记录介质写入再生数据方法装置

[发明专利]用于缺陷管理信息的数据结构-CN200410047213.6有效
发明人：李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2004-11-17 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：一种用于缺陷管理信息的数据结构，该缺陷管理信息被记录在光记录介质上或者将由再现或记录设备记录到光记录介质上或从光记录介质再现，其中，该缺陷管理信息包括第一、第二或第三项目的至少一个，第一项目表示用备用块替换缺陷块且备用块的位置已指定，第二项目表示不替换缺陷块且备用块的位置已指定或保持不变，以及第三项目表示不替换缺陷块且备用块的位置未指定。
用于缺陷管理信息数据结构

[发明专利]光记录介质以及管理光记录介质缺陷区的方法-CN03149002.6有效
发明人：李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2004-09-29 - 主分类号： G11B20/10 文献下载
摘要：本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息，从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且，当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时，不执行线性替代，LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项，从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此，本发明有效提高了对盘片的管理效率。
记录介质以及理光缺陷方法

[发明专利]光记录介质以及管理光记录介质缺陷区的方法-CN03149003.4有效
发明人：李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2004-09-29 - 主分类号： G11B20/10 文献下载
摘要：本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息，从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且，当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时，不执行线性替代，LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项，从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此，本发明有效提高了对盘片的管理效率。
记录介质以及理光缺陷方法

[发明专利]光纪录介质和缺陷管理方法-CN200410007499.5有效
发明人：李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2004-09-15 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于把数据记录到光记录介质上或从中读出数据的装置，所述装置包含：光拾取器，用于把数据写入光记录介质或从中读出数据；以及控制器，用于控制数据的记录或读出操作，以根据待写入或读出的数据是实时数据还是非实时数据和/或是否剩余有备用区的替代块，用光记录介质的备用区的替代块替代缺陷块或不用光记录介质的替代块替代缺陷块。
纪录介质缺陷管理方法

[发明专利]向/从光记录介质记录或再生数据的方法-CN03131312.4有效
发明人： 朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2004-05-12 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：公开了一种用于向光记录介质实时记录数据并从光记录介质实时回放数据的方法及管理其文件的方法。在本发明中，主机通过在提供写入命令之前提供要求关于缺陷区的信息的信号给用于向/从光记录介质记录/回放数据的装置来控制实时数据的写入。因此，基于返回的关于缺陷区的信息产生写入命令，使得数据不被写在缺陷区上。另一种情况是，可首先提供写入命令给用于向/从光盘记录/回放数据的装置，该装置则返回关于缺陷区的信息。从而基于返回的关于缺陷区的信息，主机产生并提供新的写入命令，使得数据不被写入在缺陷区上。
记录介质再生数据方法

[发明专利]向/从光记录介质写入或再生数据的方法-CN03142434.1有效
发明人： 朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2004-03-17 - 主分类号： G11B20/10 文献下载
摘要：公开了一种用于向光记录介质实时记录数据并从光记录介质实时回放数据的方法及管理其文件的方法。在本发明中，主机通过在提供写入命令之前提供要求关于缺陷区的信息的信号给用于向/从光记录介质记录/回放数据的装置来控制实时数据的写入。因此，基于返回的关于缺陷区的信息产生写入命令，使得数据不被写在缺陷区上。另一种情况是，可首先提供写入命令给用于向/从光盘记录/回放数据的装置，该装置则返回关于缺陷区的信息。从而基于返回的关于缺陷区的信息，主机产生并提供新的写入命令，使得数据不被写入在缺陷区上。
记录介质写入再生数据方法

[发明专利]实时记录／回放数据的方法及管理其文件的方法-CN99801227.0有效
发明人： 朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2004-02-04 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：公开了一种用于向光记录介质实时记录数据并从光记录介质实时回放数据的方法及管理其文件的方法。在本发明中，主机通过在提供写入命令之前提供要求关于缺陷区的信息的信号给用于向/从光记录介质记录/回放数据的装置来控制实时数据的写入。因此，基于返回的关于缺陷区的信息产生写入命令，使得数据不被写在缺陷区上。另一种情况是，可首先提供写入命令给用于向/从光盘记录/回放数据的装置，该装置则返回关于缺陷区的信息。从而基于返回的关于缺陷区的信息，主机产生并提供新的写入命令，使得数据不被写入在缺陷区上。
实时记录回放数据方法管理文件

[发明专利]在光记录介质中记录数据的方法与装置-CN99801224.6有效
发明人：李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 1999-07-15 - 公布日： 2000-11-22 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法,用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说,本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息,从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且,当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时,不执行线性替代,LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项,从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此,本发明有效提高了对盘片的管理效率。
记录介质数据方法装置

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